【技术实现步骤摘要】
极耳错位控制方法及卷绕装置
本申请涉及储能器件制造
,尤其涉及极耳错位控制方法及卷绕装置。
技术介绍
为了提高电极组件的能量密度,通常将电极组件的尺寸做的相对较大。对于卷绕式的电极组件而言,则需要增加极片卷绕的圈数,从而提高卷绕式电极组件的能量密度。通常,极片上未涂覆活性物质浆料的部分经切制形成极耳,在极片的卷绕过程中,各极耳层叠在一起。然而,当极片的卷绕圈数增多时,极耳层叠时就会出现明显的错位现象。
技术实现思路
本申请提供了一种极耳错位控制方法及卷绕装置,能够改善极耳的错位现象。本申请的第一方面提供了一种极耳错位控制方法,包括:步骤S10,获取卷针从第一计时零点到T1时刻所转过的第一角度值θ1,所述T1时刻为检测到即将卷绕于卷针的第一极耳的这一时刻,和/或获取卷针从第二计时零点到T2时刻所转过的第二角度值θ2,所述T2时刻为检测到即将卷绕于卷针的第二极耳的这一时刻;步骤S20,判断所述第一角度值θ1是否等于第一预设值θ01,如果是,重复步骤S10,反之,进入步骤S31,和/或判断所述第二角度值θ2是否等于第二预设值θ02,如果是,重复步骤S10,反之,进入步骤S32;步骤S31,调节施加于第一极片的第一压力,所述第一压力的作用方向与第一极片垂直;步骤S32,调节施加于第二极片的第二压力,所述第二压力的作用方向与第二极片垂直。根据一个可选实施例,在所述步骤S20之后还包括:步骤S22,判断所述第一角度值θ1是否小于第一预设值θ01,如果是,进入步骤S41,反之,进入步骤S51,和/或判断所述第二角度值θ2是否小于第二预设值θ02,如果是,进入步骤S42 ...
【技术保护点】
1.一种极耳错位控制方法,其特征在于,包括:步骤S10,获取卷针从第一计时零点到T1时刻所转过的第一角度值θ1,所述T1时刻为检测到即将卷绕于卷针的第一极耳的这一时刻,和/或获取卷针从第二计时零点到T2时刻所转过的第二角度值θ2,所述T2时刻为检测到即将卷绕于卷针的第二极耳的这一时刻;步骤S20,判断所述第一角度值θ1是否等于第一预设值θ01,如果是,重复步骤S10,反之,进入步骤S31,和/或判断所述第二角度值θ2是否等于第二预设值θ02,如果是,重复步骤S10,反之,进入步骤S32;步骤S31,调节施加于第一极片的第一压力,所述第一压力的作用方向与第一极片垂直;步骤S32,调节施加于第二极片的第二压力,所述第二压力的作用方向与第二极片垂直。
【技术特征摘要】
1.一种极耳错位控制方法,其特征在于,包括:步骤S10,获取卷针从第一计时零点到T1时刻所转过的第一角度值θ1,所述T1时刻为检测到即将卷绕于卷针的第一极耳的这一时刻,和/或获取卷针从第二计时零点到T2时刻所转过的第二角度值θ2,所述T2时刻为检测到即将卷绕于卷针的第二极耳的这一时刻;步骤S20,判断所述第一角度值θ1是否等于第一预设值θ01,如果是,重复步骤S10,反之,进入步骤S31,和/或判断所述第二角度值θ2是否等于第二预设值θ02,如果是,重复步骤S10,反之,进入步骤S32;步骤S31,调节施加于第一极片的第一压力,所述第一压力的作用方向与第一极片垂直;步骤S32,调节施加于第二极片的第二压力,所述第二压力的作用方向与第二极片垂直。2.根据权利要求1所述的极耳错位控制方法,其特征在于,在所述步骤S20之后还包括:步骤S22,判断所述第一角度值θ1是否小于第一预设值θ01,如果是,进入步骤S41,反之,进入步骤S51,和/或判断所述第二角度值θ2是否小于第二预设值θ02,如果是,进入步骤S42,反之,进入步骤S52;步骤S41,减小所述第一压力;步骤S42,减小所述第二压力;步骤S51,增大所述第一压力;步骤S52,增大所述第二压力。3.根据权利要求2所述的极耳错位控制方法,其特征在于,所述步骤S41还包括:增加第一极片的张力,和/或所述步骤S42还包括:增加第二极片的张力。4.根据权利要求2所述的极耳错位控制方法,其特征在于,所述步骤S51还包括:减小第一极片的张力,和/或所述步骤S52还包括:减小第二极片的张力。5.一种卷绕装置,该卷绕装置采用如权利要求1-4任一项所述的极耳错位控制方法,其特征在于,包括:第一处理部,用于获取卷针从第一计时零点到T1时刻所转过的第一角度值θ1,以及用于判断所述第一角度值θ1是否等于第一预设值θ01,所述T1时刻为检测到即将卷绕于卷针的第一极耳的这一时刻;第一检测部,用于感应即将卷绕于卷针上的第一极耳;以及第一压力调节部,用于调节施加于第一极片的第一压力,所述第一压力的作用方向与所述第一极片垂直,所述第一处理部分别与所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:王艺若,常洪文,黄吉军,张小畏,谢超,廖日辉,
申请(专利权)人:宁德时代新能源科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:福建,35
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