器件调试测试系统以及微波器件调试测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种器件调试测试系统以及微波器件调试测试系统，涉及自动化测试技术领域，包括：终端分别与测试仪、控制电路、调试设备连接；控制电路与开关阵列电路连接；调试设备用于连接目标器件；开关阵列电路一端与若干个测试仪连接，另一端用于与目标器件连接；终端控制调试设备对目标器件进行调试；控制电路根据终端传输的信息，通过控制开关阵列电路中若干个开关通路的导通与关断，对测试仪测试目标器件的端口进行选择，解决了现有技术中存在的对微波无源多端口器件的检测需要频繁的换线，并且要使用不同的接口连接待测器件，费时且影响测试的正确性和稳定性的技术问题。

Device debug test system and microwave device debugging and testing system

The utility model provides a device debugging test system and a microwave device debugging and testing system, which involves the field of automated testing technology, including: terminals are connected to the tester, control circuit and debugging equipment, the control circuit is connected with the switch array circuit, the debugging device is used to connect the target device, and the switch array electricity is used. One end of the road is connected with a number of test instruments, the other end is used to connect with the target device; the terminal control debugging equipment debug the target device; the control circuit is used to control the port of the test device to test the target device by controlling the transmission and closing of several switching channels in the switch array circuit. It solves the technical problem that the detection of microwave passive multi port devices in the existing technology needs frequent switching, and it is necessary to use different interfaces to connect the devices to be measured, time consuming and to affect the correctness and stability of the test.

