本发明专利技术公开了一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置及其测量方法，属于垂直度和平面度测量技术领域。本发明专利技术的立式轨道垂直度和平面度的测量装置，包括测量单元和定位单元，测量单元为全站仪、经纬仪或水平仪；定位单元包括测量量杆、连接件和磁力座；其中，测量量杆通过连接件固定在磁力座的上表面；磁力座的底面平面度小于0.005mm。本发明专利技术的测量方法，步骤包括组装→吸附→归零→测量单元选位→目镜观测→调整→更换测量点→轨道调试。本发明专利技术通过测量单元和定位单元分开设置，定位单元用测量量杆和磁力座吸附来精确定位，可以实现任意空间的垂直度和平面度精确测量且不受外界因素影响的目的。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于垂直度和平面度测量
，具体涉及一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置及其测量方法。
技术介绍
立式轨道在安装调试过程中，需要利用测量工具对立式轨道平面度、垂直度进行测量。以往测量立式轨道(或平面)的垂直度、平面度时，常用的做法是采用吊线坠及钢卷尺对设备进行垂直度、平面度的测量，此方法极易受风吹、震动等因素影响不易控制，且钢卷尺读数精度较低，从而造成测量精度差。中国专利公开号：CN105004252A，公开日：2015.10.28的专利文献公开了一种方形截面细长工件的拼接面与基准面间垂直度的检测方法，其利用具有两个测量表的量具进行方形截面细长工件的待拼接面与基准面间垂直度的检测，检测过程中在保持竖直表架的内竖直表面与方形截面细长工件的贴置面紧贴的前提下，只需移动竖直表架，使水平表架朝方形截面细长工件的基准面的方向靠近，并观察两个测量表，当两个测量表同时有大于0的读数时记录读数，再根据方形截面细长工件沿竖直表架移动方向的长度、两个测量表之间的距离及两个测量表的读数就可计算得到垂直度，整个检测过程简单，整个检测过程只需移动竖直表架，并观察两个测量表即可，检测成本低，且检测效率高；利用测量表的读数计算垂直度，检测精度高。该专利技术通过移动竖直表架和观察两个测量表读数进行测量和计算垂直度，但检测过程中需要保持竖直表架的内竖直表面与方形截面细长工件的贴置面紧贴，如何保持也是个需要解决的技术问题。专利
技术实现思路
1.要解决的技术问题针对现有技术中的立式轨道垂直度和平面度的测量受外界因素影响、狭小或密闭空间的垂直度和平面度不容易测量问题，本专利技术提供了一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置及其测量方法。它通过测量单元和定位单元分开设置，定位单元用测量量杆和磁力座吸附来精确定位，可以实现任意空间的垂直度和平面度精确测量且不受外界因素影响的目的。2.技术方案为达到上述目的，本专利技术技术方案按以下方式进行：一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置，包括测量单元和定位单元，测量单元为全站仪、经纬仪或水平仪；定位单元包括测量量杆、连接件和磁力座；其中，测量量杆通过连接件固定在磁力座的上表面；磁力座的底面平面度小于0.005mm。优选地，测量量杆为内径千分尺量杆；连接件截面呈T字形圆柱体结构，顶端开有连接件螺纹槽，下部为连接件螺纹杆，连接件螺纹槽和测量量杆的量杆尾端螺纹杆配合连接；连接件螺纹杆和磁力座顶面开有的磁力座螺纹槽配合连接。优选地，磁力座侧面设置有磁力通断旋钮。优选地，内径千分尺量杆的精度为0.005mm。一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置对垂直度的测量方法，其步骤包括：A、组装：将测量量杆、连接件和磁力座组装成定位单元，检查、调试确认测量量杆与磁力座垂直；B、吸附：将磁力座吸附在需要测量的轨道的某一测量点；C、归零：将测量量杆尺寸归零；D、测量单元选位：将全站仪放置其目镜可视测量量杆的位置；E、目镜观测：通过目镜，观察测量量杆的量杆凸面的位置与目镜内十字丝是否重合；如果重合，记录测量点位置，更换轨道的另一测量点目镜观测，若再次重合，记录测量点位置，以此类推；当任一不重合发生，进行下一步骤；F、调整：调整测量量杆，直至重合，此时的调整量即为垂直度或平面度的误差并记录；G、更换测量点：更换另一测量点继续测量，步骤同上并将测量调整量记录下来；H、轨道调试：根据记录调试轨道，直至同一轨道多测量点经目镜观测全部重合。一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置对多条立式轨道平面度的测量方法，步骤包括：A、组装：将测量量杆、连接件和磁力座组装成定位单元，检查、调试确认测量量杆与磁力座垂直；B、吸附：将磁力座吸附在需要测量的轨道的某一测量点；C、归零：将测量量杆尺寸归零；D、目测：将全站仪摆放在被测多条轨道的大致中心线上；E、确定基准线：利用全站仪通过目镜观测测量出头、尾两条立式轨道的平面度数值，先观察头条立式轨道测量量杆的量杆凸面的位置与目镜内十字丝是否重合，若不重合，调整测量量杆，直至重合，此时的调整量即为头条立式轨道的平面度数值并记录；再观察尾条立式轨道测量量杆的量杆凸面的位置与目镜内十字丝是否重合，若不重合，调整测量量杆，直至重合，此时的调整量即为尾条立式轨道的平面度数值并记录；并根据数值记录对全站仪进行调整；反复此步骤，直至两平面度数值相同，则该条线即为平面度测量时的基准线；F、轨道调试：根据基准线测量其它立式轨道的平面度数值，记录数据并调整轨道，直至同一条轨道多测量点测量数值相同。