一种提高模拟量Trimming程序测试效率的方法技术

本发明专利技术提出一种提高模拟量Trimming程序测试效率的方法，包括下列步骤：根据当前测试晶圆测试芯片的已测临近芯片测试信息确定DAC扫描时的起始值；设置扫描步进数值；开始扫描直至扫描成功或扫描至极值判为失败为止。本方法使芯片模拟量Trimming程序的测试方法更合理，测试结果更可靠，并有效地改善了测试时效性问题。

【技术实现步骤摘要】
一种提高模拟量Trimming程序测试效率的方法
本专利技术属于微电子领域中的芯片功能性测试领域，且特别涉及一种提高模拟量Trimming程序测试效率的方法。
技术介绍
在Flash芯片测试时，时常需要对模拟量的DAC值进行扫描，直至搜寻到合适的DAC值，即修调(Trimming)测试。传统的模拟量Trimming测试采用的方法是对于每颗测试芯片的DAC扫描方式统一从0开始扫向末尾值(例如31)，例如以扫描步进DACstp＝1，扫描最小值DACmin＝0扫向末尾值DACmax＝31为例。该方法在编写测试程序时简单方便，易于撰写，对于所有测试芯片都采用相同的测试模式。但此方法相对耗时较长，特别是对于量产产品的测试需求，时效性显得尤为重要。
技术实现思路
本专利技术通过提出一种新的DAC扫描方式来减少芯片模拟量Trimming程序的测试时间，提高测试效率。为了达到上述目的，本专利技术提出一种提高模拟量Trimming程序测试效率的方法，包括下列步骤：根据当前测试晶圆测试芯片的已测临近芯片测试信息确定DAC扫描时的起始值；设置扫描步进数值；开始扫描直至扫描成功或扫描至极值判为失败为止。进一步的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种提高模拟量Trimming程序测试效率的方法，其特征在于，包括下列步骤：根据当前测试晶圆测试芯片的已测临近芯片测试信息确定DAC扫描时的起始值；设置扫描步进数值；开始扫描直至扫描成功或扫描至极值判为失败为止。

【技术特征摘要】
1.一种提高模拟量Trimming程序测试效率的方法，其特征在于，包括下列步骤：根据当前测试晶圆测试芯片的已测临近芯片测试信息确定DAC扫描时的起始值；设置扫描步进数值；开始扫描直至扫描成功或扫描至极值判为失败为止。2.根据权利要求1所述的提高模拟量Trimming程序测试效率的方法，其特征在于，所述已测临近芯片为当前测试晶圆测试芯片的上方及左/右侧的已测芯片。3.根据权利要求1所述的提高模拟量Trimming程序测试效率的方法，其特征在于，该方法将已测临近芯片测得的DAC的平均值，作为当前测试芯片DAC扫描时的起始值。4.根据权利要求1所述的提高模拟量Trimming程序测试效率的方法，其特征在于，所述扫描步进设置为±1。5.根据权利要求1所述的提高模拟量Trimming程序测试效率的方法，其特征在于，如果当前测试晶圆测试芯片的两颗已测临近芯片中只存在一颗...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱岚，郑鹏飞，李强，
申请(专利权)人：上海华力微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31