【技术实现步骤摘要】
器件调试测试系统以及微波器件调试测试系统
本技术涉及自动化测试
，尤其是涉及一种器件调试测试系统以及微波器件调试测试系统。
技术介绍
微波器件是指工作在微波波段的器件，称为微波器件。微波器件按其功能可分为微波振荡器、功率放大器、混频器、检波器、微波天线、微波传输线等。通过电路设计，可将这些器件组合成各种有特定功能的微波电路，例如，利用这些器件组装成发射机、接收机、天线系统、显示器等，用于雷达、电子战系统和通信系统等电子装备。目前，电检测量是滤波器、双工器等微波器件生产过程中的重要过程。目前，对微波无源多端口器件的检测，需要安排大量的人力和网络一起来检验产品的合格性，有些多端口器件端口多达十几个，电检员在检验时要频繁的换线，并且要使用不同的接口连接待测器件，费时且影响测试的正确性和稳定性。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于提供一种器件调试测试系统以及微波器件调试测试系统，以解决现有技术中存在的对微波无源多端口器件的检测，需要安排大量的人力和网络一起来检验产品的合格性，有些多端口器件端口多达十几个，在检验时要频繁的换线，并且要使用不同的接口连接待测器件，费时且影响测试的正确性和稳定性的技术问题。第一方面，本技术实施例提供了一种器件调试测试系统，包括：终端、调试设备、控制电路、开关阵列电路以及若干个测试仪；所述终端分别与所述测试仪、所述控制电路、所述调试设备连接；所述控制电路与所述开关阵列电路连接；所述调试设备用于连接目标器件；所述开关阵列电路一端与若干个所述测试仪连接，另一端用于与目标器件连接；所述终端控制所述调试设备对目标器件进行调试；所述控制电路根据所述终端传输的信息，通过控制所述开关阵列电路中若干个开关通路的导通与关断，对所述测试仪测试目标器件的端口进行选择。结合第一方面，本技术实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，所述控制电路与所述开关阵列电路中的每个开关通路相连；所述开关阵列电路用于与目标器件的每个端口相连。结合第一方面，本技术实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，所述测试仪将测试数据传输至所述终端；所述终端根据所述测试数据，向所述控制电路传输测试端口信息。结合第一方面，本技术实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，所述控制电路为单片机。结合第一方面，本技术实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，所述测试仪为矢量网络分析仪。结合第一方面，本技术实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式，其中，所述终端为PC。结合第一方面，本技术实施例提供了第一方面的第六种可能的实施方式，其中，所述开关阵列电路为同轴射频开关阵列。结合第一方面，本技术实施例提供了第一方面的第七种可能的实施方式，其中，还包括：与所述开关阵列电路连接的互调测试设备、功率测试设备。第二方面，本技术实施例还提供一种微波器件调试测试系统，包括：微波器件以及如第一方面所述的器件调试测试系统；所述微波器件分别与所述器件调试测试系统中的调试设备、开关阵列电路连接。结合第二方面，本技术实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式，其中，所述终端控制所述调试设备对所述微波器件进行调试；所述控制电路根据所述终端传输的信号，通过控制所述开关阵列电路中若干个开关通路的连通与关断，对所述测试仪测试所述微波器件的端口进行选择。本技术实施例提供的技术方案带来了以下有益效果：本技术实施例提供的器件调试测试系统，包括：调试设备、控制电路、终端、开关阵列电路以及若干个测试仪，终端分别与测试仪、控制电路、调试设备连接，控制电路与开关阵列电路连接，调试设备用于连接目标器件，开关阵列电路一端与若干个测试仪连接，另一端用于与目标器件连接，终端控制调试设备对目标器件进行调试，控制电路根据终端传输的信息，通过控制开关阵列电路中若干个开关通路的导通与关断，对测试仪测试目标器件的端口进行选择，通过开关阵列电路在目标器件与测试仪之间的连接作用以及通过控制导通与关断各线路从而控制目标器件的各个端口与测试仪的连接方式与连接线路，使得目标器件的多路通道可以同时调试、测试，因此减少了微波器件等产品在生产过程中调试及测试所花费的时间，从而解决了现有技术中存在的对微波无源多端口器件的检测，需要安排大量的人力和网络一起来检验产品的合格性，有些多端口器件端口多达十几个，在检验时要频繁的换线，并且要使用不同的接口连接待测器件，费时且影响测试的正确性和稳定性的技术问题。本技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本技术而了解。本技术的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。为使本技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的器件调试测试系统的结构示意图；图2为本技术实施例提供的器件调试测试系统的另一结构示意图；图3示出了本技术实施例所提供的器件调试测试系统中，开关阵列电路的具体结构示意图；图4示出了本技术实施例所提供的器件调试测试系统中，开关阵列电路的具体结构示意图；图5为本技术实施例提供的微波器件调试测试系统的结构示意图。图标：1-器件调试及测试系统；11-终端；12-调试设备；13-控制电路；14-开关阵列电路；15-测试仪；16-目标器件；17-互调测试设备；18-功率测试设备；111-PC；131-单片机；151-矢量网络分析仪；131-单片机；131-单片机；2-微波器件调试测试系统；21-微波器件。具体实施方式为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。目前对微波无源多端口器件的检测，需要安排大量的人力和网络一起来检验产品的合格性，有些多端口器件端口多达十几个，在检验时要频繁的换线，并且要使用不同的接口连接待测器件，费时且影响测试的正确性和稳定性，基于此，本技术实施例提供的一种器件调试测试系统以及微波器件调试测试系统，可以解决现有技术中存在的对微波无源多端口器件的检测，需要安排大量的人力和网络一起来检验产品的合格性，有些多端口器件端口多达十几个，在检验时要频繁的换线，并且要使用不同的接口连接待测器件，费时且影响测试的正确性和稳定性的技术问题。为便于对本实施例进行理解，首先对本技术实施例所公开的一种器件调试测试系统以及微波器件调试测试系统进行详细介绍。实施例一：本技术实施例提供的一种器件调试测试系统，也可以是一种器件自动调试及测试系统，如图1所示，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种器件调试测试系统，其特征在于，包括：终端、调试设备、控制电路、开关阵列电路以及若干个测试仪；所述终端分别与所述测试仪、所述控制电路、所述调试设备连接；所述控制电路与所述开关阵列电路连接；所述调试设备用于连接目标器件；所述开关阵列电路一端与若干个所述测试仪连接，另一端用于与目标器件连接；所述终端控制所述调试设备对目标器件进行调试；所述控制电路根据所述终端传输的信息，通过控制所述开关阵列电路中若干个开关通路的导通与关断，对所述测试仪测试目标器件的端口进行选择。

【技术特征摘要】
1.一种器件调试测试系统，其特征在于，包括：终端、调试设备、控制电路、开关阵列电路以及若干个测试仪；所述终端分别与所述测试仪、所述控制电路、所述调试设备连接；所述控制电路与所述开关阵列电路连接；所述调试设备用于连接目标器件；所述开关阵列电路一端与若干个所述测试仪连接，另一端用于与目标器件连接；所述终端控制所述调试设备对目标器件进行调试；所述控制电路根据所述终端传输的信息，通过控制所述开关阵列电路中若干个开关通路的导通与关断，对所述测试仪测试目标器件的端口进行选择。2.根据权利要求1所述的器件调试测试系统，其特征在于，所述控制电路与所述开关阵列电路中的每个开关通路相连；所述开关阵列电路用于与目标器件的每个端口相连。3.根据权利要求1所述的器件调试测试系统，其特征在于，所述测试仪将测试数据传输至所述终端；所述终端根据所述测试数据，向所述控制电路传输测试端口信息。4.根据权利要求1所述的器件调试测试系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈超，张少林，孙昌盛，麦建林，
申请(专利权)人：深圳市威通科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44