一种薄膜厚度检测方法技术

本发明专利技术属于薄膜测量技术领域，具体的说是一种薄膜厚度检测方法，该方法包括以下步骤：S1，将待检测的薄膜固定在薄膜厚度检测仪上；S2，启动S1中的薄膜厚度检测仪对薄膜的厚度进行检测；S3，S2中检测完成后，对检测后的薄膜进行加热，并利用温度传感器对薄膜的温度进行检测，当薄膜的整体周围环境温度达到预设值时，再次对薄膜的厚度进行检测；S4，改变薄膜的温度，测量多组薄膜在不同温度下的厚度。本方法通过采用薄膜厚度检测仪实现对薄膜厚度的测量，且通过改变薄膜周围整体的温度，实现在不同温度下对薄膜厚度的测量，从而便于研究薄膜受温度的影响规律。

【技术实现步骤摘要】
一种薄膜厚度检测方法
本专利技术属于薄膜测量
，具体的说是一种薄膜厚度检测方法。
技术介绍
薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量，测厚仪测量薄膜厚度是将两个激光传感器安装在被测物上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上，随着被测物的移动，传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种薄膜厚度检测方法，本方法通过采用薄膜厚度检测仪实现对薄膜厚度的测量，且通过改变薄膜周围整体的温度，实现在不同温度下对薄膜厚度的测量，从而便于研究薄膜受温度的影响规律。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种薄膜厚度检测方法，该方法包括以下步骤：S1，将待检测的薄膜固定在薄膜厚度检测仪上；S2，启动S1中的薄膜厚度检测仪对薄膜的厚度进行检测；S3，S2中检测完成后，对检测后的薄膜进行加热，并利用温度传感器对薄膜的温度进行检测，当薄膜的整体周围环境温度达到预设值时，再次对薄膜的厚度进行检测；S4，改变薄膜的温度，测量多组薄膜在不同温度下的厚度；本方法中采用的薄膜厚度检测仪包括机罩，用于支撑所述机罩的所述底座顶部设置两条第一滑槽，两条所述第一滑槽之间设置两条第二滑槽，所述第一滑槽内部安装有固定薄膜的第一固定机构和第二固定机构，所述第一固定机构与所述第二固定机构之间通过螺丝杆连接，且所述螺丝杆一端安装从动轮，所述从动轮与主动轮啮合，所述主动轮安装在电动机的输出端；所述底座一侧设置机罩，所述机罩一侧安装有用于保护内部结构的第一防护板，所述机罩另一侧安装有用于保护内部结构的第二防护板，所述第二防护板侧壁安装铭牌，所述机罩侧壁设置显示屏，所述显示屏下方设置调节按钮，所述调节按钮一侧设置功能按钮，所述机罩底部安装伸缩杆，所述伸缩杆一端安装压盘，所述压盘底部与底座顶部均设置激光传感器。具体的，所述第一固定机构与第二固定机构均包括第一滑块、支撑板、第二连接板、压板和调节螺杆，且所述支撑板两端分别设置第一滑块，两个所述第一滑块侧壁设置第一连接板，且所述第二连接板的两端与两个第一连接板之间通过支撑块连接，两个所述第一滑块侧壁均设有第三滑槽，且所述压板的两端安装在第三滑槽内，所述调节螺杆安装在压板顶部，且所述调节螺杆与压板之间通过两根加强筋固定。具体的，同一侧的所述第一滑槽与第二滑槽之间通过第二通槽连通，且所述第一连接板位于第二通槽内。具体的，两个所述第二滑槽之间通过第一通槽连通，且所述第二连接板位于第一通槽内。具体的，所述第一固定机构与底座之间呈固定连接，且所述第二固定机构内部的第二连接板内部设有螺纹孔，且所述螺丝杆穿过螺纹孔。具体的，所述机罩与第一防护板和第二防护板之间均通过内六角螺栓固定，且所述内六角螺栓分别穿过第一防护板与第二防护板上设置的第一通孔并安装在机罩两侧设置的螺栓孔内。具体的，所述第二防护板侧壁设有四个铆钉安装孔，且所述铭牌通过铆钉固定在第二防护板侧壁，且所述铆钉穿过铭牌内部设置的第二通孔后安装在铆钉安装孔内。