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基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成方法技术
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文档序号:19854930
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本发明属于集成电路测试技术领域,具体涉及一种基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成方法。本发明应用时间轴配置方法产生与测试用例对应的任务点,通过配置任务点,形成包含激励模型的激励文件,实现激励信号的生成。并使任务点对应测试用例,实现对测试...
该专利属于北京京航计算通讯研究所所有,仅供学习研究参考,未经过北京京航计算通讯研究所授权不得商用。
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