电子元件检测方法、装置及使用于该检测方法的载盘制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电子元件检测方法、装置及使用于该检测方法的载盘，该检测方法包括：一搬送步骤，使一载盘以间歇性旋转流路搬送一载槽内的一待测元件经一检测区域；一挡抵步骤，该待测元件停留在该检测区域时，使一挡抵件由间歇性旋转流路外移入该载槽内；一检测步骤，使数个支探针元件向上碰触并顶升该待测元件受该挡抵件挡抵，以对待测元件进行检测。

【技术实现步骤摘要】
电子元件检测方法、装置及使用于该检测方法的载盘
本专利技术有关于一种检测方法、装置及使用于该检测方法的载盘，尤指一种对在间歇性旋转流路内被搬送的电子元件进行检测的电子元件检测方法、装置及使用于该检测方法的载盘。
技术介绍
习知电子元件如发光二极管(LED)或被动元件等，在产出后通常会进行物理特性的检测，以进行分类与包装；专利号第I447060号「工件搬运装置」已揭露一种电子元件检测装置，具备有平台底座，和旋转自如配置在平台底座上且于外围部设有数个的工件收纳孔的搬运平台，及经由分离供应部连结于搬运平台，可将工件供应至搬运平台的工件收纳孔内的线性进料器；其中，线性进料器、分离供应部、工件收纳孔的上面由平台罩盖覆盖着；此外，于搬运平台的外围部，沿着间歇旋转方向依下述顺序设有第1检查部、第2检查部；工件具有长方体形状并于上面具有发光面的本体以及从本体朝长度方向的前方及后方突出作为电极的引线端子；搬运平台旋转搬运工件到达第1检查部，搬运平台就会停止，此时，于引线端子的正下方位置的平台底座内，设有垂直方向进退自如的探针，利用控制部的作用使探针朝引线端子前进，以抵接着引线端子的状态将工件往上推，使工件的上面成为抵接在第1检查部罩盖的下面的状态后就停止往上推，对工件的特性进行测定之后，探针就向下退出，并再继续使搬运平台间歇旋转搬运工件至第2检查部。前述电子元件检测装置仅适用于检测具有平整发光面的电子元件，若电子元件的上面凸设有以透镜(Lens)为主的发光部，当电子元件被探针往上推时，电子元件凸设的发光部无法与罩盖的下面贴平，造成电子元件的水平高度会歪斜不正，导致检测值有所偏差，且凸设的发光部亦容易因挤压产生破损；故专利号第I559989号「物品分类装置及其运转方法」另揭露一种电子元件检测装置，包括：零件给料器，对齐并供给LED芯片；运送机构，自零件给料器接受LED芯片，将其吸附固持并自供给位置通过检查位置朝排出位置运送；检查装置，沿运送机构运送路径设置，以检查位置检查LED芯片的电性特性与光学特性；其中，LED芯片的水平上表面上凸设有发光部，在检查中LED芯片被探针往上推时，LED芯片上表面凸设的发光部可移入固定位置的侧导件的镂孔中，使LED芯片的上表面抵接在固定位置的侧导件的下表面，如此具有凸设的发光部的电子元件在收纳部内被探针往上推时，可维持在固定的水平高度且凸设的发光部亦不易产生破损。
技术实现思路
习知第I447060号专利在检测具有凸出发光部的电子元件时，无法得到精确的检测值且电子元件的发光部容易产生破损进而影响检测进行；习知第I559989号专利虽可对具有凸出发光部的电子元件进行检测，但如LED发光二极管的电子元件在制造过程中皆会有些许黏胶残留，在检查中电子元件被上推抵接于侧导件时，电子元件容易沾黏于侧导件上，导致电子元件一部分在侧导件的镂孔中，另一部分在运送机构的收纳部内，使电子元件在检查后转送至下一站时，因侧导件是保持在固定位置，而运送机构是相对于侧导件位移，故造成电子元件产生破损进而影响检测进行；故如何有效地对电子元件进行检测成为有待研究的课题。因此，本专利技术的目的在于提供一种可有效地对电子元件进行检测的电子元件检测方法。本专利技术的另一目的在于提供一种使用本专利技术目的所提供的电子元件检测方法的电子元件检测装置。本专利技术的又一目的在于提供一种可有效地对电子元件进行检测的电子元件检测装置。本专利技术的又再一目的在于提供一种使用本专利技术目的所提供的电子元件检测方法的载盘。依据本专利技术目的的电子元件检测方法，包括：一搬送步骤，使一载盘以间歇性旋转流路搬送一载槽内的一待测元件经一检测区域；一挡抵步骤，该待测元件停留在该检测区域时，使一挡抵件由间歇性旋转流路外移入该载槽内，并停留在该待测元件上方的位置；一检测步骤，使数个支探针元件向上碰触并顶升该待测元件受该挡抵件挡抵，以对待测元件进行检测。依据本专利技术另一目的的电子元件检测装置，包括用以执行所述电子元件检测方法的装置。依据本专利技术又一目的的电子元件检测装置，包括：一载盘，具有周缘环列布设等间距凹设的数个载槽，其形成间歇性旋转流路以搬送载槽内的待测元件至一检测区域进行检测；一挡抵装置，设于该载盘的旁侧，该挡抵装置设有一挡抵件，在待测元件被搬送经该检测区域时，该挡抵件可选择性地由间歇性旋转流路外移入或移出该载槽。