优选地，步骤H中多测量点为根据轨道长度或面积不同进行相应调整。优选地，步骤B吸附前，先规划轨道的测量点。一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置的测量方法在狭小、密闭空间的应用，将定位单元置于狭小、密闭空间中的测量点上，再通过测量单元测量。3.有益效果采用本专利技术提供的技术方案，与已有的公知技术相比，具有如下显著效果：(1)本专利技术的一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置，通过测量单元和定位单元分开设置，测量单元中，全站仪、经纬仪或水平仪均可灵活机动的通过其目镜在远处进行检测，再通过定位单元用测量量杆上刻度的调节和磁力座吸附来精确定位；通过选择将定位单元微型化后，再在狭小或封闭的空间内部定位，然后再经测量单元在狭小或封闭的空间的外部进行测量，可以实现任意空间的垂直度和平面度精确测量且不受外界因素影响的目的；(2)本专利技术的一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置，连接件起到承上启下的作用，内径千分尺量杆起调节作用，利用其尾端的螺栓结构和连接件的螺纹连接，连接件底部设置外螺纹杆和磁力座螺纹槽配合连接，均为可拆卸的连接方式，内径千分尺量杆不用改造，还能应用于原来的内径千分尺，整个定位单元改造成本低；(3)本专利技术的一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置，磁力通断旋钮的设置，使测量点的换位工作更加容易，通过该旋钮对磁力实现通断，操作方便，解决了定位测量后，不容易取下或换位的技术问题；定位单元为多个，同时供测量单元检测，提高测量效率；(4)本专利技术的立式轨道垂直度和平面度的测量装置的测量方法，原理简单，操作方便，无需复杂计算即可测定轨道的垂直度和平面度。附图说明图1为本专利技术的定位单元结构示意图。图中：1、测量量杆；2、连接件；3、磁力座；11、量杆凸面；12、量杆尾端螺纹杆；21、连接件螺纹杆；22、连接件螺纹槽；31、磁力座螺纹槽；32、磁力通断旋钮。具体实施方式为进一步描述本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置，包括测量单元和定位单元，其特征在于，所述测量单元为全站仪、经纬仪或水平仪；所述定位单元包括测量量杆(1)、连接件(2)和磁力座(3)；其中，所述测量量杆(1)通过连接件(2)固定在磁力座(2)的上表面；所述磁力座(2)的底面平面度小于0.005mm。
【技术特征摘要】
1.一种立式轨道垂直度和平面度的测量装置，包括测量单元和定位单元，其特征在于，
所述测量单元为全站仪、经纬仪或水平仪；所述定位单元包括测量量杆(1)、连接件(2)和
磁力座(3)；其中，所述测量量杆(1)通过连接件(2)固定在磁力座(2)的上表面；所述
磁力座(2)的底面平面度小于0.005mm。
2.根据权利要求1所述的立式轨道垂直度和平面度的测量装置，其特征在于：所述测量
量杆(1)为内径千分尺量杆；所述连接件(2)截面呈T字形圆柱体结构，顶端开有连接件
螺纹槽(22)，下部为连接件螺纹杆(21)，连接件螺纹槽(22)和测量量杆(1)的量杆尾端
螺纹杆(12)配合连接；连接件螺纹杆(21)和磁力座(3)顶面开有的磁力座螺纹槽(31)
配合连接。
3.根据权利要求2所述的立式轨道垂直度和平面度的测量装置，其特征在于：所述磁力
座(3)侧面设置有磁力通断旋钮(32)。
4.根据权利要求2所述的立式轨道垂直度和平面度的测量装置，其特征在于：所述内径
千分尺量杆的精度为0.005mm。
5.一种权利要求1所述立式轨道垂直度和平面度的测量装置对垂直度的测量方法，其特
征在于，步骤包括：
A、组装：将测量量杆(1)、连接件(2)和磁力座(3)组装成定位单元，检查、调试
确认测量量杆(1)与磁力座(3)垂直；
B、吸附：将磁力座(3)吸附在需要测量的轨道的某一测量点；
C、归零：将测量量杆(1)尺寸归零；
D、测量单元选位：将全站仪放置其目镜可视测量量杆(1)的位置；
E、目镜观测：通过目镜，观察测量量杆的量杆凸面(11)的位置与目镜内十字丝是否重
合；如果重合，记录测量点位置，更换轨道的另一测量点目镜观测，若再次重合，记录测量
点位置，以此类推；当任一不重合发生，进行下一步骤；
F、调整：调整测量量杆(1)，直至重合，此时的调整量即为垂直度的误差并记录；
G、更换测量点：更换另一测量点继...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾联合，魏红，周磊，胡玉华，梁彦欣，
申请(专利权)人：安徽马钢工程技术集团有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34
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