光电子器件良品检测方法及系统技术方案

一种光电子器件良品检测方法，其包括：S1、对光电子器件故障进行分析获取光电子器件故障原因；获取光电子器件故障原因对应的检测故障代码并存储在服务器中；S2、在服务器中配置光电子器件的各个测试环节，并设置各个测试环节所需要的测试组件；S3、在服务器中配置各个测试环节中自动化测试部分以及人工测试部分；S4、根据自动化测试部分配置相应测试组件的控制指令信息；S5、获取人工测试部分所需要的人员专业技能信息、所需要的人员工时信息；S6、获取目前待测光电子器件信息，根据待测光电子器件信息对人工测试部分所需要的人员进行筛选，并根据自动化测试部分生成待测光电子器件对应测试组件的控制指令信息，对待测光电子器件进行良品测试。

Good test method and system for optoelectronic devices

A good test method for optoelectronic devices, which includes: S1, analysis of optoelectronic devices fault analysis to obtain the fault cause of optoelectronic devices; obtain the detection fault code corresponding to the fault cause of optoelectronic devices and store it in the server; S2, configure the various test links of optoelectronic devices in the server, and set up each of the test links. Test components required by the test link; S3, configuring the automated test part and manual test part of each test link in the server; S4, configuring the control instruction information of the corresponding test components according to the automated test section; S5, the person's professional skills information needed to obtain the manual test section, the person needed. The information of employee time, S6, obtain the information of the electronic device to be measured at present, screen the personnel needed for the artificial test part according to the information of the light measuring electronic device, and generate the control instruction information of the test component corresponding to the light measuring electronic device according to the automatic test part, and carry on the good test for the light measuring electronic device.

