一种液晶面板缺陷检测方法及其系统技术方案

本发明专利技术公开了一种液晶面板缺陷检测方法及其系统。液晶面板缺陷检测方法包括步骤：基准图像制作，待检测液晶面板图像制作，识别待检测液晶面板各区域，鉴别缺陷，以及统计缺陷像素数量。液晶面板缺陷检测系统包括API检测装置、拍照镜头、马达、背光区和支撑结构，其中拍照镜头包括偏光片、感光元件。本发明专利技术的检测方及其系统，可自动进行过曝拍照和图像对比检测，同时能实现毛刺检查机台所有功能，从而通过仅增加少量生产节拍就能实现液晶面板缺陷检测工序，有效减少整体生产周期，降低设备成本和人力成本，检测准确率更加可控，从而提高检测可靠性。

A Defect Detection Method and System for LCD Panel

The invention discloses a defect detection method for liquid crystal panel and a system thereof. The defect detection method of LCD panel includes steps: making reference image, making image of LCD panel to be detected, identifying each area of LCD panel to be detected, identifying defects, and counting the number of defective pixels. The defect detection system of LCD panel includes API detection device, photographic lens, motor, backlight area and support structure. The photographic lens includes polarizer and photosensitive element. The detection method and system of the invention can automatically carry out over-exposure photography and image contrast detection, and realize all functions of the burr inspection machine, thereby realizing the defect detection process of the liquid crystal panel by adding only a small amount of production rhythm, effectively reducing the overall production cycle, reducing the cost of equipment and manpower, and more controllable detection accuracy, thereby improving the detection reliability.

