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一种仪器仪表的测试探针制造技术

技术编号:20111255 阅读:57 留言:0更新日期:2019-01-16 10:53
本发明专利技术公开了一种仪器仪表的测试探针。包括针套和设置在针套中的探针,针套的中设置有腔体,腔体中设置有螺旋弹簧,弹簧套设在探针上,探针的一端伸出针套的前端,探针上固定设置有用于挡块和滑块,针套的上沿其长度方向开设有L形槽,滑块设置L形槽中,沿L形槽拨动滑块,针套的后端设置有香蕉插座,探针的尾部与香蕉插座通过导线连接。通过滑动滑块使探针探出,将滑块滑至L形槽的拐弯处,此时弹簧被压缩,使滑块卡设在L形槽的拐弯处,保证探针伸出段不会自动缩回;测试结束后滑动滑块至L形槽的水平段,在弹簧的恢复力作用下,探针的前端回弹进入针套中,防止探针的前端比较长的一段因露在针套的外部,而容易被折断。

A Test Probe for Instruments

The invention discloses a test probe for an instrument. Including a needle sleeve and a probe in the needle sleeve, a cavity is arranged in the needle sleeve, a coil spring is arranged in the cavity, a spring is arranged on the probe, one end of the probe extends out the front end of the needle sleeve, a block and a slider are fixed on the probe, an L-shaped groove is arranged on the upper part of the needle sleeve along its length direction, a slide block is arranged in the L-shaped groove, a slide block is moved along the L-shaped groove, and a fragrance is arranged at the back end of the needle slee The tail of the probe is connected with the banana socket through a wire. By sliding slider, the probe can be detected, and the slider can be slid to the bend of L-groove. At this time, the spring is compressed, so that the slider can be clamped at the bend of L-groove to ensure that the extension of the probe will not automatically retract. After the test, the slider can reach the horizontal section of L-groove. Under the restoring force of the spring, the front end of the probe will rebound into the needle sleeve to prevent a relatively long section of the front end of the probe from being exposed. On the outside of the needle sleeve, it is easy to break.

