验证用于互连测量的解嵌器的技术制造技术

用于验证解嵌器以用于互连测量的技术包括验证计算设备。验证计算设备用于测量通过单个被测设备发送的第一信号，并测量通过一组复制的被测设备发送的第二信号。一组复制的被测设备中的每个被测设备与单个被测设备实质上相同。另外，验证计算设备将解嵌器应用于测量的第一信号以消除测试固定装置对测量的第一信号的影响，将解嵌器应用于测量的第二信号以消除测试固定装置对测量的第二信号的影响，将解嵌的第一信号与其自身级联以生成级联的解嵌的第一信号，并将级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较以确定级联的解嵌的第一信号是否与解嵌的第二信号匹配。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】验证用于互连测量的解嵌器的技术相关美国专利申请的交叉引用本申请要求2017年3月15日提交的题为“TECHNOLOGIESFORVERIFYINGADE-EMBEDDERFORINTERCONNECTMEASUREMENT”的美国临时申请专利第15/459,248号的优先权，又要求于2016年3月16日提交的题为“TECHNOLOGIESFORVERIFYINGADE-EMBEDDERFORINTERCONNECTMEASUREMENT”的美国临时专利申请第62/309,190号的优先权。
技术介绍
随着通过与现代计算设备一起使用的互连(即，印刷电路板(PCB)迹线、电缆和其他电导体)的数据传输速度增加，互连及其组件的测量变得具有挑战性。以网络散射参数(S参数)的形式表征互连的矢量网络分析仪已成为用于衡量相对较高频率互连性能的常用工具。当被测互连是标准同轴电缆时，使用矢量网络分析仪进行高质量测量相对简单。然而，当互连是PCB或其他类型导体上的迹线时，通常需要测试固定装置将同轴电缆连接到互连，以使矢量网络分析仪能够表征互连。测试固定装置对通过互连发送的电信号有影响。如果参考互连的S参数是已知的，则可以识别由测试固定装置对通过参考互连发送的测试信号造成的影响，并且可以创建解嵌器以消除所识别的测试固定装置的影响。但是，在某些情况下，参考互连不可用。附图说明本文描述的概念在附图中通过示例而不是限制的方式示出。为了说明的简单和清楚，附图中示出的元件不一定按比例绘制。在认为合适的情况下，在附图中重复附图标记以指示相对应或类似的元件。图1是使用验证计算设备和被测设备来验证解嵌器的系统的至少一个实施例的简化框图；图2是可以由图1的验证计算设备建立的环境的至少一个实施例的简化框图；图3-图5是可以由图1的验证计算设备执行的用于验证解嵌器的方法的至少一个实施例的简化流程图；图6是可以与图1的验证计算设备一起使用的测试套件的至少一个实施例的简化图；图7是可以由图1的验证计算设备执行的用于验证解嵌器的方法的至少一个实施例的简化流程图。具体实施方式虽然本公开的概念易于进行各种修改和替换形式，但是其具体实施例已经通过附图中的示例示出并且将在本文中详细描述。然而，应该理解的是，并不意图将本公开的概念限制于所公开的特定形式，而是相反，意图是覆盖与本公开和所附权利要求一致的所有修改、等同物和替代方案。说明书中对“一个实施例”、“实施例”、“说明性实施例”等的引用指示所描述的实施例可包括特定特征、结构或属性，但是每个实施例可以或可以不必须包括该特定特征、结构或属性。而且，这些短语不一定指的是同一实施例。此外，当结合实施例描述特定特征、结构或属性时，认为结合其他实施例来实现这样的特征、结构或属性在本领域技术人员的知识范围内，无论是否未明确描述。另外，应当意识到，以“至少一个A、B和C”的形式包括在列表中的项目可以表示(A)；(B)；(C)；(A和B)；(A和C)；(B和C)；或(A、B和C)。类似地，以“A、B或C中的至少一个”形式列出的项目可以表示(A)；(B)；(C)；(A和B)；(A和C)；(B和C)；或(A、B和C)。在一些情况下，所公开的实施例可以以硬件、固件、软件或其任何组合来实现。所公开的实施例还可以实现为由暂时或非暂时性机器可读(例如，计算机可读)存储介质承载或存储的指令，其可以由一个或多个处理器读取和执行。