一种基于可编程延时芯片的等效采样电路及采样方法技术

本发明专利技术涉及电子技术领域，特别涉及一种基于可编程延时芯片的等效采样电路，包括依次连接的信号产生模块U1、延时模块U2、采样门电路模块U3和分别与所述信号产生模块U1和延时模块U2相连的控制模块U4。该采样电路基于等效时间采样原理展宽高速周期信号，采用可编程延时芯片、电平转换芯片、高稳晶振和现场可编程逻辑阵列FPGA搭建等效采样所需的精密延时步进系统，可同时满足宽动态调节范围和精密延时的功能，最小延时步长10ps，总延时理论上可达到无限长。该技术可广泛应用到顺序等效采样系统中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子
，特别涉及一种基于可编程延时芯片的等效采样电路及采样方法。
技术介绍
对于周期性或者可重复的在时间上出现很短或在频率域频率很高的信号，采用较慢的采样频率在信号每一个周期上或者每隔整数周期上取出一个样本点，由取出的所有样本点重新组成一个信号，新组成的复现信号的形状与原来的信号形状相似，并且在时间刻度上比原信号增长了若干倍。按照一定的规律将这些样本点重组起来，就可以恢复原波形，从而实现利用较低的实时采样速率获取较高等效采样速率。这种取样叫做等效时间取样(也称为变换取样)。有两种等效时间采样的方法：随机等效采样和顺序等效采样。随机等效采样时，ADC在固定采样率(周期T)下连续工作。顺序等效采样时，每一次触发就启动一次采样，得到一个采样值，这个值就对应着被采样信号在一个周期内某一点的幅度值，采集的样本点相对于被采样信号在时间位置上可以是步进，步退，差额。步进延时信号产生电路广泛应用于顺序等效采样系统中。目前，有两大类产生步进延时信号的方法：快慢斜波比较法和可编程延时芯片产生方法。快慢斜波比较法精度较高可达到10ps，但是总延时过小，一般在10ns量级；可编程延时芯片产生方法，最小延时步长精度较高也可以达到10ps，稳定性相较于快慢斜波比较法要高很多，为了增加可编程延时芯片的总延时一般选择多片芯片级联的方式，增加了系统的复杂性。现有的步进延时信号产生方法一般采用可编程延时芯片，大多无法在保证
延时精度的同时拓展总延时，或者系统成本过高。如申请号200910241534.2的专利申请“可动态校准的高精度步进延迟产生方法”，利用了可编程延时芯片SY89297U实现延时。如申请号为200910214528.8的专利申请“一种可编程步进延时时基和采样系统”，利用了5片细延时芯片MC100EP195进行级联，已达到拓展总延时的目的。如申请号为201410001964.8的专利申请“基于延时信号的顺序采样电路及采样方法”，利用了细延时芯片MC100EP195和可编程延时线DS1123L进行级联，已达到拓展总延时的目的，但成本较高。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种细延时最小延时步长10ps，总延时理论可以无限长的基于延时信号的顺序等效采样电路及采样方法，采用粗、细延时结合的方法，结合了细延时的延时步长小、粗延时的延时范围大的特点，具有成本低廉、架构简单易于实现、延时步长小、总延时可以无限长的特点，可以应用在等效采样系统中，解决了不能方便的兼顾最小延时步长和总延时的难题。为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是：一种基于可编程延时芯片的等效采样电路，包括依次连接的信号产生模块U1、延时模块U2、采样门电路模块U3和分别与所述信号产生模块U1和延时模块U2相连的控制模块U4。进一步地，所述延时模块U2包括粗延时单元P1、电平转换单元P2和细延时单元P3；所述粗延时单元P1对输入信号进行粗延时，所述细延时单元P3对粗延时之后的信号进行细延时，所述电平转换单元P2将所述粗延时单元P1输出信号转换为所述细延时单元P3所需的电平并输出至所述细延时单元P3，将所述细延时单元P3的输出信号转换为所述采样门电路模块U3所需的电平并输出至所述采样门电路模块U3。进一步地，所述控制模块U4采用型号为5CSXFC6D6F31C8NES的FPGA控制所述粗延时单元P1和细延时单元P3的延时过程。进一步地，所述粗延时单元P1采用外部高稳晶振配合所述FPGA内部计数器与触发器对输入信号进行粗延时；所述细延时单元P3采用MC100EP195芯片，对所述粗延时之后的信号进行细延时；所述电平转换单元P2采用电平转换芯片MC10EPT20和电平转换芯片MC100EPT21，所述电平转换芯片MC10EPT20将所述粗延时单元P1输出的CMOS电平转换为差分LVPECL电平并输出至所述细延时单元P3，所述电平转换芯片MC100EPT21将所述细延时单元P3输出的LVPECL电平转换为COMS电平并输出至所述采样门电路模块U3。进一步地，所述信号产生模块U1采用高稳晶振产生触发脉冲。更进一步地，所述采样门电路模块U3采用四管平衡采样门电路对高频信号采样。一种基于可编程延时芯片的等效采样方法，包括以下步骤：S1.确定延时参数；S11.确定总延时：T＝N1τm+N2τn；其中T为总延时，τm粗延时步长，τn为细延时步长，N1粗延时计数，N2细节延时计数；S12.确定粗延时的延时步长τm为晶振周期整数倍，根据总延时T、粗延时的延时步长τm、细延时的最小延时步长确定细延时的延时步长τn，根据T、τm、τn确定N1、N2，即可得到粗延时、细延时的具体计数方法；S13.根据总延时、粗延时的计数方法、细延时的延时步长确定和S2.产生一个稳定的周期性信号；S3.根据信号延时要求对周期性信号进行延时。更进一步地，所述细延时的延时量与所述粗延时步长相等。该采样电路包括延时步进系统和采样门电路，信号产生模块U1利用高稳晶振产生触发脉冲。延时模块U2包括粗延时单元P1、电平转换单元P2、细延时单元P3，粗延时单元P1采用外部高稳晶振配合FPGA内部计数器与触发器对输入信号进行粗延时；细延时单元P3采用一片Onsemi公司的MC100EP195芯片，用于对粗延时之后的信号进行细延时；电平转换单元P2用于将粗延时单元的输出信号转换为细延时单元P3需要的电平并输出至细延时单元P3，将细延时单元P3的输出信号转换为后续采样门电路所需要的电平并输出至采样门电路模块U3。采样门电路模块U3利用四管平衡采样门电路对高频信号采样。控制模块U4利用FPGA控制粗延时和细延时部分具体的延时过程。粗延时单元P1采用外部高稳晶振配合配合FPGA内部计数器与触发器对输入信号进行粗延时；电平转换单元P2采用Onsemi公司的电平转换芯片MC10EPT20将粗延时单元P1输出的CMOS电平转换为差分LVPECL电平并输出至细延时单元P3；采用Onsemi公司的电平转换芯片MC100EPT21将细延时单元P3输出的LVPECL电平转换为COMS电平并输出至采样门电路模块U3。控制单元采用型号为5CSXFC6D6F31C8NES的FPGA。该采样电路仅采用FPGA+细延时芯片，实现了无限时间长度的精确延时，FPGA同时作为延时和控制逻辑单元。本专利技术的有益效果：1、采用FPGA+可编程延时芯片的基本结构，充分利用FPGA的资源，粗细延时级联实现大范围、高精度的延时信号输出，设计简单，性价比高。2、利用FPGA实现粗延时部分，大大降低了系统设计的复杂度，并且理论上可以做到无限长时间的延时。3、本采样电路的细延时部分采用Onsemi公司的MC100EP195，该芯片具有温度补偿功能，相较于其他可编程延时芯片具有很小的抖动和积分非线性。4、本采样电路的电平转换单元采用Onsemi公司的电平转换芯片MC10EPT20将粗延时单元输出的CMOS电平转换为差分LVPECL电平；采用Onsemi公司的电平转换芯片MC100EPT21将细延时单元输出的LVPECL电平转换为COMS电平。设计过程思路简单清晰，布局布线充分考虑信号完整性，降低信号畸变，保证信号质量。5、粗延时单元最小延时步长10n本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于可编程延时芯片的等效采样电路，其特征在于：包括依次连接的信号产生模块(U1)、延时模块(U2)、采样门电路模块(U3)和分别与所述信号产生模块(U1)和延时模块(U2)相连的控制模块(U4)。

