The invention provides an integrated circuit test probe card and a test system protection structure. The integrated circuit test system protection structure includes a protection piece and a switching piece. The protection piece includes a fuse piece and two pins. The two ends of the fuse piece are connected with one pin, and the maximum current resistance value of the fuse piece is less than the probe card. The first adapter and the second adapter are both provided with a hole, and the pin is detachable and correspondingly connected with the hole. In the protection structure of the IC test probe card and the test system provided by the invention, the protection function is achieved by fusing the fuse in the protection piece, and the connecting pin of the protection piece is connected with the adapter with the through hole so that the probe card does not need to be disassembled, and the probe card is replaced without additional professional technology. The protector is fast and saves a lot of time. Because of convenient replacement, it can save manpower and material resources and cost.
【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构
本专利技术涉及集成电路制造
,尤其涉及一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构、集成电路测试系统。
技术介绍
在半导体制造技术中,集成电路芯片在加工完成后需要进行测试,通常可采用集成电路测试系统如ATE(AutoTestEquipment,自动测试设备)来完成集成电路芯片的测试。在晶圆的测试过程中,由于在晶圆上芯片的面积很小,不能通过直接的方法与ATE相连来测试其电气参数,所以就需要引入具有探针的探针卡来转接。由于探针的材质限制,探针会有耐流值,如果超过这个极限,探针会发生融化甚至熔断。又由于探针受到形状大小粗细的限制,各个部分的耐流值是不同的,而针尖是整根探针最细最小的部分,这部分的耐流值也最小,即探针通过的电流小于针尖的耐流值,对于整根探针都是安全的。所以选取针尖这部分的耐流值为整根探针的最大耐流值。一般探针卡在设计的时候都会考虑到最大耐流值,但是由于晶圆工艺缺陷等原因,测试过程中有时会产生很大的短路电流,一旦超过探针的最大耐流值,就会导致探针熔断而无法继续使用,从而影响生产。甚至如果没有备用设备进行更换,则会导致产线停线。另外,更换探针需要一定的专业技术,需要额外的人力、物力、财力和时间,增加了成本,延误了交期。因此,如何提供一种对探针进行保护的结构是本领域技术人员亟待解决的一个技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构、集成电路测试系统,解决测试过程中探针损坏的问题。为了解决上述问题,本专利技术提供一种集成电路测试系统保护结构,所述集成电路测试系统保护结构包 ...
【技术保护点】
1.一种集成电路测试系统保护结构,其特征在于,所述集成电路测试系统保护结构包括:保护件,所述保护件包括熔断件和两个引脚,所述熔断件两端各连接一个所述引脚,所述熔断件的最大耐流值小于探针卡的最大耐流值;转接件,所述转接件包括第一转接件和第二转接件,所述第一转接件和所述第二转接件均设置有过孔,所述引脚可拆卸式对应连接所述过孔。
【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试系统保护结构,其特征在于,所述集成电路测试系统保护结构包括:保护件,所述保护件包括熔断件和两个引脚,所述熔断件两端各连接一个所述引脚,所述熔断件的最大耐流值小于探针卡的最大耐流值;转接件,所述转接件包括第一转接件和第二转接件,所述第一转接件和所述第二转接件均设置有过孔,所述引脚可拆卸式对应连接所述过孔。2.如权利要求1所述集成电路测试系统保护结构,其特征在于,所述熔断件的最大耐流值为探针卡的最大耐流值的90%以下。3.如权利要求1或2所述集成电路测试系统保护结构,其特征在于,所述熔断件的材料包括铅锑合金。4.如权利要求1或2所述集成电路测试系统保护结构,其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员:顾良波,凌俭波,岳小兵,王锦,季海英,
申请(专利权)人:上海华岭集成电路技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:上海,31
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