本发明专利技术公开了一种用于测量轴承套圈的工具，包括底支撑和平行度量表，底支撑支撑在轴承套圈下端面上，平行度量表的测量触点与轴承套圈的顶端接触，该工具还包括侧定位装置和垂直差量表，侧定位装置设置在轴承套圈的周边，用于定位轴承套圈；垂直差量表的测量触点与轴承套圈的外周壁接触，侧定位装置包括后支承和压紧机构，后支承包括两条呈一定角度的支臂，两条支臂均支撑在轴承套圈的侧周壁上，压紧机构设置在其中一条支臂的对面，轴承套圈通过压紧机构与后支承配合定位。本发明专利技术设计合理，该结构设置，在磨平面时能够同时测量垂直差，当检查发现垂直差超差时，通过调整磨加工设备，可确保后道工序的基准精度，控制产品质量，减少报废率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于轴承零部件
，具体涉及一种用于测量轴承套圈的工具。
技术介绍
轴承套圈平面和外径是后道工序磨沟道和磨内孔的基准，工艺要求通过磨平面、磨外径后，确保套圈两平面的平行度，外径圆度和平面及端面的垂直度， 通常在加工过程中，及在磨平面后，如果存在磨轮调整不当或设备进料导轨、出料导轨调整不当，就会使平面与外径不垂直，即出现垂直差超差。目前在磨平面时使用的H902高度测量仪只能检查平行度，无法同时控制垂直差，导致垂直度达不到要求，不利于轴承套圈的后续加工工序。
技术实现思路
针对现有技术中存在的问题，本专利技术的目的在于设计提供一种用于测量轴承套圈的工具。所述的一种用于测量轴承套圈的工具，包括底支撑和平行度量表，底支撑支撑在轴承套圈下端面上，平行度量表的测量触点与轴承套圈的顶端接触，其特征在于该工具还包括侧定位装置和垂直差量表，侧定位装置设置在轴承套圈的周边，用于定位轴承套圈；垂直差量表的测量触点与轴承套圈的外周壁接触，侧定位装置包括后支承和压紧机构，所述后支承包括两条呈一定角度的支臂，两条支臂均支撑在轴承套圈的侧周壁上，压紧机构设置在其中一条支臂的对面，轴承套圈通过压紧机构与后支承配合定位。所述的一种用于测量轴承套圈的工具，其特征在于所述后支承的两条支臂相互垂直。所述的一种用于测量轴承套圈的工具，其特征在于所述 压紧机构包括压力杆和压簧，压力杆的一端铰接固定于一基座上，压力杆的中部后侧设有压簧，压簧顶住压力杆，将压力杆压贴在轴承套圈的外周壁上。所述的一种用于测量轴承套圈的工具，其特征在于所述压力杆的中部前侧固定连接有一根用于顶住轴承套圈外周壁的顶杆。本专利技术设计合理，该结构设置，在磨平面时能够同时测量垂直差，当检查发现垂直差超差时，通过调整磨加工设备，可确保后道工序的基准精度，控制产品质量，减少报废率。【附图说明】图1为本专利技术使用状态图； 图2为图1的俯视图图中:1-底支撑，2-平行度量表，3-轴承套圈，4-垂直差量表，5-后支承，6-压紧机构，7-支臂，8-压力杆，9-压簧，10-顶杆。【具体实施方式】以下结合说明书附图来进一步说明本专利技术。如图1-2所示，本专利技术一种用于测量轴承套圈的工具，包括底支撑1和平行度量表2，底支撑1支撑在轴承套圈3下端面上，平行度量表1的测量触点与轴承套圈3的顶端接触，该工具还包括侧定位装置和垂直差量表4，侧定位装置设置在轴承套圈3的周边，用于定位轴承套圈3 ;垂直差量表4的测量触点与轴承套圈3的外周壁接触，侧定位装置包括后支承5和压紧机构6，后支承5包括两条相互垂直的支臂7，两条支臂7均支撑在轴承套圈3的侧周壁上，压紧机构6设置在其中一条支臂7的对面，轴承套圈3通过压紧机构6与后支承5配合定位。压紧机构6的具体结构为:包括压力杆8和压簧9，压力杆8的一端铰接固定于一基座上，压力杆8的中部后侧设有压簧9，压簧9顶住压力杆8，将压力杆8压贴在轴承套圈3的外周壁上。压力杆8的中部前侧固定连接有一根用于顶住轴承套圈3外周壁的顶杆10。