【技术特征摘要】
1.一种基于可编程延时芯片的等效采样电路，其特征在于：包括依次连接的信号产生模块(U1)、延时模块(U2)、采样门电路模块(U3)和分别与所述信号产生模块(U1)和延时模块(U2)相连的控制模块(U4)。2.如权利要求1所述的基于可编程延时芯片的等效采样电路，其特征在于：所述延时模块(U2)包括粗延时单元(P1)、电平转换单元(P2)和细延时单元(P3)；所述粗延时单元(P1)对输入信号进行粗延时，所述细延时单元(P3)对粗延时之后的信号进行细延时，所述电平转换单元(P2)将所述粗延时单元(P1)输出信号转换为所述细延时单元(P3)所需的电平并输出至所述细延时单元(P3)，将所述细延时单元(P3)的输出信号转换为所述采样门电路模块(U3)所需的电平并输出至所述采样门电路模块(U3)。3.如权利要求2所述的基于可编程延时芯片的等效采样电路，其特征在于：所述控制模块(U4)采用型号为5CSXFC6D6F31C8NES的FPGA控制所述粗延时单元(P1)和细延时单元(P3)的延时过程。4.如权利要求3所述的基于可编程延时芯片的等效采样电路，其特征在于：所述粗延时单元(P1)采用外部高稳晶振配合所述FPGA内部计数器与触发器对输入信号进行粗延时；所述细延时单元(P3)采用MC100EP195芯片，对所述粗延时之后的信号进行细延时；所述电平转换单元(P2)采用电平转换芯片MC10EPT20和电平转换...

【专利技术属性】
技术研发人员：周立青，刘宇航，李德识，吴建斌，陈小桥，王琦，陈隆，项进喜，
申请(专利权)人：武汉大学，
类型：发明
国别省市：湖北;42