具体的，所述支撑块的顶面与底座的顶面位于同一基准面内，且所述支撑块顶部设有防滑纹。与现有技术相比，本专利技术的有益效果如下：(1)本方法通过采用薄膜厚度检测仪实现对薄膜厚度的测量，且通过改变薄膜周围整体的温度，实现在不同温度下对薄膜厚度的测量，从而便于研究薄膜受温度的影响规律。(2)本方法采用的薄膜厚度检测仪，通过设置第一固定机构和第二固定机构进而可以将质量较轻的薄膜拉平，进而避免了薄膜平放在底座上时由于发生了褶皱而导致测量数据误差偏大的现象，同时通过设置螺丝杆可以使使用者能够通过控制电动机控制第二固定机构的移动，进而使测厚仪能够自动将薄膜拉平，同时通过设置加强筋可以使压板能够受力均匀，进而使压板能够将薄膜夹紧。(3)本方法采用的薄膜厚度检测仪，通过在机罩的两侧设置防护板进而可以对机罩起到保护作用，进而避免了由于外界的碰撞而导致机罩和机罩内部的电子元件发生损坏，由于同侧的第一滑槽与第二滑槽之间通过第二通槽连通，两个第二滑槽之间通过第一通槽连通，进而使第二固定机构能够在螺丝杆的带动下自由的移动。附图说明下面结合附图对本专利技术作进一步说明。图1为本方法采用的薄膜厚度检测仪的整体结构示意图；图2为本专利技术整体爆炸结构示意图；图3为本专利技术第二固定机构结构示意图；图4为本专利技术第一固定机构与第二固定机构传动结构示意图；图5为本专利技术图2中局部A的放大示意图。图中：1、机罩；2、显示屏；3、第一防护板；4、第二防护板；5、铭牌；6、铆钉；7、内六角螺栓；8、功能按钮；9、调节按钮；10、伸缩杆；11、压盘；12、激光传感器；13、第一固定机构；14、第一滑槽；15、第二固定机构；16、第二滑槽；17、底座；18、螺栓孔；19、铆钉安装孔；20、第一通孔；21、第二通孔；22、调节螺杆；23、支撑板；24、第一滑块；25、第一连接板；26、支撑块；27、第二连接板；28、螺纹孔；29、第三滑槽；30、压板；31、加强筋；32、螺丝杆；33、从动轮；34、主动轮；35、电动机；36、第一通槽；37、第二通槽。具体实施方式为了使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本专利技术。如图1至图5所示，本专利技术所述的一种薄膜厚度检测方法，该方法包括以下步骤：S1，将待检测的薄膜固定在薄膜厚度检测仪上；S2，启动S1中的薄膜厚度检测仪对薄膜的厚度进行检测；S3，S2中检测完成后，对检测后的薄膜进行加热，并利用温度传感器对薄膜的温度进行检测，当薄膜的整体周围环境温度达到预设值时，再次对薄膜的厚度进行检测；S4，改变薄膜的温度，测量多组薄膜在不同温度下的厚度；本方法中采用的薄膜厚度检测仪包括机罩1，用于支撑所述机罩1的所述底座17顶部设置两条第一滑槽14，两条所述第一滑槽14之间设置两条第二滑槽16，所述第一滑槽14内部安装有固定薄膜的第一固定机构13和第二固定机构15，所述第一固定机构13与所述第二固定机构15之间通过螺丝杆32连接，且所述螺丝杆32一端安装从动轮33，所述从动轮33与主动轮34啮合，所述主动轮34安装在电动机35的输出端；所述底座17一侧设置机罩1，所述机罩1一侧安装有用于保护内部结构的第一防护板3，所述机罩1另一侧安装有用于保护内部结构的第二防护板4，所述第二防护板4侧壁安装铭牌5，所述机罩1侧壁设置显示屏2，所述显示屏2下方设置调节按钮9，所述调节按钮9一侧设置功能按钮8，所述机罩1底部安装伸缩杆10，所述伸缩杆10一端安装压盘11，所述压盘11底部与底座17顶部均设置激光传感器12。