镭射膜存放时间的检测方法技术

本申请提供一种镭射膜存放时间的检测方法，包括以下步骤：提供待测的镭射膜；测定镭射膜的实时电晕值；根据实时电晕值，得到镭射膜的存放时间；该镭射膜的实时电晕值与存放时间的关系式如下：σ＝‑0.0125t2‑0.2516t+σ0，其中，σ为实时电晕值，t为存放时间，σ0为初始电晕值。上述镭射膜存放时间的检测方法，通过测定的镭射膜的实时电晕值，就可得到准确的镭射膜的存放时间，方便人们判断该镭射膜是否还适用于后加工。

【技术实现步骤摘要】
镭射膜存放时间的检测方法
本专利技术涉及镭射膜
，特别是涉及镭射膜存放时间的检测方法。
技术介绍
大多数塑料薄膜都属于非极性聚合物，表面张力较低，一般在29～30mN/m，从理论上讲，若某物体的表面张力低于33mN/m，目前已知的油墨与粘合剂都无法在上面附着牢固，因此要对其表面进行电晕法处理。但是经过电晕法处理的塑料薄膜存放时间过长的话一般就不适用于后加工。因此，寻找一种能准确判断出塑料薄膜存放时间的方法成为人们研究的热点。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种镭射膜存放时间的检测方法，该方法可通过实时电晕值得到准确的镭射膜的存放时间，方便快捷。一种镭射膜存放时间的检测方法，包括以下步骤：提供待测的镭射膜；测定所述镭射膜的实时电晕值；根据所述实时电晕值，得到所述镭射膜的存放时间；根据所述实时电晕值，得到所述镭射膜的存放时间所用的公式如下：σ＝-0.0125t2-0.2516t+σ0，其中，σ为实时电晕值，单位：dyn/cm，t为存放时间，单位：月，σ0为初始电晕值，单位：dyn/cm。在其中一个实施例中，测定所述镭射膜的实时电晕值的步骤具体为：提供不同达因值的系列达因液；将所述系列达因液分别涂布于所述镭射膜的表面，每种达因液在所述镭射膜表面形成长度为50mm～100mm，宽度为10mm～12mm的墨条；观察墨条在2～3秒内的变化，根据墨条的收缩变化情况得到所述镭射膜的实时电晕值。在其中一个实施例中，根据墨条的收缩变化情况得到所述镭射膜的实时电晕值的步骤具体为：若其中一条墨条的收缩幅度为15％～20％且不形成墨滴，则所述镭射膜的实时电晕值即为该收缩幅度为15％～20％且不形成墨滴的墨条对应的达因液的达因值。在其中一个实施例中，所述不同达因值的系列达因液为达因值分别为36dyn/cm、37dyn/cm、38dyn/cm、39dyn/cm、40dyn/cm、41dyn/cm、42dyn/cm、43dyn/cm、44dyn/cm、45dyn/cm、48dyn/cm、50dyn/cm、52dyn/cm和54dyn/cm的达因液。在其中一个实施例中，所述镭射膜为聚对苯二甲酸乙二醇酯膜、流延聚丙烯膜、双向聚丙烯膜或聚乙烯膜。在其中一个实施例中，所述聚对苯二甲酸乙二醇酯膜的初始电晕值为44dyn/cm，所述流延聚丙烯膜的初始电晕值为42dyn/cm，所述双向聚丙烯膜的初电晕值为44dyn/cm，所述聚乙烯膜的初始电晕值为42dyn/cm。在其中一个实施例中，所述公式中，t≤16。上述镭射膜存放时间的检测方法，通过测定的电晕值，就可得到准确的镭射膜的存放时间，从而方便人们推断该镭射膜是否还适用于后加工。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面将对本专利技术进行更全面的描述，并给出了本专利技术的较佳实施例。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容的理解更加透彻全面。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。需要说明的是，本申请中所使用的“初始电晕值”是指出厂时镭射膜所要求达到的标准电晕值，本申请中所使用的“存放时间”是指从镭射膜的电晕值达到出厂标准时开始计算。一实施方式的镭射膜存放时间的检测方法，包括以下步骤S110～S130：S110、提供待测的镭射膜。上述镭射膜为聚对苯二甲酸乙二醇酯膜(PET膜)、流延聚丙烯膜(CPP膜)、双向聚丙烯膜(OPP膜)或聚乙烯膜(PE膜)。需要说明的是，上述待测的镭射膜均为经过常规电晕处理的镭射膜。其中，PET膜的初始电晕值为44dyn/cm，CPP膜的初始电晕值为42dyn/cm，OPP膜的初始电晕值为44dyn/cm，PE膜的初始电晕值为42dyn/cm。S120、测定上述镭射膜的实时电晕值。具体地，步骤S120包括以下步骤S1201～S1203：S1201、提供不同达因值的系列达因液。其中，不同达因值的系列达因液为达因值分别为36dyn/cm、37dyn/cm、38dyn/cm、39dyn/cm、40dyn/cm、41dyn/cm、42dyn/cm、43dyn/cm、44dyn/cm、45dyn/cm、48dyn/cm、50dyn/cm、52dyn/cm和54dyn/cm的达因液。进一步地，不同达因值的系列达因液按表1配制。表1达因液配比表S1202、将上述系列达因液分别涂布于镭射膜的表面，每种达因液在镭射膜表面形成长度为50mm～100mm，宽度为10mm～12mm的墨条。S1203、观察墨条在2～3秒内的变化，根据墨条的收缩变化情况得到镭射膜的实时电晕值。具体地，若墨条的收缩幅度达到90％以上并形成墨滴，则镭射膜的实时电晕值＜收缩幅度达到90％以上并形成墨滴的墨条对应的达因液的达因值。若墨条不收缩也不形成墨滴，则镭射膜的电晕值＞不收缩也不形成墨滴的墨条对应的达因液的达因值。若墨条的收缩幅度为15％～20％且不形成墨滴，则镭射膜的电晕值＝收缩幅度为15％～20％且不形成墨滴的墨条对应的达因液的达因值。可以理解，人们只需观察到在2～3秒内收缩幅度为15％～20％且不形成墨滴的墨条，则形成该墨条的达因液的达因值即为该镭射膜的实时电晕值。S130、根据上述实时电晕值，得到镭射膜的存放时间。其中，镭射膜的实时电晕值与存放时间的关系式如下：σ＝-0.0125t2-0.2516t+σ0，其中，σ为实时电晕值，单位：dyn/cm，t为存放时间，单位：月，σ0为初始电晕值，单位：dyn/cm。需要说明的是，这里的“＝”可以理解为，由于电晕值消退速度快慢与存放环境温度、湿度等有关，因此，镭射膜的实际存放时间可以在计算出的时间值上±一个月内变化。例如，待测PET膜的初始电晕值为44，通过步骤S120测得该PET镭射膜的实时电晕值为42，将σ＝42，σ0＝44，代入公式σ＝-0.0125t2-0.2516t+σ0，则可计算出t＝6，即该镭射膜的实际存放时间为5～7个月。又例如，待测CPP膜的初始电晕值为42，通过步骤S120测得该CPP膜的实时电晕值为36，将σ＝36，σ0＝42，代入公式σ＝-0.0125t2-0.2516t+σ0，则可计算出t＝14个月，即该镭射膜的实际存放时间为13～15个月。需要说明的是，随着存放时间的延长，镭射膜的电晕值消退会越来越不明显，因此，一般存放时间在16个月内的测定结果会比较准确，即t≤16。此外，本申请中的镭射膜的存放环境为常温常压。上述镭射膜存放时间的检测方法，通过测定的实时电晕值，就可得到准确的镭射膜的存放时间，方便人们判断该镭射膜是否还适用于后加工。以下为具体实施例。实施例1(1)提供达因值分别为36dyn/cm、37dyn/cm、38dyn/cm、39dyn/cm、40dyn/cm、41dyn/cm、42dyn/cm、43dyn/cm、44dyn/cm、45dyn/cm、48dyn/cm、50dyn/cm、52dyn/cm和54dyn/cm的系列达因液。(2)将本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种镭射膜存放时间的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：提供待测的镭射膜；测定所述镭射膜的实时电晕值；根据所述实时电晕值，得到所述镭射膜的存放时间；根据所述实时电晕值，得到所述镭射膜的存放时间所用的公式如下：σ＝‑0.0125t2‑0.2516t+σ0，其中，σ为实时电晕值，单位：dyn/cm，t为存放时间，单位：月，σ0为初始电晕值，单位：dyn/cm。

