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本发明属于薄膜测量技术领域，具体的说是一种薄膜厚度检测方法，该方法包括以下步骤：S1，将待检测的薄膜固定在薄膜厚度检测仪上；S2，启动S1中的薄膜厚度检测仪对薄膜的厚度进行检测；S3，S2中检测完成后，对检测后的薄膜进行加热，并利用温度传感...
该专利属于王顺所有，仅供学习研究参考，未经过王顺授权不得商用。

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