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本申请提供一种镭射膜存放时间的检测方法，包括以下步骤：提供待测的镭射膜；测定镭射膜的实时电晕值；根据实时电晕值，得到镭射膜的存放时间；该镭射膜的实时电晕值与存放时间的关系式如下：σ＝‑0.0125t2‑0.2516t+σ0，其中，σ为实时电...
该专利属于常德金德新材料科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过常德金德新材料科技股份有限公司授权不得商用。

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