作为本专利技术的一种优选方式，所述第一固定机构13与第二固定机构15均包括第一滑块24、支撑板23、第二连接板27、压板30和调节螺杆22，且所述支撑板23两端分别设置第一滑块24，两个所述第一滑块24侧壁设置第一连接板25，且所述第二连接板27的两端与两个第一连接板25之间通过支撑块26连接，两个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种薄膜厚度检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：S1，将待检测的薄膜固定在薄膜厚度检测仪上；S2，启动S1中的薄膜厚度检测仪对薄膜的厚度进行检测；S3，S2中检测完成后，对检测后的薄膜进行加热，并利用温度传感器对薄膜的温度进行检测，当薄膜的整体周围环境温度达到预设值时，再次对薄膜的厚度进行检测；S4，改变薄膜的温度，测量多组薄膜在不同温度下的厚度；本方法中采用的薄膜厚度检测仪包括机罩(1)，用于支撑所述机罩(1)的所述底座(17)顶部设置两条第一滑槽(14)，两条所述第一滑槽(14)之间设置两条第二滑槽(16)，所述第一滑槽(14)内部安装有固定薄膜的第一固定机构(13)和第二固定机构(15)，所述第一固定机构(13)与所述第二固定机构(15)之间通过螺丝杆(32)连接，且所述螺丝杆(32)一端安装从动轮(33)，所述从动轮(33)与主动轮(34)啮合，所述主动轮(34)安装在电动机(35)的输出端；所述底座(17)一侧设置机罩(1)，所述机罩(1)一侧安装有用于保护内部结构的第一防护板(3)，所述机罩(1)另一侧安装有用于保护内部结构的第二防护板(4)，所述第二防护板(4)侧壁安装铭牌(5)，所述机罩(1)侧壁设置显示屏(2)，所述显示屏(2)下方设置调节按钮(9)，所述调节按钮(9)一侧设置功能按钮(8)，所述机罩(1)底部安装伸缩杆(10)，所述伸缩杆(10)一端安装压盘(11)，所述压盘(11)底部与底座(17)顶部均设置激光传感器(12)。...

【技术特征摘要】
1.一种薄膜厚度检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：S1，将待检测的薄膜固定在薄膜厚度检测仪上；S2，启动S1中的薄膜厚度检测仪对薄膜的厚度进行检测；S3，S2中检测完成后，对检测后的薄膜进行加热，并利用温度传感器对薄膜的温度进行检测，当薄膜的整体周围环境温度达到预设值时，再次对薄膜的厚度进行检测；S4，改变薄膜的温度，测量多组薄膜在不同温度下的厚度；本方法中采用的薄膜厚度检测仪包括机罩(1)，用于支撑所述机罩(1)的所述底座(17)顶部设置两条第一滑槽(14)，两条所述第一滑槽(14)之间设置两条第二滑槽(16)，所述第一滑槽(14)内部安装有固定薄膜的第一固定机构(13)和第二固定机构(15)，所述第一固定机构(13)与所述第二固定机构(15)之间通过螺丝杆(32)连接，且所述螺丝杆(32)一端安装从动轮(33)，所述从动轮(33)与主动轮(34)啮合，所述主动轮(34)安装在电动机(35)的输出端；所述底座(17)一侧设置机罩(1)，所述机罩(1)一侧安装有用于保护内部结构的第一防护板(3)，所述机罩(1)另一侧安装有用于保护内部结构的第二防护板(4)，所述第二防护板(4)侧壁安装铭牌(5)，所述机罩(1)侧壁设置显示屏(2)，所述显示屏(2)下方设置调节按钮(9)，所述调节按钮(9)一侧设置功能按钮(8)，所述机罩(1)底部安装伸缩杆(10)，所述伸缩杆(10)一端安装压盘(11)，所述压盘(11)底部与底座(17)顶部均设置激光传感器(12)。2.根据权利要求1所述的一种薄膜厚度检测方法，其特征在于：所述第一固定机构(13)与第二固定机构(15)均包括第一滑块(24)、支撑板(23)、第二连接板(27)、压板(30)和调节螺杆(22)，且所述支撑板(23)两端分别设置第一滑块(24)，两个所述第一滑块(24)侧壁设置第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：王顺，
申请(专利权)人：王顺，
类型：发明
国别省市：四川,51