压紧机构6与后支承5配合使用，从而实现轴承套圈3的定位。本专利技术主要用于测量轴承套圈的平行度和垂直差数据，平行度通过底支撑1和平行度量表2配合进行测量，底支撑1支撑在轴承套圈3下端面上，平行度量表2的测量触点与轴承套圈3的顶端接触；垂直差通过侧定位装置和垂直差量表4配合进行测量，侧定位装置设置在轴承套圈3的周边，用于定位轴承套圈3 ;垂直差量表4的测量触点与轴承套圈3的外周壁接触。使用时，在H902高度测量仪表座上增加一个垂直差量表4，将垂直差量表4预先调好，然后把待测量的轴承套圈3放在后支承5和压紧机构6之间，由于压紧机构6的压力和后支承5的反作用力，轴承套圈3已形成稳定状态，即可同时测平行度和垂直差。【主权项】1.一种用于测量轴承套圈的工具，包括底支撑和平行度量表，底支撑支撑在轴承套圈下端面上，平行度量表的测量触点与轴承套圈的顶端接触，其特征在于该工具还包括侧定位装置和垂直差量表，侧定位装置设置在轴承套圈的周边，用于定位轴承套圈；垂直差量表的测量触点与轴承套圈的外周壁接触，侧定位装置包括后支承和压紧机构，所述后支承包括两条呈一定角度的支臂，两条支臂均支撑在轴承套圈的侧周壁上，压紧机构设置在其中一条支臂的对面，轴承套圈通过压紧机构与后支承配合定位。2.如权利要求1所述的一种用于测量轴承套圈的工具，其特征在于所述后支承的两条支臂相互垂直。3.如权利要求1所述的一种用于测量轴承套圈的工具，其特征在于所述 压紧机构包括压力杆和压簧，压力杆的一端铰接固定于一基座上，压力杆的中部后侧设有压簧，压簧顶住压力杆，将压力杆压贴在轴承套圈的外周壁上。4.如权利要求1所述的一种用于测量轴承套圈的工具，其特征在于所述压力杆的中部前侧固定连接有一根用于顶住轴承套圈外周壁的顶杆。【专利摘要】本专利技术公开了一种用于测量轴承套圈的工具，包括底支撑和平行度量表，底支撑支撑在轴承套圈下端面上，平行度量表的测量触点与轴承套圈的顶端接触，该工具还包括侧定位装置和垂直差量表，侧定位装置设置在轴承套圈的周边，用于定位轴承套圈；垂直差量表的测量触点与轴承套圈的外周壁接触，侧定位装置包括后支承和压紧机构，后支承包括两条呈一定角度的支臂，两条支臂均支撑在轴承套圈的侧周壁上，压紧机构设置在其中一条支臂的对面，轴承套圈通过压紧机构与后支承配合定位。本专利技术设计合理，该结构设置，在磨平面时能够同时测量垂直差，当检查发现垂直差超差时，通过调整磨加工设备，可确保后道工序的基准精度，控制产品质量，减少报废率。【IPC分类】G01B21/22【公开号】CN105277167【申请号】CN201510887165【专利技术人】张大方 【申请人】新昌县梅渚镇富大轴承厂【公开日】2016年1月27日【申请日】2015年12月7日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于测量轴承套圈的工具，包括底支撑和平行度量表，底支撑支撑在轴承套圈下端面上，平行度量表的测量触点与轴承套圈的顶端接触，其特征在于该工具还包括侧定位装置和垂直差量表，侧定位装置设置在轴承套圈的周边，用于定位轴承套圈；垂直差量表的测量触点与轴承套圈的外周壁接触，侧定位装置包括后支承和压紧机构，所述后支承包括两条呈一定角度的支臂，两条支臂均支撑在轴承套圈的侧周壁上，压紧机构设置在其中一条支臂的对面，轴承套圈通过压紧机构与后支承配合定位。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张大方，
申请(专利权)人：新昌县梅渚镇富大轴承厂，
类型：发明
国别省市：浙江;33
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。