测试方法、测试设备、测试载板及测试系统技术方案

本发明专利技术的实施例提出一种测试方法、测试设备、测试载板及测试系统。该测试方法包括：通过测试设备的第一输入输出端口向测试载板的第一通道输出第一测试信号，其中所述第一测试信号用于生成第二测试信号和第三测试信号；通过所述第一输入输出端口接收所述第一通道返回的第三反馈信号，其中所述第三反馈信号根据第一反馈信号和第一反馈信号生成；根据所述第三反馈信号判断第一待测芯片和第二待测芯片是否处于正常工作状态。通过本发明专利技术提供的技术方案，可以提高测试设备同时测量的待测芯片的数量。

Test method, test equipment, test carrier board and testing system

The embodiment of the invention provides a testing method, a testing device, a test carrier board and a testing system. The test method includes: outputting the first test signal to the first channel of the test board through the first input and output port of the test device, wherein the first test signal is used to generate the second test signal and the third test signal, and receiving the third feedback signal returned from the first channel through the first input and output port of the test device. The third feedback signal is generated according to the first feedback signal and the first feedback signal, and the first chip to be tested and the second chip to be tested are judged to be in normal working state according to the third feedback signal. Through the technical scheme provided by the invention, the number of chips to be measured at the same time by the test equipment can be increased.

【技术实现步骤摘要】
测试方法、测试设备、测试载板及测试系统
本专利技术属于测试
，具体而言，涉及一种测试方法、测试设备、测试载板及测试系统。
技术介绍
现有技术中，各种芯片例如DRAM(DynamicRandomAccessMemory，即动态随机存取存储器)对性能的要求极高，为了保证在应用过程不出现差错，需要对出厂的芯片性能进行测试。由于现有的测试设备(Tester)的测试端口数量有限，为了能够加快芯片的测试速度，提高芯片的产能，就需要增加测试设备的数量，但这样相应的会增加生产成本。需要说明的是，在上述
技术介绍
部分专利技术的信息仅用于加强对本专利技术的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面，提高一种测试方法，包括：通过测试设备的第一输入输出端口向测试载板的第一通道输出第一测试信号，其中所述第一测试信号用于生成第二测试信号和第三测试信号；通过所述第一输入输出端口接收所述第一通道返回的第三反馈信号，其中所述第三反馈信号根据第一反馈信号和第二反馈信号生成；根据所述第三反馈信号判断第一待测芯片和第二待测芯片是否处于正常工作状态。在本专本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试方法，其特征在于，包括：通过测试设备的第一输入输出端口向测试载板的第一通道输出第一测试信号，其中所述第一测试信号用于生成第二测试信号和第三测试信号；通过所述第一输入输出端口接收所述第一通道返回的第三反馈信号，其中所述第三反馈信号根据第一反馈信号和第二反馈信号生成；根据所述第三反馈信号判断第一待测芯片和第二待测芯片是否处于正常工作状态。

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，包括：通过测试设备的第一输入输出端口向测试载板的第一通道输出第一测试信号，其中所述第一测试信号用于生成第二测试信号和第三测试信号；通过所述第一输入输出端口接收所述第一通道返回的第三反馈信号，其中所述第三反馈信号根据第一反馈信号和第二反馈信号生成；根据所述第三反馈信号判断第一待测芯片和第二待测芯片是否处于正常工作状态。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述第一反馈信号由所述第一待测芯片响应于所述第二测试信号生成，所述第二反馈信号由所述第二待测芯片响应于所述第三测试信号生成。3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，根据所述第三反馈信号判断所述第一待测芯片和所述第二待测芯片是否处于正常工作状态，包括：若所述第三反馈信号小于第一阈值或者大于第二阈值，则判定所述第一待测芯片和所述第二待测芯片处于正常工作状态；若所述第三反馈信号大于等于所述第一阈值且小于等于所述第二阈值，则判定所述第一待测芯片或所述第二待测芯片处于非正常工作状态。4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，根据所述第三反馈信号判断所述第一待测芯片和所述第二待测芯片是否处于正常工作状态，包括：根据所述第三反馈信号获得第四反馈信号；若所述第四反馈信号小于第三阈值或者大于第四阈值，则判定所述第一待测芯片和所述第二待测芯片处于正常工作状态；若所述第四反馈信号大于等于所述第三阈值且小于等于所述第四阈值，则判定所述第一待测芯片或所述第二待测芯片处于非正常工作状态。5.一种测试方法，其特征在于，包括：通过测试载板的第一通道接收测试设备的第一输入输出端口提供的第一测试信号；根据所述第一测试信号生成第二测试信号和第三测试信号；分别通过所述测试载板的第二通道和第三通道将所述第二测试信号和所述第三测试信号发送至第一待测芯片和第二待测芯片；分别通过所述第二通道和所述第三通道接收第一反馈信号和第二反馈信号，其中所述第一反馈信号由所述第一待测芯片响应于所述第二测试信号生成，所述第二反馈信号由所述第二待测芯片响应于所述第三测试信号生成；根据所述第一反馈信号和所述第二反馈信号生成第三反馈信号；通过所述第一通道将所述第三反馈信号发送至所述第一输入输出端口，其中所述第三反馈信号用于判断所述第一待测芯片和所述第二待测芯片是否处于正常工作状态。6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34