【技术实现步骤摘要】
光电子器件良品检测方法及系统
本专利技术涉及光电通信
，尤其涉及一种光电子器件良品检测方法及系统。
技术介绍
光电转换器是一种类似于基带MODEM(数字调制解调器)的设备，和基带MODEM不同的是接入的是光纤专线，是光信号，分为全双工流控，半双工背压控制。光电转换器(又名光纤收发器)，有百兆光纤收发器和千兆光纤收发器之分，是一种快速以太网，其数据传输速率达1Gbps,仍采用CSMA/CD的访问控制机制并与现有的以太网兼容，在布线系统的支持下，可以使原来的快速以太网平滑升级并能充分保护用户原来的投资，千兆网技术已成为新建网络和改造的首选技术，由此对综合布线系统的性能要求也提高。相关品牌有TP-link，TC-net，三旺通信，汉信通信等厂家，其中有工业级的也有商用型的，一般商用型的参数指标较低，范围较窄；工业级的性能更优，适用于工业环境。光电转换器接口包括：RJ45接口：10/100BaseT(X)or10/100/1000BaseT(X)自动适应光纤接口：1000Base-SX/CX/LHX/EX(SFP插槽、LC接头)LED指示灯：电源，端口状态，10/100/1000M。光电子器件在生产完成之后，需要对其进行质量检测，检测过程中需要人工将光电子器件放置于检测装置的装夹台上，然后通过手动的方式推动其中的一个探针安装板，将检测探针与电子元器件的引脚相接触，在接通电路，对其进行检测，检测完成之后再取出电器元器件，在进行下一个电子元器件的检测。上述的检测过程，需要手动检测，在推动探针安装板过程中，需要较大的力，长时间的检测，操作人员的劳动强度高，不利于长时间作业，而且工作效率低。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提出一种光电子器件良品检测方法及系统。一种光电子器件良品检测方法，其包括如下步骤：S1、对光电子器件故障进行分析获取光电子器件故障原因；获取光电子器件故障原因对应的检测故障代码并存储在服务器中；S2、在服务器中配置光电子器件的各个测试环节，并设置各个测试环节所需要的测试组件；S3、在服务器中配置各个测试环节中自动化测试部分以及人工测试部分；S4、根据自动化测试部分配置相应测试组件的控制指令信息；S5、获取人工测试部分所需要的人员专业技能信息、所需要的人员工时信息；S6、获取目前待测光电子器件信息，根据待测光电子器件信息对人工测试部分所需要的人员进行筛选，并根据自动化测试部分生成待测光电子器件对应测试组件的控制指令信息，对待测光电子器件进行良品测试。在本专利技术所述的光电子器件良品检测方法中，所述步骤S6中对待测光电子器件进行良品测试包括：通过生成待测光电子器件对应测试组件的控制指令信息对测试组件进行测试控制，并获取自动化测试部分测试结果；获取人工测试部分测试结果；将自动化测试部分测试结果以及人工测试部分测试结果发送到服务器。在本专利技术所述的光电子器件良品检测方法中，对光电子器件测试内容划分，并设置不同的测试通过条件模型，具体包括：将光电子器件进行功能组件划分，并根据不同功能组件配置不同的监控模型；配置不同的监控监控模型的通过条件模型；基于通过条件模型对光电子器件进行测试，判断是否符合通过条件模型的通过条件，在符合通过条件时，认定该环节测试通过。在本专利技术所述的光电子器件良品检测方法中，所述将光电子器件进行功能组件划分，并根据不同功能组件配置不同的监控模型包括：将光电子器件测试内容划分，包括电气组件、控制组件以及机械组件；配置电气组件、控制组件以及机械组件的通过条件模型；所述电气组件的通过条件模型如下：对于电气组件的电流、电压、温度值进行监控；所述控制组件的通过条件模型如下：对于控制组件中的芯片进行验证；所述机械组件的通过条件模型如下：对于机械组件的寿命、形变值、拉伸值进行监控。本专利技术还提供一种光电子器件良品检测系统，其包括如下单元：故障信息提取单元，用于对光电子器件故障进行分析获取光电子器件故障原因；获取光电子器件故障原因对应的检测故障代码并存储在服务器中；测试环节划分单元，用于在服务器中配置光电子器件的各个测试环节，并设置各个测试环节所需要的测试组件；部分划分单元，用于在服务器中配置各个测试环节中自动化测试部分以及人工测试部分；控制信息生成单元，用于根据自动化测试部分配置相应测试组件的控制指令信息；人工配置单元，用于获取人工测试部分所需要的人员专业技能信息、所需要的人员工时信息；测试单元，用于获取目前待测光电子器件信息，根据待测光电子器件信息对人工测试部分所需要的人员进行筛选，并根据自动化测试部分生成待测光电子器件对应测试组件的控制指令信息，对待测光电子器件进行良品测试。在本专利技术所述的光电子器件良品检测系统中，所述测试单元中对待测光电子器件进行良品测试包括：通过生成待测光电子器件对应测试组件的控制指令信息对测试组件进行测试控制，并获取自动化测试部分测试结果；获取人工测试部分测试结果；将自动化测试部分测试结果以及人工测试部分测试结果发送到服务器。在本专利技术所述的光电子器件良品检测系统中，对光电子器件测试内容划分，并设置不同的测试通过条件模型，具体包括：将光电子器件进行功能组件划分，并根据不同功能组件配置不同的监控模型；配置不同的监控监控模型的通过条件模型；基于通过条件模型对光电子器件进行测试，判断是否符合通过条件模型的通过条件，在符合通过条件时，认定该环节测试通过。在本专利技术所述的光电子器件良品检测系统中，所述将光电子器件进行功能组件划分，并根据不同功能组件配置不同的监控模型包括：将光电子器件测试内容划分，包括电气组件、控制组件以及机械组件；配置电气组件、控制组件以及机械组件的通过条件模型；所述电气组件的通过条件模型如下：对于电气组件的电流、电压、温度值进行监控；所述控制组件的通过条件模型如下：对于控制组件中的芯片进行验证；所述机械组件的通过条件模型如下：对于机械组件的寿命、形变值、拉伸值进行监控。实施本专利技术提供的光电子器件良品检测方法及系统与现有技术相比具有以下有益效果：能够实现对光电子器件良品检测，提高了光电子器件的良品率。附图说明图1是本专利技术实施例的光电子器件良品检测方法流程图。具体实施方式如图1所示，一种光电子器件良品检测方法，其包括如下步骤：S1、对光电子器件故障进行分析获取光电子器件故障原因；获取光电子器件故障原因对应的检测故障代码并存储在服务器中；S2、在服务器中配置光电子器件的各个测试环节，并设置各个测试环节所需要的测试组件；S3、在服务器中配置各个测试环节中自动化测试部分以及人工测试部分；S4、根据自动化测试部分配置相应测试组件的控制指令信息；S5、获取人工测试部分所需要的人员专业技能信息、所需要的人员工时信息；S6、获取目前待测光电子器件信息，根据待测光电子器件信息对人工测试部分所需要的人员进行筛选，并根据自动化测试部分生成待测光电子器件对应测试组件的控制指令信息，对待测光电子器件进行良品测试。在本专利技术所述的光电子器件良品检测方法中，所述步骤S6中对待测光电子器件进行良品测试包括：通过生成待测光电子器件对应测试组件的控制指令信息对测试组件进行测试控制，并获取自动化测试部分测试结果；获取人工测试部分测试结果；将自动化测试部分测试结果以及人工测试部分测试结果发送到服务器。在本专利技术所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光电子器件良品检测方法，其特征在于，其包括如下步骤：S1、对光电子器件故障进行分析获取光电子器件故障原因；获取光电子器件故障原因对应的检测故障代码并存储在服务器中；S2、在服务器中配置光电子器件的各个测试环节，并设置各个测试环节所需要的测试组件；S3、在服务器中配置各个测试环节中自动化测试部分以及人工测试部分；S4、根据自动化测试部分配置相应测试组件的控制指令信息；S5、获取人工测试部分所需要的人员专业技能信息、所需要的人员工时信息；S6、获取目前待测光电子器件信息，根据待测光电子器件信息对人工测试部分所需要的人员进行筛选，并根据自动化测试部分生成待测光电子器件对应测试组件的控制指令信息，对待测光电子器件进行良品测试。