【技术特征摘要】
1.一种镭射膜存放时间的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：提供待测的镭射膜；测定所述镭射膜的实时电晕值；根据所述实时电晕值，得到所述镭射膜的存放时间；根据所述实时电晕值，得到所述镭射膜的存放时间所用的公式如下：σ＝-0.0125t2-0.2516t+σ0，其中，σ为实时电晕值，单位：dyn/cm，t为存放时间，单位：月，σ0为初始电晕值，单位：dyn/cm。2.根据权利要求1所述的镭射膜存放时间的检测方法，其特征在于，测定所述镭射膜的实时电晕值的步骤具体为：提供不同达因值的系列达因液；将所述系列达因液分别涂布于所述镭射膜的表面，每种达因液在所述镭射膜表面形成长度为50mm～100mm，宽度为10mm～12mm的墨条；观察墨条在2～3秒内的变化，根据墨条的收缩变化情况得到所述镭射膜的实时电晕值。3.根据权利要求2所述的镭射膜存放时间的检测方法，其特征在于，根据墨条的收缩变化情况得到所述镭射膜的实时电晕值的步骤具体为：若其中一条墨条的收缩幅度为15％～20％且不形成墨滴，则所述镭射膜的实时电晕值即为该收缩幅...

【专利技术属性】
技术研发人员：余赞，田璐，钟文，张勇军，韦雪雪，罗臻，陈华，章杰，
申请(专利权)人：常德金德新材料科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43