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本发明公开了一种液晶面板缺陷检测方法及其系统。液晶面板缺陷检测方法包括步骤：基准图像制作，待检测液晶面板图像制作，识别待检测液晶面板各区域，鉴别缺陷，以及统计缺陷像素数量。液晶面板缺陷检测系统包括API检测装置、拍照镜头、马达、背光区和支撑...
该专利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华星光电半导体显示技术有限公司授权不得商用。

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