【技术实现步骤摘要】
一种液晶面板缺陷检测方法及其系统
本专利技术涉及液晶面板缺陷检测
，尤其是涉及一种液晶面板缺陷检测方法及其系统。
技术介绍
现行液晶显示屏(LiquidCrystalDisplay，LCD)产业中针对切割后的液晶面板边缘主要使用专业的毛刺检查(Burrcheck)设备来检测产品的边缘切割质量，确认有无破边(Chipping)、凸边凸角、平衡度不佳等缺陷。其中常用的检测方式为使用API(ApplicationProgramInterface，应用程序接口)检测系统进行检测，其寻找液晶显示面板中的AA(ActiveArea，有效显示区域)显示区的方法为采样白画面，相机过曝，结合软件透过灰阶差区分密封(Seal)区与AA显示区后，人工检查各区域缺陷。该检测方式需另行购置专业毛刺检查机台、产品传送设备，这在一定程度上增加了生产成本。进一步的，其最终需人工检测，而人工检测的准确率不可控，可靠性相对较低，而且检测工序周期长。因此，确有必要来开发一种新型的检测方法及其系统，来克服现有技术中的缺陷。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术提供了一种液晶面板缺陷检测方法及其系统，可自动进行过曝拍照和图像对比检测，同时包含API检测装置，能实现毛刺检查机台所有功能，从而可以通过仅增加少量生产节拍就能实现液晶面板缺陷检测工序，有效减少整体生产周期，降低设备成本和人力成本，检测准确率更加可控，从而提高检测可靠性。本专利技术的一个实施方式提供了一种液晶面板缺陷检测方法，所述检测方法包括：S1、基准图像制作步骤，采集基准液晶面板各区域图像，对所述图像进行几何校正及滤波处理，作为对比基准图像，通过软件透过灰阶差区分出所述采集到的各区域图像中的背光(Backlight，BL)区和液晶面板区的边缘界限，记录每一区域像素灰阶值，界定各区域灰阶值范围；S2、待检测液晶面板图像制作步骤，以过曝状态采集待检测液晶面板图像，并获得各区域的灰阶值范围；S3、识别待检测液晶面板各区域步骤，将所述待检测液晶面板各区域图像与所述基准图像进行对比分析，根据所述基准图像各区域灰阶值范围识别所述待检测液晶面板图像中的各区域进而获知其背光区和液晶面板区；S4、鉴别缺陷步骤，分析识别出的所述检测液晶面板区域图像四边的直线度，并与所述基准图像相应位置作比对，当两者的差值超过预定数值时，则认为所述待检测液晶面板存在缺陷，其中所述预定数值在0.1～0.5mm范围内。进一步的，其中检测出的所述缺陷包括切割精度异常缺陷，其为对比待检测液晶面板图像与对比基准图像的边缘界限，计算所述待检测液晶面板图像中与对比基准图像中面板相应各边的边长偏差值，当任一边长偏差值大于所述预定数值时，其属于切割精度异常缺陷；其中所述预定数值在0.15～0.5mm范围内。进一步的，其中检测出的所述缺陷包括切凸边凸角缺陷，其为计算待检测液晶面板图像与对比基准图像中相应面板各边的距离，当所述待检测液晶面板区任一边突出所述对比基准面板区相应边的距离数值大于所述预定数值时，其属于凸边凸角缺陷；其中所述预定数值在0.1-0.25mm范围内。进一步的，其中检测出的所述缺陷包括破片缺陷，其为计算待检测液晶面板图像与对比基准图像中面板相应各边的距离，当所述待检测液晶面板区任一边缩进所述对比基准面板区相应边的距离数值大于所述预定数值时，其属于破片缺陷；其中所述预定数值在0.1-0.25mm范围内。进一步的，液晶面板缺陷检测方法还包括步骤：S5、统计缺陷像素数量步骤，在处理单元计算待检测液晶面板与对比基准面板的差异像素点数量，当所述差异像素点数量大于5时，为待检测液晶面板缺陷像素数量，根据所述待检测液晶面板缺陷像素数量的大小划分缺陷等级。进一步的，其中步骤S5所述根据所述待检测液晶面板缺陷像素数量的大小划分缺陷等级具体包括：按照步骤S4所述切割精度异常缺陷、凸边凸角缺陷、破片缺陷分别统计计算得出所述待检测液晶面板缺陷像素数量；或，按照步骤S4所述所述切割精度异常缺陷、凸边凸角缺陷、破片缺陷求和计算得出所述待检测液晶面板缺陷像素数量；或，按照步骤S4所述切割精度异常缺陷、凸边凸角缺陷、破片缺陷加权求和计算得出所述待检测液晶面板缺陷像素数量。采用缺陷的类别分别计算的方式可实现不同类别缺陷分别统计，采用缺陷的类别求和计算的方式可统计总的缺陷区域大小便于快速鉴别，采用缺陷的类别加权求和计算可根据不同权重对照影响程度来设置。进一步的，其中步骤S2所述以过曝状态采集待检测液晶面板图像的方式是将拍照镜头上的偏光效果去除，使其呈现过曝状态，从而拍摄获得待检测液晶面板图像。进一步的，其中所述将拍照镜头上的偏光效果去除的方式是通过马达驱动所述拍照镜头上的偏光片移开，或通过马达驱动所述拍照镜头上的偏光片的上偏光片或下偏光片旋转90度，使上偏光片与下偏光片偏振方向平行而不具有偏光效果。本专利技术的一个实施方式提供了一种液晶面板缺陷检测系统，包括API检测装置、拍照镜头、马达、背光区和支撑结构。其中所述API检测装置用于处理接收的数据和输出处理结果。所述拍照镜头用于拍摄获得对比基准图像和待检测液晶面板图像并将所述图像数据发送给所述API检测装置，所述拍照镜头包括偏光片(Polarizer，POL)、感光元件；所述马达用于将拍照镜头上的偏光片移动；所述背光装置用于拍摄时提供背光源，所述背光装置定义的背光区的中心与所述拍照镜头相对设置；所述支撑结构位于所述背光装置的周围，所述支撑结构围成的区域范围与所述背光装置定义的背光区相对设置。其中，采用马达控制可根据节拍时间周期来设定转动偏光片的时机，从而更智能和自动化。支撑结构围成的区域范围与所述背光区相对设置可以使拍照镜头不受支撑结构的影响，把背光区拍摄完整，能更好的识别分析。背光区在拍摄时提供的背光源可将待检测液晶面板的边缘照亮，使待检测液晶面板图像制作时过曝状态采集待检测液晶面板图像边缘更清晰。本专利技术的有益效果是：本专利技术提供了一种液晶面板缺陷检测方法及其装置，可自动进行过曝拍照和图像对比检测，同时包含API检测装置，能实现毛刺检查机台所有功能，从而可以通过仅增加少量生产节拍就能实现液晶面板缺陷检测工序，有效减少整体生产周期，降低设备成本和人力成本，检测准确率更加可控，从而提高检测可靠性。附图说明图1为本专利技术第一实施例的液晶面板缺陷检测方法的流程图；图2为本专利技术第二实施例的液晶面板缺陷检测方法的流程图；图3为本专利技术第三实施例的待检测液晶面板图像与基准图像对比示意图；图4为本专利技术第四实施例的液晶面板缺陷检测系统主视图；图5为本专利技术第五实施例的液晶面板缺陷检测系统俯视图。图中部件标识如下：1、背光区，2、液晶面板区，3、凸边凸角，4、破片，5、切割精度异常，6、拍照镜头，7、马达，8、支撑结构，9、背光装置，21、密封区，22、AA显示区，61、偏光片，62、感光元件。具体实施方式本专利技术的一个实施方式提供了液晶面板缺陷检测方法，请参阅图1、图3所示，所述检测方法包括：S1、基准图像制作步骤，采集基准液晶面板各区域图像，对所述图像进行几何校正及滤波处理，作为对比基准图像，通过软件透过灰阶差区分出所述采集到的各区域图像中的背光区1和液晶面板区2的边缘界限，记录每一区域像素灰阶值，界定各区域灰阶值范围。其中，液本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：S1、基准图像制作步骤，采集基准液晶面板各区域图像，对所述图像进行几何校正及滤波处理，作为对比基准图像，通过软件透过灰阶差区分出所述采集到的各区域图像中的背光区和液晶面板区的边缘界限，记录每一区域像素灰阶值，界定各区域灰阶值范围；S2、待检测液晶面板图像制作步骤，以过曝状态采集待检测液晶面板图像，并获得各区域的灰阶值范围；S3、识别待检测液晶面板各区域步骤，将所述待检测液晶面板各区域图像与所述基准图像进行对比分析，根据所述基准图像各区域灰阶值范围识别所述待检测液晶面板图像中的各区域进而获知其背光区和液晶面板区；S4、鉴别缺陷步骤，分析识别出的所述检测液晶面板区域图像四边的直线度，并与所述基准图像相应位置作比对，当两者的差值超过预定数值时，则认为所述待检测液晶面板存在缺陷，其中所述预定数值在0.1～0.5mm范围内。

