一种转动轴垂直度的检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种转动轴垂直度的检测装置，首先，磨制两根芯轴，将芯轴安装在转台轴的两侧，作为轴的引出端；其次，用螺旋测微器测量转台轴两侧引出端的圆度误差，并记录数据；然后，用千分表测量转台轴的圆跳动，并记录数据；旋转转台轴，用千分表测量转台轴两侧引出芯轴的变化值，再次记录数据；最后，依据记录的数据进行角度换算，得到两轴的垂直度。本发明专利技术仪器简单可靠；方法快速精确；检测受环境影响小；可用于各种设备的两轴垂直度检测，适应性好。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
一种转动轴垂直度的检测装置
本专利技术属于机电设备领域，具体涉及一种检测转动轴垂直度的设备。
技术介绍
垂直度，是一种位置公差。依据参考基准与被测要素的不同，垂直度可分为四类:线对基准线、线对基准面、线对基准体系、面对基准线和面对基准面的垂直度。转台的各个转动轴之间一般要求轴系互相垂直，其垂直度误差是评价转台系统精度的重要指标。转台的轴系安装是个反复装调的过程，需要多次检测垂直度误差。目前，转台轴系垂直度的检测方法有多种。这些方法通常需要使用较多的高精度复杂仪器，并工况条件要求较高，不能直接快速的测量。
技术实现思路
针对现有技术中存在的不足，本专利技术提出一种新的转台轴系垂直度检测方法，该方法通过使用简单的测量仪器，快速精确的检测两轴或多轴转台任意两个垂直轴之间的垂直度误差，以此提高轴系装调效率。本专利技术所要解决的技术问题是快速精确的检测转台轴系垂直度，特别适用于精密转台转轴之间垂直度的检测。本专利技术需要用到的测量器材包括螺旋测微器、千分表和卷尺，另外，需磨制两根芯轴作为测量工装。为了实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是:1、一种转动轴垂直度的检测方法，其特征在于，包括以下步骤:步骤一、磨制两根芯轴，将芯轴安装在转台II轴的两侧，作为II轴的引出端；步骤二、用螺旋测微器测量转台II轴两侧引出端的圆度误差，并记录数据；步骤三、用千分表测量转台II轴的圆跳动，并记录数据；旋转转台I轴，用千分表测量转台II轴两侧引出芯轴的变化值，再次记录数据；步骤四、依据记录的数据进行角度换算，得到两轴的垂直度。上述的检测方法，其进一步特征在于:步骤一中，预先磨制两根直径尺寸一致的芯轴，用螺钉分别安装在转台II轴两侧。步骤二中，微调两根芯轴，使之与转台II轴旋转中心一致，即使芯轴与II轴共轴；在转台II轴两端芯轴上选择两个检测点B、C，检测点B、C左右对称，用螺旋测微器分别测量检测点B、C处的圆度误差，判定测量值是否小于2 μ m,否则继续磨制芯轴，并记录数据。用卷尺测量两个检测点B、C之间的距离d。步骤三中，将千分表Al、A2分别安装在转台II轴两端的轴座上，测头分别指向两个检测点B、C处，对千分表Al、A2调零；旋转转台II轴一周，测出轴端两个检测点B、C的最大变化值，即圆跳动误差，判定测量值是否小于5 μ m,否则微调芯轴的安装螺钉，并记录数据。在基座上固定千分表A3，测头指向检测点C处，对千分表A3调零，旋转转台I轴180°，测量检测点C，取读数绝对值，得到I Λ δ I。步骤四中，将得到的测量数据进行简单角度换算，得出两轴的垂直度误差，SPf= I Δ δ I X JI /360d。本专利技术同时公开了一种转动轴垂直度的检测装置，它包括基座、千分表、芯轴、转动轴，其特征在于，所述千分表分为第一千分表、第二千分表、第三千分表，所述转动轴分为转台I轴、转台II轴,所述芯轴为两根,安装在转台II轴的两侧,所述转台II轴两端芯轴上设有左右对称的两个检测点，所述第一千分表、第二千分表分别安装在所述转台II轴两端的轴座上，测头分别指向两个检测点。所述第三千分表固定在基座上，测头指向两个监测点之一 O本专利技术对比已有技术具有以下的优点:1、仪器简单可靠。检测中所用的器材均为工程常备工具。与同类检测手段相比，在满足同样检测精度下，价格低廉，重复性好。