The subject to be solved by the invention is to provide a polymer compound containing silicon atoms, such as polysiloxane, a solidifying composition for imprinting with excellent adhesion to the substrate, excellent demoulding performance in a fine pattern die and very little mould pollution. To solve the above problem, a solidifying composition for photolithography is provided. The solidifying composition for photolithography is characterized by comprising a polymeric compound (A), a photopolymerization initiator (B) and an additive (C) containing silicon atoms in a molecule. The former additive (C) is the R of the following formula (C1) or the R of the following formula (C2) [C1].
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光压印用固化性组合物及使用其的图案形成方法
本专利技术涉及基板密合性优异、在模具脱模时没有图案缺陷和图案倒塌、图案模具污染非常少的压印用固化性组合物及使用其的图案形成方法。
技术介绍
纳米压印法为:发展在光盘制作中众所周知的压花技术,将形成有凹凸图案的模具压在树脂上使其发生力学上变形从而精密地转印微细图案的技术。其中光纳米压印法为通过透明模具、透明基板来照射光,使光固化性组合物光固化而进行转印的技术,由于可实现室温下的压印,因此正期待尺寸稳定性的提高及生产率的提高。如果一次性制作模具,则十~数百nm水平的纳米结构体简单地重复而可成型,因此是经济的且有害的废弃物/排出物少的纳米加工技术,因此,近年来期待在各种领域中的应用。对于通过光纳米压印法形成的微细凹凸图案,例如在防反射膜等光学用途中,要求透明性、耐热性、耐候性、耐久性等性能,另外,在抗蚀剂用途中要求耐酸性、耐溶剂性、耐干蚀刻性等优异。由于聚硅氧烷成分表现出有机材料中所没有的特征性的性质,因此正在研究含有聚硅氧烷成分的光固化性组合物在纳米压印中的应用。例如,报道了作为透明性、耐久性、而且需要低表面能的纳米压印用树脂模具、或供于以氧气为主成分的等离子体蚀刻的纳米压印抗蚀剂的应用等(专利文献1、2)。光纳米压印法的最大的课题在于,将模具按压在光固化性组合物、光固化后从模具剥离时产生的脱模缺陷的问题。作为脱模缺陷,有图案倒塌、图案缺损、基板剥离、填充不良、灰尘·气泡导致的缺陷等。通常,模具图案越微细、并且长径比越大,则脱模性变得越差。最近,进行了将纳米压印应用于半导体领域的尝试,但是提出了图案宽度为20nm以下 ...
【技术保护点】
1.一种光压印用固化性组合物,其特征在于,包含:分子中含有硅原子的聚合性化合物(A)、光聚合引发剂(B)和添加剂(C),所述添加剂(C)为下述式(C1)或(C2)所示的化合物,
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.05.11 JP 2016-0953021.一种光压印用固化性组合物,其特征在于,包含:分子中含有硅原子的聚合性化合物(A)、光聚合引发剂(B)和添加剂(C),所述添加剂(C)为下述式(C1)或(C2)所示的化合物,式(C1)中的R1为碳数12~30的烷基,X1为氢原子或酰基,n为0~50的整数,式(C2)中的X2及X3各自独立地表示氢原子或酰基,p、q、r各自独立地为1~50的整数。2.根据权利要求1所述的光压印用固化性组合物,其中,上述式(C1)中,R1为碳数16~30的烷基。3.根据权利要求1或2所述的光压印用固化性组合物,其中,上述式(C1)所示的化合物的HLB值为10以下,其中,此处所说的HLB值是指将上述式(C1)所示的化合物中的R1所示的基团的式量设为MR1、将聚氧乙烯单元的式量设为MEO时,(MEO/(MR1+MEO))×20所示的值。4.根据权利要求1~3中任一项所述的光压印用固化性组合物,其中,上述式(C1)中,n为0。5.根据权利要求1~4中任一项所述的光压印用固化性组合物,其中,上述式(C1)中,X1为丙烯酰基或甲基丙烯酰基。6.根据权利要求1所述的光压印用固化性组合物,其中,上述式(C2)所示的化合物的MEO/(MEO+MPO)所示的值为0.1~0.4,其中,MEO表示上述式(C2)中的聚氧乙烯单元的式量,MPO表示...
【专利技术属性】
技术研发人员:伊部武史,矢田真,
申请(专利权)人:DIC株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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