【技术实现步骤摘要】
基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成方法
本专利技术属于集成电路测试
，具体涉及一种基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成方法。
技术介绍
目前在开展集成电路测试时，首先由测试人员编写测试说明文档，该测试说明文档包含待测集成电路的全部测试用例。每一个测试用例描述了测试目的、测试输入数据、测试步骤及期望测试结果。以某FPGA软件的测试用例为例，如图1所示。FPGA软件仿真测试，需要将上述测试用例转变为FPGA仿真执行工具能够识别的语言以便载入仿真执行工具中执行仿真。目前测试用例的实现是在代码编辑环境中，通过人工编辑代码实现TESTBENCH文件，需消耗大量人力及时间。通过逐行编码完成的TESTBENCH文件，如图2所示。上述测试用例的逐行编码方式难以体现全部测试用例与测试代码的对应关系，且难以对单个测试用例或多个测试用例的执行实施有效的控制。亦无法清晰显示测试用例时序性实现，既影响测试进度及质量，也难以实现FPGA仿真测试的批量执行，对FPGA仿真测试技术发展和人物质量水平的提升带来问题。因此，建立一种满足系统性、时序性、可视化、批量执行的集成电路测试激...
【技术保护点】
1.一种基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成方法，其特征在于，所述方法基于集成电路测试激励生成系统来实施，所述集成电路测试激励生成系统包括：坐标系建立模块、任务点配置模块、任务点设置模块、序列生成模块、所述方法包括以下步骤：步骤S1：坐标系建立模块通过分析被测集成电路的系统架构，确定被测集成电路及其外围接口器件，被测集成电路及每一个外围接口器件均作为一个单独的模块，建立带有上述模块的二维坐标轴，获得横坐标为被测集成电路及其外围接口模块，纵坐标为对应时间或时序的二维坐标系；步骤S2：基于坐标系建立模块获得二维坐标系的基础上，任务点配置模块进一步依据测试用例的要求在二维坐标...
【技术特征摘要】
1.一种基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成方法，其特征在于，所述方法基于集成电路测试激励生成系统来实施，所述集成电路测试激励生成系统包括：坐标系建立模块、任务点配置模块、任务点设置模块、序列生成模块、所述方法包括以下步骤：步骤S1：坐标系建立模块通过分析被测集成电路的系统架构，确定被测集成电路及其外围接口器件，被测集成电路及每一个外围接口器件均作为一个单独的模块，建立带有上述模块的二维坐标轴，获得横坐标为被测集成电路及其外围接口模块，纵坐标为对应时间或时序的二维坐标系；步骤S2：基于坐标系建立模块获得二维坐标系的基础上，任务点配置模块进一步依据测试用例的要求在二维坐标轴上对任务点进行配置，将任务点名称设置为与测试用例的名称相关联；步骤S3：基于任务点配置模块在每个模块的二维坐标轴上配置任务点的基础上，任务点设置模块进一步进行任务点的设置，依据测试用例的要求对每一个任务点进行设置，针对测试用例中描述的测试对象、关联对象、测试激励及时序、响应要求，确定任务点的触发时间、触发条件、测试输入数据，并将测试用例上述相关...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑金艳，张清，李思，陈朋，刘军，李娜，安鹏伟，魏伟波，赵常，张依漪，张骢，季微微，李昂，高晓琼，洪楠，
申请(专利权)人：北京京航计算通讯研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11
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