【技术实现步骤摘要】
一种电子元件检测装置
本专利技术涉及一种电子元件检测装置，属于电子设备
技术介绍
目前，随着电子技术的不断发展，电子元件的应用也越来越多。在电子元件的生产后出厂前，一般需要对电子元件进行检测，以便保证电子元件的质量。目前的电子元件检测一般是人工手持检测探头来完成，这种检测方式效率较低，而且，难以对电子元件的表面质量以及尺寸进行有效检测，因此，难以实现对电子元件进行全方位检测，这就导致目前的全方位检测仅仅采用抽检的方式，这种抽检方式难以保证电子元件百分之一百的质量。本专利技术针对以上问题，提供一种电子元件检测装置，提高电子元件的检测质量以及检查的全方位性。
技术实现思路
为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种电子元件检测装置，其包括底座、支撑台、检测圆盘、检测探针组件、尺寸检测器和电子元件表面视觉检测系统，其中，所述支撑台采用所述底座进行支撑设置，所述支撑台的中心采用分度主轴可转动的支撑设置有检测圆盘，所述检测圆盘上设置有同轴分布的两组阶梯孔，每组阶梯孔孔均圆周阵列布设在所述检测圆盘上，且两组阶梯孔的个数相等，所述阶梯孔的底部支撑连接有透明支撑玻璃片...
【技术保护点】
1.一种电子元件检测装置，其特征在于，其包括底座、支撑台、检测圆盘、检测探针组件、尺寸检测器和电子元件表面视觉检测系统，其中，所述支撑台采用所述底座进行支撑设置，所述支撑台的中心采用分度主轴可转动的支撑设置有检测圆盘，所述检测圆盘上设置有同轴分布的两组阶梯孔，每组阶梯孔孔均圆周阵列布设在所述检测圆盘上，且两组阶梯孔的个数相等，所述阶梯孔的底部支撑连接有透明支撑玻璃片，待检测的电子元件放置在阶梯孔内并由所述透明支撑玻璃片支撑，所述支撑台上位于所述检测圆盘的外侧设置有至少一个检测探针组件，所述支撑台上位于所述检测圆盘的两组阶梯孔的下方设置有两组对称布设的尺寸检测器和两组对称布设...
【技术特征摘要】
1.一种电子元件检测装置，其特征在于，其包括底座、支撑台、检测圆盘、检测探针组件、尺寸检测器和电子元件表面视觉检测系统，其中，所述支撑台采用所述底座进行支撑设置，所述支撑台的中心采用分度主轴可转动的支撑设置有检测圆盘，所述检测圆盘上设置有同轴分布的两组阶梯孔，每组阶梯孔孔均圆周阵列布设在所述检测圆盘上，且两组阶梯孔的个数相等，所述阶梯孔的底部支撑连接有透明支撑玻璃片，待检测的电子元件放置在阶梯孔内并由所述透明支撑玻璃片支撑，所述支撑台上位于所述检测圆盘的外侧设置有至少一个检测探针组件，所述支撑台上位于所述检测圆盘的两组阶梯孔的下方设置有两组对称布设的尺寸检测器和两组对称布设的电子元件表面视觉检测系统，其中一组尺寸检测器和电子元件表面视觉检测系统对电子元件正面进行检测，另外一组尺寸检测器和电子元件表面视觉检测系统对电子元件反面进行检测，所述支撑台上还设置有位于所述检测圆盘外侧的对电子元件进行翻面处理的翻转机械手，所述翻转机械手采用机械手底座固定在所述支撑台上。2.根据权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述检测探针组件包括安装座、转动座、支撑柱、升降调节柱、检测座和检测盘，其中，所述安装座固定在所述支撑台上，所述安装座上通过转动座连接设置有所述支撑柱，所述支撑柱的顶部设置有向所述检测圆盘侧水平延伸的延伸段，所述延伸段上设置有升降调节柱，所述升降调节柱的底部设置有检测座，所述检测座的下部连接有检测盘，所述检测盘上设置有检测探针固定组件，多个检测探针可调节位置的设置在所述检测探针固定组件上。3.根据权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：每组尺寸检测器和电子元件表面视觉检测系统安装布设在同一台座上，所述台座设置在升降支撑轴上，所述升降支撑轴的下端穿过所述支撑台的通孔连接在升降气缸上，所述升降气缸固定在所述支撑台底面，所述支撑台的通孔内固定设置有导向套，所述升降支撑轴与所述导向套滑动导向配合。4.根据权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述支撑台的中心设置有向上延伸的辅助固定筒，所述分度主轴采用轴承支撑可转动的设置在所述辅助固定筒内，所述分度主轴的下端连接在分度驱动器的输出轴上，所述分...
【专利技术属性】
技术研发人员：王苗苗，梁硕，李娜，张玉霞，张建琨，
申请(专利权)人：邯郸学院，
类型：发明
国别省市：河北,13
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