【技术特征摘要】
1.一种光电子器件良品检测方法，其特征在于，其包括如下步骤：S1、对光电子器件故障进行分析获取光电子器件故障原因；获取光电子器件故障原因对应的检测故障代码并存储在服务器中；S2、在服务器中配置光电子器件的各个测试环节，并设置各个测试环节所需要的测试组件；S3、在服务器中配置各个测试环节中自动化测试部分以及人工测试部分；S4、根据自动化测试部分配置相应测试组件的控制指令信息；S5、获取人工测试部分所需要的人员专业技能信息、所需要的人员工时信息；S6、获取目前待测光电子器件信息，根据待测光电子器件信息对人工测试部分所需要的人员进行筛选，并根据自动化测试部分生成待测光电子器件对应测试组件的控制指令信息，对待测光电子器件进行良品测试。2.如权利要求1所述的光电子器件良品检测方法，其特征在于，所述步骤S6中对待测光电子器件进行良品测试包括：通过生成待测光电子器件对应测试组件的控制指令信息对测试组件进行测试控制，并获取自动化测试部分测试结果；获取人工测试部分测试结果；将自动化测试部分测试结果以及人工测试部分测试结果发送到服务器。3.如权利要求2所述的光电子器件良品检测方法，其特征在于，对光电子器件测试内容划分，并设置不同的测试通过条件模型，具体包括：将光电子器件进行功能组件划分，并根据不同功能组件配置不同的监控模型；配置不同的监控监控模型的通过条件模型；基于通过条件模型对光电子器件进行测试，判断是否符合通过条件模型的通过条件，在符合通过条件时，认定该环节测试通过。4.如权利要求3所述的光电子器件良品检测方法，其特征在于，所述将光电子器件进行功能组件划分，并根据不同功能组件配置不同的监控模型包括：将光电子器件测试内容划分，包括电气组件、控制组件以及机械组件；配置电气组件、控制组件以及机械组件的通过条件模型；所述电气组件的通过条件模型如下：对于电气组件的电流、电压、温度值进行监控；所述控制组件的通过条件模型如下：对于控制组件中的芯片进行验证；所述机械组件的通过条件模型如下：对于机械组件的寿命、形变值、拉伸值进行监控。5.一种光电子器件良品检测系统，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：左璠，杨明，段正兵，
申请(专利权)人：武汉凌科通光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42