The invention discloses an integrated circuit device test in inert gas. A system includes inert gas supply, immersion chamber, test chamber, transfer zone and heater. The immersion chamber allows the integrated circuit (IC) device to immerse in the inert gas before testing. The test chamber includes a contact pin for testing IC devices in inert gas by contacting the test pin with the lead of the IC device. The transfer area is used to transfer the IC device from the immersion chamber to the test chamber. The heater is heated to the inert gas in the immersion chamber and test chamber.
【技术实现步骤摘要】
在惰性气体中进行的集成电路器件测试
本专利技术涉及在惰性气体中进行的集成电路器件测试。
技术介绍
在集成电路(IC)器件的测试中,测试仪和IC器件之间的电气接触对于测试合格率是关键的。好的单元可能仅仅由于测试仪的测试引脚和IC器件的引线之间的高接触电阻而在测试期间不合格。当单元最初不合格时,该单元通常被重新测试以避免假故障。然而,重新测试要求更高的设备容量,增加引脚材料成本,并且增加人工成本。一次通过测试合格率方面的提高等同于生产率提高或测试成本降低。由于这些和其他原因,存在对本专利技术的需要。
技术实现思路
一种系统的一个示例包括惰性气体供应、浸泡室、测试室、转移区和加热器。该浸泡室使集成电路(IC)器件在测试之前浸泡在惰性气体中。该测试室包括接触引脚以用来通过使该接触引脚接触IC器件的引线而在惰性气体中测试该IC器件。该转移区用来将IC器件从浸泡室转移至测试室。该加热器加热供应给浸泡室和测试室的惰性气体。附图说明图1图示集成电路(IC)器件测试系统的一个示例。图2图示IC器件测试系统的另一示例。图3是图示基于IC器件测试系统中的N2的纯度的IC器件的引线上的SnO的原子百分率和Sn的原子百分率的一个示例的图表。图4是图示用于测试IC器件的方法的一个示例的流程图。具体实施方式在下面的详细描述中,参考附图,所述附图形成本文中的一部分且在其中通过图示示出在其中可实践本公开的特定示例。应理解,在不脱离本公开的范围的情况下,可以利用其他示例并且可以做出结构或逻辑改变。因此,不应以限制性意义理解下面的详细描述,并且由所附权利要求限定本公开的范围。应理解,本文中描述的各 ...
【技术保护点】
1.一种系统,包括:惰性气体供应;浸泡室,其用以使集成电路(IC)器件在测试之前浸泡在惰性气体中;测试室,其包括接触引脚以用来通过使该接触引脚接触IC器件的引线而在惰性气体中测试IC器件;转移区,其用以将IC器件从浸泡室转移至测试室;以及加热器,其用以加热供应给浸泡室和测试室的惰性气体。
【技术特征摘要】
2016.12.27 US 15/3908771.一种系统,包括:惰性气体供应;浸泡室,其用以使集成电路(IC)器件在测试之前浸泡在惰性气体中;测试室,其包括接触引脚以用来通过使该接触引脚接触IC器件的引线而在惰性气体中测试IC器件;转移区,其用以将IC器件从浸泡室转移至测试室;以及加热器,其用以加热供应给浸泡室和测试室的惰性气体。2.根据权利要求1所述的系统,其中该惰性气体包括具有至少99.9%的纯度的氮气。3.根据权利要求1所述的系统,其中该加热器将惰性气体加热到至少125℃。4.根据权利要求1所述的系统,其中该浸泡室和测试室被维持在大于2巴的压强下。5.根据权利要求4所述的系统,进一步包括:阀,其用以控制惰性气体到浸泡室和测试室中的流动。6.根据权利要求1所述系统,其中该浸泡室使IC器件在测试之前浸泡在惰性气体中达至少90秒。7.根据权利要求1所述的系统,进一步包括:气体出口闸门,其用以控制惰性气体从浸泡室和测试室中的流出。8.一种系统,其包括:第一气体供应阀,其用以控制到浸泡室中的氮气流动,该浸泡室用以使集成电路(IC)器件在测试之前浸泡在氮气中;第二气体供应阀,其用以控制到测试室中的氮气流动,该测试室包括接触引脚以用来通过使该接触引脚接触IC器件的引线而在氮气中测试IC器件;转移区,其用以将IC器件从浸泡室转移至测试室;第一加热器,其用以加热供应给浸泡室的氮气;以及第二加热器,其用以加热供应给测试室的氮气。9.根据权利要求8所述的系统,进一步包括:第一气体出口闸门,其用以控制从浸泡室中的氮气流出;以及第二气体出口闸门,其用以控制从测试室中的...
【专利技术属性】
技术研发人员:GH于莱,M拉菲,张南德,TH黄,薛明,
申请(专利权)人:英飞凌科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:德国,DE
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