显示基板的异物检测系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种显示基板的异物检测系统，属于显示技术领域，该异物检测系统包括：设置在待检测的显示基板的同一侧的光源组件和图像采集组件，该光源组件可以向显示基板发射光线，该图像采集组件可以根据接收到的显示基板反射的光线，形成干涉图案。检测人员根据该干涉图案即可以判断该显示基板上是否有异物，提高了异物检测的准确性。

Detection system for foreign body of display substrate

The utility model provides a foreign object detection system for displaying a substrate, which belongs to the field of display technology. The foreign object detection system includes a light source assembly and an image acquisition component on the same side of the display substrate to be detected. The light source component can transmit light to the display substrate, and the image acquisition component can be received according to the reception. The light reflected from the substrate is displayed to form an interference pattern. According to the interference pattern, the inspector can determine whether there are foreign objects on the display substrate, which improves the accuracy of foreign matter detection.

【技术实现步骤摘要】
显示基板的异物检测系统
本技术涉及显示
，特别涉及一种显示基板的异物检测系统。
技术介绍
在显示基板的制造过程中，受到制造设备的设备精度或者外界环境的影响，显示基板的表面可能会出现异物，当异物的尺寸较大时，会对显示基板的显示效果造成影响。相关技术中，可以使用自动光学检测(AutomaticOpticInspection；AOI)仪器捕获显示基板的影像，并可以对捕获到的影像的灰阶与正常显示基板的影像的灰阶进行对比，从而判断显示基板表面是否出现异物。但是，当异物的尺寸较小，或者异物的颜色与显示基板颜色相近时，使用AOI捕获到的影像的灰阶与正常显示基板的影像的灰阶差异较小，容易出现漏检和误检的情况，异物检测的准确率较低。
技术实现思路
本技术提供了一种显示基板的异物检测系统，可以解决相关技术中异物检测的准确率较低的问题，所述技术方案如下：第一方面，提供了一种显示基板的异物检测系统，所述异物检测系统包括：光源组件和图像采集组件；所述光源组件和所述图像采集组件均设置在待检测的显示基板的同一侧；所述光源组件发出的光线的辐射区域与所述待检测的显示基板的放置区域重叠，所述光源组件用于向所述显示基板发射光线；所述图像采集组件的图像采集区域与所述显示基板反射的光线的辐射区域重叠，所述图像采集组件用于接收所述显示基板反射的光线，并根据所述反射的光线形成干涉图案。可选的，所述系统还包括：处理组件；所述处理组件与所述图像采集组件连接，所述处理组件用于根据所述图像采集组件发送的异物间距计算异物的尺寸，所述异物间距为所述干涉图案中出现形变的干涉条纹与最外层的干涉条纹之间的距离。可选的，所述系统还包括：光通量检测组件，所述光通量检测组件和所述光源组件分别设置在所述待检测的显示基板的两侧；所述光通量检测组件的检测区域与所述光源组件发出的光线的辐射区域重叠，所述光通量检测组件用于检测透过所述显示基板的光线的光通量。可选的，所述系统还包括：报警模块；所述光通量检测组件与所述报警模块连接；所述报警模块用于在所述光通量检测组件检测到的光通量不处于预设范围内时，发出告警信号。可选的，所述光源组件包括光源和半透射半反射镜片，所述半透射半反射镜片位于所述图像采集组件和所述待检测的显示基板之间；所述半透射半反射镜片所在平面与所述显示基板的表面的夹角为45度。可选的，所述光源为条状的单色光源，所述单色光源用于发射平行光，且所述平行光的照射方向平行于所述显示基板的表面。可选的，所述光源组件包括光源和半透射半反射镜片；所述系统还包括：第一滑动支架；所述第一滑动支架分别与所述图像采集组件以及所述半透射半反射镜片连接，所述第一滑动支架用于带动所述图像采集组件以及所述半透射半反射镜片在平行于所述显示基板的平面内移动。可选的，所述系统还包括：光通量检测组件；所述第一滑动支架还与所述光通量检测组件连接，所述第一滑动支架用于带动所述光通量检测组件、所述半透射半反射镜片和所述图像采集组件分别在平行于所述显示基板的平面内移动；或者，所述系统还包括第二滑动支架，所述第二滑动支架与所述光通量检测组件连接，所述第二滑动支架用于带动所述光通量检测组件在平行于所述显示基板的平面内移动。可选的，所述系统包括：多个图像采集组件；所述光源组件发出的光线的辐射区域覆盖所述待检测的显示基板；每个图像采集组件在所述待检测的显示基板所在平面的正投影与所述待检测的显示基板重叠。可选的，所述系统包括：多个光通量检测组件；所述光源组件发出的光线的辐射区域覆盖所述待检测的显示基板；每个光通量检测组件的检测区域均与所述显示基板的透光区域重叠。本技术提供的技术方案带来的有益效果是：综上所述，本技术实施例提供的显示基板的异物检测系统包括设置在显示基板同一侧的光源组件和图像采集组件，该光源组件可以向显示基板发射光线，该图像采集组件可以在接收到显示基板反射的光线时，形成干涉图案，检测人员可以通过观察该干涉图案的干涉条纹来判断该显示基板上是否有异物，并可以根据该干涉条纹发生形变的位置确定异物的位置，该异物检测的准确率较高。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术实施例提供的一种显示基板的异物检测系统的结构示意图；图2是本技术实施例提供的另一种显示基板的异物检测系统的结构示意图；图3是本技术实施例提供的一种显示基板出现异物时的示意图；图4是本技术实施例提供的一种显示基板出现异物时的干涉图案的示意图；图5是本技术实施例提供的一种光通量测量的示意图；图6是本技术实施例提供的另一种光通量测量的示意图；图7是本技术实施例提供的又一种显示基板的异物检测系统的结构示意图；图8是本技术实施例提供的再一种显示基板的异物检测系统的结构示意图。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术实施方式作进一步地详细描述。图1是本技术实施例提供的一种显示基板的异物检测系统00的结构示意图，如图1所示，该异物检测系统00可以包括：光源组件01和图像采集组件02。在本技术实施例中，该光源组件01和图像采集组件02可以均设置在待检测的显示基板10的同一侧，该光源组件01发出的光线的辐射区域与该待检测的显示基板10的放置区域重叠，光源组件01可以向显示基板10发射光线，该图像采集组件02的图像采集区域与该显示基板10反射的光线的辐射区域重叠，该图像采集组件02可以在接收到显示基板10反射的光线时，根据该反射的光线形成干涉图案。其中，该光源组件01可以为能够向显示基板10发出光线的组件，例如，该光源组件01可以包括能够发出黄光的钠灯。该图像采集组件02可以是具有图像采集功能的器件，例如，该图像采集组件02可以为图像传感器，该显示基板10可以放置在支架上(图中未示出)。该光源组件01可以向显示基板10发射光线，该显示基板10可以反射该光源组件01发射的光线，图像采集组件02接收到显示基板10反射的光线时，可以根据反射的光线在图像采集区域形成干涉图案。当该图像采集组件02上形成的干涉图案中出现明暗相间的干涉条纹时，即可以判断该显示基板上存在异物，并且当检测到干涉条纹出现形变时，该图像采集组件02即可以根据该形变出现的位置判断出该显示基板10上异物出现的位置。例如，该图像采集组件02可以采集到该异物出现在显示基板10上的具体坐标。综上所述，本技术实施例提供的显示基板的异物检测系统，包括图像采集组件和光源组件，该光源组件可以向显示基板发射光线，该图像采集组件可以在接收到该显示基板反射的光线时，形成干涉图案，检测人员可以通过观察该干涉图案是否存在干涉条纹来判断该显示基板上是否有异物，并可以根据该干涉条纹形变的位置确定异物的位置，该异物检测的准确率较高。图2是本技术实施例提供的另一种异物检测系统的结构示意图，如图1和图2所示，该光源组件具体可以包括光源011和半透射半反射镜片012，且该半透射半反射镜片012可以位于该图像本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示基板的异物检测系统，其特征在于，所述异物检测系统包括：光源组件和图像采集组件；所述光源组件和所述图像采集组件均设置在待检测的显示基板的同一侧；所述光源组件发出的光线的辐射区域与所述待检测的显示基板的放置区域重叠，所述光源组件用于向所述显示基板发射光线；所述图像采集组件的图像采集区域与所述显示基板反射的光线的辐射区域重叠，所述图像采集组件用于接收所述显示基板反射的光线，并根据所述反射的光线形成干涉图案。

