晶振片检测机视像检测机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种晶振片检测机视像检测机构，包括控制中心、工作台、设置于工作台上的入料传送机构及分度机构，所述工作台上设有位于入料传送机构及分度机构间的视像检测孔，所述视像检测孔中设置有安装座，所述安装座上设有上座板及下座板，所述下座板上装有摄像头，且所述上座板上装有用于给摄像头提供光线的光源，通过上述结构在抓取转送机构的吸盘吸附晶振片放到电极检测机构上的过程中通过摄像头拍摄出位置图像，然后将图像数据传送入控制中心与预设的正确的位置图像进行对比，如果发现有偏差，控制中心能够控制抓取转送机构进行精准微调，从而保证最后通过真空吸盘吸附的晶振片能够准确放入电极检测机构的检测槽中。

Video Inspection Mechanism of Crystal Vibrator Inspector

The utility model discloses a video detection mechanism of a crystal wafer detector, which comprises a control center, a worktable, a feeding conveying mechanism and a grading mechanism arranged on the worktable. The worktable is provided with a video detection hole between the feeding conveying mechanism and the grading mechanism. The video detection hole is provided with a mounting seat. The mounting seat is provided with an upper seat plate and a lower seat plate. The lower seat plate is equipped with a camera, and the upper seat plate is equipped with a light source for providing light to the camera. During the process of grabbing the sucker of the transfer mechanism and putting the crystal plate on the electrode detection mechanism, the position image is taken by the camera, and then the image data is transmitted to the control center to compare with the preset correct position image, if any deviation is found. Poor, the control center can control the grab and transfer mechanism to fine-tune accurately, so as to ensure that the crystal wafer adsorbed by the vacuum sucker can be accurately placed in the detection tank of the electrode detection mechanism.

