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本发明提出一种提高模拟量Trimming程序测试效率的方法，包括下列步骤：根据当前测试晶圆测试芯片的已测临近芯片测试信息确定DAC扫描时的起始值；设置扫描步进数值；开始扫描直至扫描成功或扫描至极值判为失败为止。本方法使芯片模拟量Trimmi...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。

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