【技术特征摘要】
1.一种显示基板的异物检测系统，其特征在于，所述异物检测系统包括：光源组件和图像采集组件；所述光源组件和所述图像采集组件均设置在待检测的显示基板的同一侧；所述光源组件发出的光线的辐射区域与所述待检测的显示基板的放置区域重叠，所述光源组件用于向所述显示基板发射光线；所述图像采集组件的图像采集区域与所述显示基板反射的光线的辐射区域重叠，所述图像采集组件用于接收所述显示基板反射的光线，并根据所述反射的光线形成干涉图案。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：处理组件；所述处理组件与所述图像采集组件连接，所述处理组件用于根据所述图像采集组件发送的异物间距计算异物的尺寸，所述异物间距为所述干涉图案中出现形变的干涉条纹与最外层的干涉条纹之间的距离。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：光通量检测组件，所述光通量检测组件和所述光源组件分别设置在所述待检测的显示基板的两侧；所述光通量检测组件的检测区域与所述光源组件发出的光线的辐射区域重叠，所述光通量检测组件用于检测透过所述显示基板的光线的光通量。4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：报警模块；所述光通量检测组件与所述报警模块连接；所述报警模块用于在所述光通量检测组件检测到的光通量不处于预设范围内时，发出告警信号。5.根据权利要求1至4任一所述的系统，其特征在于，所述光源组件包括光源和半透射半反射镜片，所述半透射半反射镜片位于所述图像采集组件和所述待检测的显示基板之间；所述半透射...

【专利技术属性】
技术研发人员：谈宜川，阳清，陈宗义，鲍震宇，孟庆超，马力，
申请(专利权)人：合肥鑫晟光电科技有限公司，京东方科技集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽,34