2、方法快速精确。本检测方案在装配现场能快速搭建，直接测出垂直度误差，精确反应出实际误差的大小。对机械结构微调后，能立即恢复检测状态。3、检测受环境影响小。在装配或零件加工现场，可以随时实施检测。4、可用于各种设备的两轴垂直度检测，适应性好。【附图说明】图1为本专利技术实施例的转台圆跳动测量示意图。图中，1:千分表Al ；2:千分表A2 ；4:芯轴二 ；5:芯轴一 ；6:转台I轴；7:转台II轴。图2为转台II轴两端芯轴变化值测量示意图。图中，3:千分表A3。【具体实施方式】以下结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步详细说明。本实施例的一种检测转动轴垂直度的方法，本专利技术中的I轴、II轴是转台上任意两个垂直轴，且没有次序之分，既可用于二轴转台，也可用于三轴或更多轴的转台。首先，磨制两根芯轴，将芯轴安装在转台II轴的两侧，作为II的引出端；其次，用螺旋测微器测量转台II轴两侧引出端的圆度误差，并记录数据；然后，用千分表测量转台II轴的圆跳动，并记录数据；旋转转台I轴，用千分表测量转台II轴两侧引出芯轴的变化值，再次记录数据；最后，依据记录的数据进行角度换算，得到两轴的垂直度。其具体实现过程如下:1、预先磨制两根直径尺寸一致的芯轴，用螺钉分别安装在转台II轴两侧，如图1所示。2、微调两根芯轴，使之与转台II轴旋转中心一致，即使芯轴与II轴共轴。方法如下:在转台II轴两端芯轴上选择2个检测点B、C，检测点B、C左右对称，用螺旋测微器分别测量检测点B、C处的圆度误差。判定测量值是否小于2 μ m，否则继续磨制芯轴，并记录数据。3、用卷尺测量检测点B、C之间的距离d。4、如图1所示，将千分表Al、A2分别安装在转台II轴两端的轴座上，测头分别指向检测点B、C处，对千分表Al、A2调零。旋转转台II轴一周，测出轴端2处检测点的最大变化值，即圆跳动误差。判定测量值是否小于5 μ m,否则微调芯轴的安装螺钉，并记录数据。5、如图2所示，在基座上固定千分表A3，测头指向检测点C处，对千分表A3调零。旋转转台I轴180°，测量检测点C，取读数绝对值，得到I Λ δ I。6、综合以上步骤中得到的测量数据进行简单角度换算，得出两轴的垂直度误差，即 f= I Λ δ I X JI /360d。本方法使用到的检测装置，它包括基座、分表Al、千分表A2、千分表A3，转台I轴6、转台II轴7是转台上任意两个垂直轴，芯轴为两根:芯轴一 5、芯轴二 4，安装在转台II轴7的两侧，转台II轴7两端芯轴上设有左右对称的两个检测点B、C，千分表Al、千分表A2分别安装在转台II轴7两端的轴座上，测头分别指向两个检测点B、C，千分表A3固定在基座上，测头指向监测点C。虽然本专利技术已以较佳实施例公开如上，但实施例和附图并不是用来限定本专利技术，任何熟悉此技艺者，在不脱离本专利技术之精神和范围内，自当可作各种变化或润饰，同样属于本专利技术之保护范围。因此本专利技术的保护范围应当以本申请的权利要求所界定的为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种转动轴垂直度的检测装置，它包括基座、千分表、芯轴、转动轴，其特征在于，所述千分表分为第一千分表、第二千分表，所述转动轴至少分为转台I轴、转台II轴，所述芯轴为两根，安装在转台II轴的两侧，所述转台II轴两端芯轴上设有左右对称的两个检测点，所述第一千分表、第二千分表分别安装在所述转台II轴两端的轴座上，测头分别指向两个检测点。

【技术特征摘要】
1.一种转动轴垂直度的检测装置，它包括基座、千分表、芯轴、转动轴，其特征在于，所述千分表分为第一千分表、第二千分表，所述转动轴至少分为转台I轴、转台II轴，所述芯轴为两根，安装在转台II轴的两侧，所述转台II轴两端芯轴上设有左...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛一江，毕勇，
申请(专利权)人：中科院南京天文仪器有限公司，
类型：实用新型
国别省市：