机器可读存储介质可以体现为用于以机器可读形式存储或发送信息的任何存储设备、机制或其他物理结构(例如，易失性或非易失性存储器、介质盘或其他介质设备)。在附图中，可以以特定布置和/或顺序示出一些结构或方法特征。然而，应该意识到的是，可能不需要这样的特定布置和/或排序。而是，在一些实施例中，这些特征可以以不同于说明性附图中所示的方式和/或顺序来布置。另外，在特定图中包含结构或方法特征并不意味着暗示在所有实施例中都需要这样的特征，并且在一些实施例中，可以不包括这些特征或者可以将这些特征与其他特征组合。现在参考图1，一种用于验证解嵌器的说明性系统100包括耦合到测试套件130的验证计算设备102。在一些实施例中，用于消除测试固定装置对信号测量的影响的一个或多个解嵌器120耦合在验证计算设备102与测试套件130之间。除此之外或者可替代地，一个或多个解嵌器120可以包括在验证计算设备102中并且被实现为一个或多个算法，所述一个或多个算法存储为验证计算设备102中的计算机可执行指令或作为包括在验证计算设备102的一个或多个组件中的专用电路(例如，现场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)等)，如本文中更详细地描述的。验证计算设备102包括处理器104、主存储器106、I/O子系统108、一个或多个信号测量设备110，并且在至少一些实施例中，包括一个或多个解嵌器120。在使用中，如本文更详细描述的，验证计算设备102被配置为通过测试套件130发送测试信号，测量测试信号的属性，例如S参数，将解嵌器120应用于测量的信号，并确定解嵌器是否正确地从测量的信号中消除测试固定装置150的影响，使得仅被测的一个或多个设备(DUT)(即，互连)140的属性表示在解嵌信号中。如本文更详细描述的，DUT140的性能特征(例如，S参数)尚不清楚。在说明性实施例中，验证计算设备102被配置为将解嵌器120应用于仅通过具有单个DUT140的测试套件130发送的第一测试信号，然后将得到的解嵌信号与其自身级联。此外，说明性验证计算设备102被配置为当测试套件包130包括两个复制的DUT140时，将解嵌器120应用于通过测试套件130发送的第二测试信号。说明性验证计算设备102还被配置为确定级联的解嵌信号是否匹配(例如，等于)与复制的DUT140相关联的解嵌信号。如果是，则说明性验证计算设备102被配置为确定解嵌器120被验证(即，正确地从测量的信号中消除测试固定装置150的影响)。验证计算设备102可以体现为能够执行本文描述的功能的任何类型的计算设备。例如，在一些实施例中，验证计算设备102可以体现为但不限于计算机、台式计算机、工作站、服务器计算机、膝上型计算机、笔记本计算机、平板计算机、智能电话、分布式计算系统、多处理器系统、消费者电子设备、智能设备和/或能够验证如本文所述的解嵌器的任何其他计算设备。如图1所示，说明性验证计算设备102包括处理器104、主存储器106、输入/输出子系统108和一个或多个信号测量设备110。当然，在其他实施例中，验证计算设备102可以包括其他或附加组件，例如在台式计算机中常见的那些(例如，各种输入/输出设备)。另外，在一些实施例中，说明性组件中的一个或多个可以并入另一组件中，或者以其它方式形成另一组件的一部分。例如，在一些实施例中，存储器106或其部分可以合并在处理器104中。处理器104可以体现为能够执行本文描述的功能的任何类型的处理器。例如，处理器可以体现为具有一个或多个处理器核的单核或多核处理器、数字信号处理器、微控制器或其他处理器或处理/控制电路。类似地，主存储器106可以体现为当前已知的或将来开发的并且能够执行本文描述的功能的任何类型的易失性或非易失性存储器或数据存储装置。在操作中，主存储器10本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于验证解嵌器的验证计算设备，所述验证计算设备包括：一个或多个处理器；一个或多个其中存储有多个指令的存储器设备，所述多个指令当被执行时，使得所述验证计算设备用于：测量通过单个被测设备发送的第一信号；测量通过一组复制的被测设备发送的第二信号，其中，所述一组复制的被测设备中的每个被测设备与所述单个被测设备实质上相同；将解嵌器应用于测量的第一信号，以消除测试固定装置对所述测量的第一信号的影响；将所述解嵌器应用于测量的第二信号，以消除所述测试固定装置对所述测量的第二信号的影响；将解嵌的第一信号与其自身级联，以生成级联的解嵌的第一信号；以及将所述级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较，以确定所述级联的解嵌的第一信号是否与所述解嵌的第二信号匹配。