检测方法、装置及可编程芯片制造方法及图纸

本申请提供一种检测方法、装置及可编程芯片。所述方法应用于可编程芯片，包括：获得第一净荷数据及第二净荷数据，并根据第一净荷数据及预设净荷规则生成预测数据，其中，第一净荷数据与第二净荷数据为经由待检测逻辑功能单元传输后的测试报文中的两个相邻净荷数据；将预测数据与第二净荷数据进行比对，在第二净荷数据与预测数据不相同时，确定待检测逻辑功能单元存在逻辑设计错误，并产生异常指示信号。由此，基于该预设净荷规则及经过待检测逻辑功能单元传输的测试报文中两个相邻净荷数据可快速判断该待检测逻辑功能单元中是否存在逻辑设计错误，从而对可编程芯片的逻辑设计进行排错。

【技术实现步骤摘要】
检测方法、装置及可编程芯片
本申请涉及通信
，具体而言，涉及一种检测方法、装置及可编程芯片。
技术介绍
在使用可编程芯片进行逻辑设计的时候，经常需要进行数据搬移处理，如PCIE的DMA(DirectMemoryAccess，直接内存存取)操作、以太报文的转发等。在设计完成初期，难免会存在一些设计缺陷，导致转发结果有错。随着编程在可编程芯片内的逻辑设计越来越复杂，这种设计缺陷越来越难以查找到，若使用代码走查或仿真模拟的方法进行排查，往往耗时较长。申请内容有鉴于此，本申请实施例的目的在于提供一种检测方法、装置及可编程芯片。第一方面，本申请实施例提供一种检测方法，应用于可编程芯片，包括：获得第一净荷数据及第二净荷数据，并根据所述第一净荷数据及预设净荷规则生成预测数据，其中，所述第一净荷数据与所述第二净荷数据为经由待检测逻辑功能单元传输后的测试报文中的两个相邻净荷数据；将所述预测数据与所述第二净荷数据进行比对，在所述第二净荷数据与所述预测数据信息不相同时，确定所述待检测逻辑功能单元存在逻辑设计错误，并产生异常指示信号。通过上述方式，即使可编程芯片的逻辑设计越来越复杂，依然快速检测判断待本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测方法，其特征在于，应用于可编程芯片，包括：获得第一净荷数据及第二净荷数据，并根据所述第一净荷数据及预设净荷规则生成预测数据，其中，所述第一净荷数据与所述第二净荷数据为经由待检测逻辑功能单元传输后的测试报文中的两个相邻净荷数据；将所述预测数据与所述第二净荷数据进行比对，在所述第二净荷数据与所述预测数据不相同时，确定所述待检测逻辑功能单元存在逻辑设计错误，并产生异常指示信号。

【技术特征摘要】
1.一种检测方法，其特征在于，应用于可编程芯片，包括：获得第一净荷数据及第二净荷数据，并根据所述第一净荷数据及预设净荷规则生成预测数据，其中，所述第一净荷数据与所述第二净荷数据为经由待检测逻辑功能单元传输后的测试报文中的两个相邻净荷数据；将所述预测数据与所述第二净荷数据进行比对，在所述第二净荷数据与所述预测数据不相同时，确定所述待检测逻辑功能单元存在逻辑设计错误，并产生异常指示信号。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获得第一净荷数据及第二净荷数据，包括：在所述测试报文到达时，从所述测试报文包括的多个净荷数据中获取先到达的所述第一净荷数据，并获取与所述第一净荷数据相邻的后到达的所述第二净荷数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述确定所述待检测逻辑功能单元存在逻辑设计错误之后，所述方法还包括：对所述待检测逻辑功能单元内的逻辑信号进行采样，以对所述待检测逻辑功能单元中的逻辑设计错误进行定位。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述待检测逻辑功能单元内的逻辑信号进行采样，以对所述待检测逻辑功能单元中的逻辑设计错误进行定位，包括：将所述异常指示信号设置为所述可编程芯片中的逻辑分析仪的触发信号；在基于再次接收到的所述测试报文产生的异常指示信号与所述触发信号相同时，控制所述逻辑分析仪对所述待检测逻辑功能单元内的逻辑信号进行采样，以对所述待检测逻辑功能单元中的逻辑设计错误进行定位。5.一种检测装置，其特征在于，应用于可编程芯片，包括：数据预测单元，用于根据接收到的第一净荷数据及预设净荷规则生成预测数据，并将所述预测数据发送给数据比较单元；数据比较单元，用于将所述预测数据与接收到的第二净荷数据进行比对，在所述第二净荷数据与所述预测数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：李建国，
申请(专利权)人：迈普通信技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51