【技术实现步骤摘要】
集成电路信号相位差确定方法及装置、介质和电子设备
本公开涉及集成电路
，具体而言，涉及一种集成电路输出信号相位差确定方法、集成电路输出信号相位差确定装置、存储介质和电子设备。
技术介绍
集成电路(IntegratedCircuit，IC)是一种微型电子器件或部件。它是经过氧化、光刻、扩散、外延、蒸铝等半导体制造工艺，把构成具有一定功能的电路所需的半导体、电阻、电容等元件及它们之间的连接导线全部集成在一小块硅片上，然后焊接封装在一个管壳内的电子器件。随着IC技术的发展，集成电路已经应用到各种类型的电子设备中。针对一些电子设备，系统的时钟频率已超过百兆赫兹，这就使得人们对信号传输的速度要求越来越高，需要集成电路输出高速信号。由于测试硬件电路走线长度、输出信号抖动等原因，对测量集成电路输出信号的相位差造成了障碍。另外，高速信号难以进行采样也是造成相位差难以确定的一个主要原因。需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本公开的目的在于提供一种集成电路输出信号相位差...
【技术保护点】
1.一种集成电路输出信号相位差确定方法，其特征在于，包括：获取集成电路输出的第一信号和第二信号，分别对所述第一信号和所述第二信号进行欠采样，以得到第一采样信号和第二采样信号；基于预设门限电平分别对所述第一采样信号和所述第二采样信号进行数字转换，以得到第一数字信号和第二数字信号；利用一预设脉冲信号分别对所述第一数字信号和所述第二数字信号进行卷积处理，以得到第一比较信号和第二比较信号；计算所述第一比较信号与所述第二比较信号的相位差作为基准相位差，并根据所述基准相位差确定所述第一信号与所述第二信号的相位差。
【技术特征摘要】
1.一种集成电路输出信号相位差确定方法，其特征在于，包括：获取集成电路输出的第一信号和第二信号，分别对所述第一信号和所述第二信号进行欠采样，以得到第一采样信号和第二采样信号；基于预设门限电平分别对所述第一采样信号和所述第二采样信号进行数字转换，以得到第一数字信号和第二数字信号；利用一预设脉冲信号分别对所述第一数字信号和所述第二数字信号进行卷积处理，以得到第一比较信号和第二比较信号；计算所述第一比较信号与所述第二比较信号的相位差作为基准相位差，并根据所述基准相位差确定所述第一信号与所述第二信号的相位差。2.根据权利要求1所述的集成电路输出信号相位差确定方法，其特征在于，在进行欠采样之前，所述集成电路输出信号相位差确定方法还包括：分别对所述第一信号和所述第二信号进行延迟校准。3.根据权利要求2所述的集成电路输出信号相位差确定方法，其特征在于，分别对所述第一信号和所述第二信号进行延迟校准包括：采用时域反射方式分别对所述第一信号和所述第二信号进行延迟校准。4.根据权利要求1所述的集成电路输出信号相位差确定方法，其特征在于，分别对所述第一信号和所述第二信号进行欠采样包括：根据所述第一信号和所述第二信号的周期以及一等效采样周期确定欠采样周期；基于所述欠采样周期分别对所述第一信号和所述第二信号进行欠采样。5.根据权利要求1所述的集成电路输出信号相位差确定方法，其特征在于，基于预设门限电平分别对所述第一采样信号和所述第二采样信号进行数字转换包括：分别将所述第一采样信号和所述第二采样信号的高于所述预设门限电平的部分设置为1，并分别将所述第一采样信号和所述第二采样信号的低于所述预设门限电平的部分设置为0；或者分别将所述第一采样信号和所述第二采样信号的高于所述预设门限电平的部分设置为0，并分别将所述第一采样信号和所述第二采样信号的低于所述预设门限电平的部分设置为1。6.根据权利要求1所述的集成电路输出信号相位差确定方法，其特征在于，计算所述第一比较信号与所述第二比较信号的相位差作为基准相位差包括：确定所述第一比较信号和所述第二比较信号的多个...
【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34
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