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.03.16 US 62/309,190;2017.03.15 US 15/459,2481.一种用于验证解嵌器的验证计算设备，所述验证计算设备包括：一个或多个处理器；一个或多个其中存储有多个指令的存储器设备，所述多个指令当被执行时，使得所述验证计算设备用于：测量通过单个被测设备发送的第一信号；测量通过一组复制的被测设备发送的第二信号，其中，所述一组复制的被测设备中的每个被测设备与所述单个被测设备实质上相同；将解嵌器应用于测量的第一信号，以消除测试固定装置对所述测量的第一信号的影响；将所述解嵌器应用于测量的第二信号，以消除所述测试固定装置对所述测量的第二信号的影响；将解嵌的第一信号与其自身级联，以生成级联的解嵌的第一信号；以及将所述级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较，以确定所述级联的解嵌的第一信号是否与所述解嵌的第二信号匹配。2.根据权利要求1所述的验证计算设备，其中，所述多个指令当被执行时还使得所述验证计算设备响应于确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号匹配而确定所述解嵌器被验证。3.根据权利要求1所述的验证计算设备，其中，所述多个指令当被执行时还使得所述验证计算设备响应于确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号不匹配来确定所述解嵌器未被验证。4.根据权利要求3所述的验证计算设备，其中，所述解嵌器是第一解嵌器，并且所述多个指令当被执行时还使得所述验证计算设备选择第二解嵌器以应用于所述测量的第一信号和所述测量的第二信号，以从第一测量的信号和第二测量的信号中消除固定装置的影响。5.根据权利要求1所述的验证计算设备，其中，测量所述第一信号包括测量信号反射或信号损失中的至少一个。6.根据权利要求1所述的验证计算设备，其中，将所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号进行比较包括：确定所述解嵌的第一信号和所述解嵌的第二信号之间的差是否满足阈值差；响应于确定所述差满足所述阈值差，确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号匹配；以及响应于确定所述差不满足所述阈值差，确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号不匹配。7.根据权利要求1所述的验证计算设备，其中，测量所述第一信号包括测量不同频率处通过所述单个被测设备发送的信号。8.根据权利要求1所述的验证计算设备，其中，测量所述第二信号包括测量不同频率处通过所述一组复制的被测设备发送的信号。9.根据权利要求1所述的验证计算设备，其中，测量所述第一信号包括：将所述第一信号发送到第一测试固定装置，所述第一测试固定装置耦合到所述单个被测设备的一端；以及测量第二测试固定装置处所述第一信号的幅度变化，所述第二测试固定装置耦合到所述单个被测设备的相对端。10.根据权利要求9所述的验证计算设备，其中，测量所述第一信号还包括测量所述第一测试固定装置处所述第一信号的反射。11.根据权利要求1所述的验证计算设备，其中，测量所述第二信号包括：将所述第二信号发送到第一测试固定装置，所述第一测试固定装置耦合到所述一组复制的被测设备的一端；以及测量第二测试固定装置处所述第二信号的幅度变化，所述第二测试固定装置耦合到所述一组复制的被测设备的相对端。12.根据权利要求11所述的验证计算设备，其中，测量所述第二信号还包括测量所...

【专利技术属性】
技术研发人员：X·叶，K·肖，
申请(专利权)人：英特尔公司，
类型：发明
国别省市：美国,US