【技术实现步骤摘要】
一种仪器仪表的测试探针
本专利技术涉及一种测试探针,尤其涉及一种仪器仪表的测试探针。
技术介绍
随着科技的不断发展,人们制造出来了越来越精密的仪器仪表,因此对这些非常精密的仪器仪表的测试也要求越来越高,现有的仪器仪表配有的测试探针不易测试,且探针有比较长的一段一直露在针套的外部,易折断。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种仪器仪表的测试探针,解决现有技术中仪器仪表配有的测试探针不易测试,且探针有比较长的一段一直露在针套的外部,易折断的技术问题。为了解决上述技术问题,本专利技术通过以下技术方案实现:一种仪器仪表的测试探针,包括针套和设置在针套中的探针,所述针套的中设置有腔体,腔体的前端小后端大,腔体中设置有螺旋弹簧,螺旋弹簧的外径大于腔体前端的直径,弹簧套设在探针上,探针的一端伸出针套的前端,探针上固定设置有用于挡块和滑块,挡块用于抵住弹簧的后端,滑块位于挡块的后方,针套的上沿其长度方向开设有L形槽,滑块设置L形槽中,沿L形槽拨动滑块,则探针能够沿针套的长度方向滑动,针套的后端设置有香蕉插座,探针的尾部与香蕉插座通过导线连接;所述针套、滑块为绝缘材料制成。使用过程如下:通过滑动滑块使探针探出,将滑块滑至L形槽的拐弯处,此时弹簧被压缩,使滑块卡设在L形槽的拐弯处,保证探针伸出段不会自动缩回,然后通过探针伸出段进行测试;测试结束后滑动滑块至L形槽的水平段,在弹簧的恢复力作用下,探针的前端回弹进入针套中,防止探针的前端比较长的一段因露在针套的外部,而容易被折断,因为探针非常细。进一步改进,所述探针的前度设置有挂钩,便于测试时与被测试部件连接。进一步改进,所述针套由两部分组成,分别为第一段和第二段,第一段和第二段通过螺纹连接,便于拆装。进一步改进,所述针套外部设置有防滑纹,增大摩擦力,防止在操作过程中打滑。与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:通过滑动滑块使探针探出,将滑块滑至L形槽的拐弯处,此时弹簧被压缩,使滑块卡设在L形槽的拐弯处,保证探针伸出段不会自动缩回,然后通过探针伸出段进行测试;测试结束后滑动滑块至L形槽的水平段,在弹簧的恢复力作用下,探针的前端回弹进入针套中,防止探针的前端比较长的一段因露在针套的外部,而容易被折断。附图说明图1是本专利技术所述仪器仪表的测试探针的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的和技术方案更加清楚,下面将结合本专利技术实施例对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述。本申请中以图1的左端为前方、右端为后方。如图1所示一种仪器仪表的测试探针,包括针套1和设置在针套中的探针2,所述针套的中设置有腔体,腔体的前端小后端大,腔体中设置有螺旋弹簧3,螺旋弹簧3的外径大于腔体前端的直径,弹簧3套设在探针2上,探针的一端伸出针套的前端,探针上固定设置有用于挡块4和滑块5,挡块4用于抵住弹簧3的后端,滑块5位于挡块4的后方,针套1的上沿其长度方向开设有L形槽6,滑块设置L形槽6中,沿L形槽6拨动滑块5,则探针2能够沿针套1的长度方向滑动,针套1的后端设置有香蕉插座7,探针的尾部与香蕉插座通过导线连接;所述针套、滑块为绝缘材料制成。使用过程如下:通过滑动滑块使探针探出,将滑块滑至L形槽6的拐弯处,此时弹簧3被压缩,使滑块5卡设在L形槽6的拐弯处,保证探针2伸出段不会自动缩回,然后通过探针伸出段进行测试;测试结束后滑动滑块至L形槽的水平段,在弹簧3的恢复力作用下,探针2的前端回弹进入针套1中,防止探针的前端比较长的一段因露在针套的外部,而容易被折断,因为探针非常细。在本实施例中,所述探针2的前度设置有挂钩,便于测试时与被测试部件连接。在本实施例中,所述针套1由两部分组成,分别为第一段和第二段,第一段和第二段通过螺纹连接,便于拆装。在本实施例中,所述针套1外部设置有防滑纹,增大摩擦力,防止在操作过程中打滑。本专利技术中未做特别说明的均为现有技术或者通过现有技术即可实现,而且本专利技术中所述具体实施案例仅为本专利技术的较佳实施案例而已,并非用来限定本专利技术的实施范围。即凡依本专利技术申请专利范围的内容所作的等效变化与修饰,都应作为本专利技术的技术范畴。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种仪器仪表的测试探针,其特征在于,包括针套和设置在针套中的探针,所述针套的中设置有腔体,腔体的前端小后端大,腔体中设置有螺旋弹簧,螺旋弹簧的外径大于腔体前端的直径,弹簧套设在探针上,探针的一端伸出针套的前端,探针上固定设置有用于挡块和滑块,挡块用于抵住弹簧的后端,滑块位于挡块的后方,针套的上沿其长度方向开设有L形槽,滑块设置L形槽中,沿L形槽拨动滑块,则探针能够沿针套的长度方向滑动,针套的后端设置有香蕉插座,探针的尾部与香蕉插座通过导线连接;所述针套、滑块为绝缘材料制成。

【技术特征摘要】
1.一种仪器仪表的测试探针,其特征在于,包括针套和设置在针套中的探针,所述针套的中设置有腔体,腔体的前端小后端大,腔体中设置有螺旋弹簧,螺旋弹簧的外径大于腔体前端的直径,弹簧套设在探针上,探针的一端伸出针套的前端,探针上固定设置有用于挡块和滑块,挡块用于抵住弹簧的后端,滑块位于挡块的后方,针套的上沿其长度方向开设有L形槽,滑块设置L形槽中,沿L形槽拨动滑块,则探针能够沿针套的长度方向滑...

【专利技术属性】
技术研发人员:尤建东
申请(专利权)人:尤建东
类型:发明
国别省市:江苏,32

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