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一种光电子器件良品检测方法，其包括：S1、对光电子器件故障进行分析获取光电子器件故障原因；获取光电子器件故障原因对应的检测故障代码并存储在服务器中；S2、在服务器中配置光电子器件的各个测试环节，并设置各个测试环节所需要的测试组件；S3、在服...
该专利属于武汉凌科通光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉凌科通光电科技有限公司授权不得商用。

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