【技术特征摘要】
1.一种液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：S1、基准图像制作步骤，采集基准液晶面板各区域图像，对所述图像进行几何校正及滤波处理，作为对比基准图像，通过软件透过灰阶差区分出所述采集到的各区域图像中的背光区和液晶面板区的边缘界限，记录每一区域像素灰阶值，界定各区域灰阶值范围；S2、待检测液晶面板图像制作步骤，以过曝状态采集待检测液晶面板图像，并获得各区域的灰阶值范围；S3、识别待检测液晶面板各区域步骤，将所述待检测液晶面板各区域图像与所述基准图像进行对比分析，根据所述基准图像各区域灰阶值范围识别所述待检测液晶面板图像中的各区域进而获知其背光区和液晶面板区；S4、鉴别缺陷步骤，分析识别出的所述检测液晶面板区域图像四边的直线度，并与所述基准图像相应位置作比对，当两者的差值超过预定数值时，则认为所述待检测液晶面板存在缺陷，其中所述预定数值在0.1～0.5mm范围内。2.根据权利要求1所述的液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，步骤S4中检测出的所述缺陷包括切割精度异常缺陷，其为对比待检测液晶面板图像与对比基准图像的边缘界限，计算所述待检测液晶面板图像中与对比基准图像中面板相应各边的边长偏差值，当任一边长偏差值大于所述预定数值时，其属于切割精度异常缺陷；其中所述预定数值在0.15～0.5mm范围内。3.根据权利要求1所述的液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，步骤S4中检测出的所述缺陷包括切凸边凸角缺陷，其为计算待检测液晶面板图像与对比基准图像中相应面板各边的距离，当所述待检测液晶面板区任一边突出所述对比基准面板区相应边的距离数值大于所述预定数值时，其属于凸边凸角缺陷；其中所述预定数值在0.1-0.25mm范围内。4.根据权利要求1所述的液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，步骤S4中检测出的所述缺陷包括破片缺陷，其为计算待检测液晶面板图像与对比基准图像中面板相应各边的距离，当所述待检测液晶面板区任一边缩进所述对比基准面板区相应边的距离数值大于所述预定数值时，其属于破片缺陷；其中所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张沛，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44