【技术实现步骤摘要】
晶振片检测机视像检测机构
本技术涉及一种，特别是一种晶振片检测机视像检测机构。
技术介绍
晶振片主要应用在膜厚控制仪器领域，薄薄圆圆的晶振片来源于石英块，经过反复的切割和研磨，石英块最终被做成一堆薄薄的石英片，每个石英片经切边、抛光和清洗，最后镀上金属电极成为晶振片，适用于不同应力膜料的镀膜控制。目前的加工工艺不能保证所有的晶振片都是合格的，因而难免会出现少部分有瑕疵的晶振片，为了将这些有瑕疵的晶振片挑出就必须通过检测，以前都是通过人工将晶振片取出然后放入一个带圆形槽的铜座中固定，铜座中具有三个凸起的触点，触点与晶振片接触，且该触点与导体检测设备连接，检测设备加载检测电流于晶振片上，然后通过收集加载了检测电流的晶振片上所产生的负载阻抗及电容等各项参数与预定的参数进行对比，从而判定晶振片是否合格。上述过程比较耗费时间，因而单位时间检测的晶振片数量少；而且在检测拿取过程中，容易造成晶振片表面划伤。综上所述，以前的检测工艺耗费了大量人力及时间，也相应大大增加了企业的成本。因而我们设计了一款能够自动检测晶振片的晶振片检测机来解决上述问题，晶振片检测机通过装有晶振片的载盘运送到入料传送机构的入料工作位处，用于将位于入料工作位的晶振片吸取到分度机构上的电极检测机构上，用于检测位于分度机构中的晶振片，然后通过抓取转送机构将检测后的晶振片从分度机构吸取出并送到出料工作位，最后通过出料传送机构将位于出料工作位的晶振片吸取到空载盘中。在上述过程中，有时晶振片与载盘中的载孔卡的太紧，抓取转送机构的真空吸盘在吸附晶振片会使载盘震动，而使载盘中余下的晶振片偏离，从而导致入料传送机构不能将晶振片准确送到分度机构上的电极检测机构中的检测圆孔中，因而本申请人在载盘与分度机构间设置了视像检测机构来纠正上述位置的偏离错误。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，本技术提供一种晶振片检测机视像检测机构。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：晶振片检测机视像检测机构，包括控制中心、工作台、设置于工作台上的入料传送机构及分度机构，其特征在于：所述工作台上设有位于入料传送机构及分度机构间的视像检测孔，所述视像检测孔中设置有安装座，所述安装座上设有上座板及下座板，所述下座板上装有摄像头，且所述上座板上装有用于给摄像头提供光线的光源，所述摄像头与控制中心连接且提供图像数据给控制中心。所述上座板上设有通光孔，所述光源包括圆台形的壳体，所述壳体的一侧与外界贯通且另一侧设有底板，所述底板中设有摄像孔，所述通光孔与摄像孔的中心重合，所述底板上设有圆环形电路板及安装于电路板上的LED灯珠，所述摄像孔及壳体与外界贯通的一侧通过玻璃密封，所述摄像头通过通光孔、摄像孔及壳体而摄像。所述下座板与安装座间设有能够调节下座板升降的调节机构。所述调节机构包括设置于下座板边沿的连接板以及设置于连接板与安装座间的直导轨，及锁定下座板的锁紧机构。所述锁紧机构包括调节螺钉、若干按照一定距离设置的螺孔以及设置于下座板上的调节孔，所述调节螺钉穿过调节孔与对应的螺孔配合而将下座板锁紧。本技术的有益效果是：本技术通过在入料传送机构及分度机构间加装摄像头，从而在抓取转送机构的真空吸盘吸附晶振片放到电极检测机构上的过程中通过摄像头拍摄出位置图像，然后将图像数据传送入控制中心与预设的正确的位置图像进行对比，如果发现有偏差，控制中心能够控制抓取转送机构进行精准微调，从而保证最后通过吸盘吸附的晶振片能够准确放入电极检测机构的检测圆孔中。附图说明下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。图1是晶振片检测机的整体示意图；图2是视像检测机构的结构示意图。具体实施方式参照图1、图2，本技术公开了一种晶振片检测机视像检测机构，包括控制中心、工作台1、设置于工作台1上的入料传送机构2及分度机构3，所述工作台1上设有位于入料传送机构2及分度机构3间的视像检测孔4，所述视像检测孔4中设置有安装座5，所述安装座5上设有上座板51及下座板52，所述下座板52上装有摄像头6，且所述上座板51上装有用于给摄像头6提供光线的光源7，所述摄像头6与控制中心连接且提供图像数据给控制中心，视像检测孔4及安装座5的结构设计在于能够将摄像头6沉下去位于工作台1之下，不仅充分利用现有的工作平台的空间，保证整体结构紧凑，而且将摄像头6沉下去，能够保证摄像头6与被摄像的晶振片间具有最优的摄像距离。如图所示，光源7的具体结构在于：所述上座板51上设有通光孔511，所述光源7包括圆台形的壳体71，所述壳体71的一侧与外界贯通且另一侧设有底板72，所述底板72中设有摄像孔73，所述通光孔511与摄像孔73的中心重合，所述底板72上设有圆环形电路板74及安装于电路板74上的LED灯珠75，所述摄像孔73及壳体71与外界贯通的一侧通过玻璃密封，所述摄像头6通过通光孔511、摄像孔73及壳体71而摄像，照射到晶振片上的光线通过壳体71、摄像孔73、通光孔511进入镜头内而被摄像，光源7的结构及设置也是为了保证光源7尽量与晶振片接近，从而提高照射到晶振片上的亮度，同时又能够保证摄像头6的正常摄像，而且充分利用空间做到结构紧凑。如图所示，所述下座板52与安装座5间设有能够调节下座板52升降的调节机构；所述调节机构包括设置于下座板52边沿的连接板521以及设置于连接板521与安装座5间的直导轨522，及锁定下座板52的锁紧机构；所述锁紧机构包括调节螺钉（图中未显示出）、若干按照一定距离设置的螺孔（图中未显示出）以及设置于下座板52上的调节孔（图中未显示出），所述调节螺钉穿过调节孔与对应的螺孔配合而将下座板52锁紧，通过调节机构我们能够调节摄像头6的高度位置，从而调节摄像头6与晶振片的物距，便于找到最佳摄像点。以上对本技术实施例所提供的一种晶振片检测机视像检测机构，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.晶振片检测机视像检测机构，包括控制中心、工作台、设置于工作台上的入料传送机构及分度机构，其特征在于：所述工作台上设有位于入料传送机构及分度机构间的视像检测孔，所述视像检测孔中设置有安装座，所述安装座上设有上座板及下座板，所述下座板上装有摄像头，且所述上座板上装有用于给摄像头提供光线的光源，所述摄像头与控制中心连接且提供图像数据给控制中心。

【技术特征摘要】
1.晶振片检测机视像检测机构，包括控制中心、工作台、设置于工作台上的入料传送机构及分度机构，其特征在于：所述工作台上设有位于入料传送机构及分度机构间的视像检测孔，所述视像检测孔中设置有安装座，所述安装座上设有上座板及下座板，所述下座板上装有摄像头，且所述上座板上装有用于给摄像头提供光线的光源，所述摄像头与控制中心连接且提供图像数据给控制中心。2.根据权利要求1所述的晶振片检测机视像检测机构，其特征在于：所述上座板上设有通光孔，所述光源包括圆台形的壳体，所述壳体的一侧与外界贯通且另一侧设有底板，所述底板中设有摄像孔，所述通光孔与摄像孔的中心重合，所述底板上设有圆环形电路板及安装于...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈愿勤，蔡婷，罗文静，陈怡君，
申请(专利权)人：中山泰维电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44