依据本专利技术又再一目的的载盘，使用于所述电子元件检测方法，该载盘具有周缘环列布设等间距凹设的数个载槽，该载槽设有一容置区与一位于该容置区上方的收光区，两者间设有一连通口使该容置区与该收光区相互连通，该连通口设有一挡抵部在该容置区与该收光区之间。本专利技术实施例的载盘、电子元件检测方法及装置，待测元件在第一载盘的载槽内以挡抵部挡抵在待测元件的本体部内侧的两边角上方；在待测元件被第一载盘以间歇性旋转流路搬送至检测区域时，挡抵装置具有让位口的挡抵件可在不碰触发光部的情况下由间歇性旋转流路外水平地移入载槽内，并停留在待测元件的本体部外侧的两边角上方；在待测元件被探针元件向上顶升时，挡抵件与挡抵部可分别挡抵在本体部的四个边角上，使待测元件维持在与底面保持一间距的固定水平高度上进行检测，能有效地检测待测元件。附图说明图1是本专利技术实施例中电子元件检测装置的立体示意图。图2是本专利技术实施例中第一载盘与待测元件的部分立体示意图。图3是本专利技术实施例中图2的仰视示意图。图4是本专利技术实施例中挡抵装置的立体示意图。图5是本专利技术实施例中挡抵装置、第一载盘、光学积分球、探针装置位置关系的示意图。图6是本专利技术实施例中挡抵件移入载槽的示意图。图7是本专利技术实施例中挡抵件移出载槽的示意图。图8是本专利技术实施例中图6的A-A剖面示意图(待测元件受探针元件顶升抵接在挡抵件与挡抵部下方)。图9是本专利技术另一实施例中挡抵件移入载槽的示意图。图10是本专利技术另一实施例中图9的B-B剖面示意图(待测元件受探针元件顶升抵接在挡抵件下方)。【符号说明】A检测台面A1输送槽道B第一载盘B1载槽B1’载槽B11容置区B111负压吸孔B112第一导引部B12收光区B13连通口B131挡抵部B132凹入面B133第二导引部B2限位件B21槽道B3检测区域B31积分球B32探针装置B321探针元件B4共通排出管C挡抵装置C1驱动模块C11固定座C12支撑架C121第一支撑部C122第二支撑部C123第一弹性件C124第二弹性件C125嵌孔C126枢孔C127位置检知器C13电磁元件C131穿孔C132驱动件C133受磁件C134缓冲件C135感应片C136抵推件C14固定件C2移动模块C21固定块C211嵌孔C212止位件C213容槽C22第三弹性件C23移动块C231容槽C24挡抵件C241斜面C242让位口C242’让位口D第二载盘D1载槽D2限位件D3排出通道E连接单元L中心线W待测元件W1本体部W2发光部具体实施方式请参阅图1，本专利技术实施例的电子元件检测方法可以如图所示的使用在以LED发光二极管为电子元件的电子元件检测装置来作说明，该装置设有包括：一检测台面A，设有输送槽道A1输送由振动送料机(图未示)整列传送的待测元件W；一第一载盘B，设于该检测台面A上，并以一第一间歇性旋转流路进行待测元件W搬送，周缘环列布设等间距且设有朝外开口的载槽本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元件检测方法，包括：一搬送步骤，使一载盘以间歇性旋转流路搬送一载槽内的一待测元件经一检测区域；一挡抵步骤，该待测元件停留在该检测区域时，使一挡抵件由间歇性旋转流路外移入该载槽内；一检测步骤，使数个支探针元件向上碰触并顶升该待测元件受该挡抵件挡抵，以对待测元件进行检测。

【技术特征摘要】
2017.06.28 TW 1061216661.一种电子元件检测方法，包括：一搬送步骤，使一载盘以间歇性旋转流路搬送一载槽内的一待测元件经一检测区域；一挡抵步骤，该待测元件停留在该检测区域时，使一挡抵件由间歇性旋转流路外移入该载槽内；一检测步骤，使数个支探针元件向上碰触并顶升该待测元件受该挡抵件挡抵，以对待测元件进行检测。2.如权利要求1所述的电子元件检测方法，其中，该待测元件具有一呈立体矩形的本体部，该挡抵件挡抵在该本体部朝向该载槽外侧的两边角上。3.如权利要求2所述的电子元件检测方法，其中，该本体部朝向该载槽内侧的另外两边角以该载槽的一挡抵部挡抵。4.如权利要求1所述的电子元件检测方法，其中，该挡抵件由该载盘的旁侧以水平方向移入该载槽内。5.如权利要求1所述的电子元件检测方法，其中，该待测元件在进行检测后，数个支探针元件向下移动，且该挡抵件移出该载槽。6.一种电子元件检测装置，包括：用以执行如权利要求1至5中任一权利要求所述的电子元件检测方法的装置。7.一种电子元件检测装置，包括：一载盘，具有周缘环列布设等间距凹设的数个载槽，其形成间歇性旋转流路以搬送载槽内的待测元件经一检测区域进行检测；一挡抵装置，设于该载盘的旁侧，该挡抵装置设有一挡抵件，该挡抵件可选择...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈荣宗，林芳旭，黄清泰，
申请(专利权)人：万润科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71