对讲机芯片测试系统技术方案

技术编号:18284033 阅读:56 留言:0更新日期:2018-06-23 23:13
本实用新型专利技术公开了对讲机芯片测试系统,包括handler和固定凸起,所述handler的两侧设置有handler侧板,所述handler侧板的内部设置有防护罩滑槽,所述handler的表面设置有测试板,所述测试板的一端设置有分料梭,所述分料梭的一端设置有良品管,所述分料梭的侧面设置有不良品管,所述测试板的侧面设置有导线固定夹,而且可以通过测试正弦波信号的增益,真实模拟出产品的应用环境,将产品中的功能不良准确地筛选出来,连接各元件的导线可以很有顺序地排列在导线夹内,可以有条理地对各导线连接的元件进行排查,也避免了在排查过程中碰断其他导线,可以由防护罩进行保护,防止硬物对测试装置的撞击,有效地保护测试装置。

【技术实现步骤摘要】
对讲机芯片测试系统
本技术属于对讲机芯片
,具体涉及对讲机芯片测试系统。
技术介绍
对讲机芯片测试系统主要为对讲机芯片提供测试服务,测试仪通过测试板连接到handler待测芯片,在测试机和handler进行通讯连接后,可实现对讲机芯片的量产测试,在测试机端把测试电性参数结果保存下来,并在handler端将良品和不良品分开,同时统计出良品和不良品的比例,将不良品有效筛选出来,本系统是由CTA800测试机,测试板和handler共同组成的1个测试系统,测试机上的电源信号,DACM信号,继电器控制信号都连接在测试板上,测试板通过handler连接到待测芯片,实现测试机和待测芯片的电气连接。现有的对讲机芯片测试在对芯片进行测试时,无法真实模拟出产品的应用环境,由于连接各元件的导线比较多,而且排列比较乱,在测试装置出现故障对测试装置进行维修时,无法很快地筛选出故障导线连接的元件,而且在维修过程中可能会使正常工作的导线碰断,而测试装置与空气直接接触,在测试完成后,可能会因为外物的撞击造成测试元件的损坏,同时灰尘的降落也会使元件测试不灵敏的问题,为此我们提出对讲机芯片测试系统。
技术实现思路
本技术的目的在于提供对讲机芯片测试系统,以解决上述
技术介绍
中提出的现有的对讲机芯片测试在对芯片进行测试时,无法真实模拟出产品的应用环境,由于连接各元件的导线比较多,而且排列比较乱,在测试装置出现故障对测试装置进行维修时,无法很快地筛选出故障导线连接的元件,而且在维修过程中可能会使正常工作的导线碰断,而测试装置与空气直接接触,在测试完成后,可能会因为外物的撞击造成测试元件的损坏,同时灰尘的降落也会使元件测试不灵敏的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:对讲机芯片测试系统,包括handler和固定凸起,所述handler的两侧设置有handler侧板,所述handler侧板的内部设置有防护罩滑槽,所述handler的表面设置有测试板,所述测试板的一端设置有分料梭,所述分料梭的一端设置有良品管,所述分料梭的侧面设置有不良品管,所述测试板的侧面设置有导线固定夹,所述导线固定夹的侧面设置有测试机,所述测试机的内部设置有显示屏,所述显示屏的一侧设置有连接按钮,所述连接按钮的一侧设置有开始按钮,所述测试机的一侧设置有下料轨道,所述导线固定夹的上表面设置有滑动板,所述导线固定夹的内部设置有滑动槽,所述滑动板的内部设置有固定槽,所述固定槽的侧面设置有固定栓,所述防护罩的底部设置有固定凸起。优选的,所述防护罩和handler侧板通过固定凸起和防护罩滑槽卡合固定连接。优选的,所述导线固定夹和handler通过螺栓固定连接。优选的,所述动板和导线固定夹通过滑动卡合的方式固定连接。优选的,所述防护罩为一种围面结构。与现有技术相比,本技术的有益效果是:安装好本技术以后,测试系统采用测试机的DACM信号源和继电器连接外围测试电路的模式,不但可以测试常规的直流电参数,而且可以通过测试正弦波信号的增益,真实模拟出产品的应用环境,将产品中的功能不良准确地筛选出来,连接各元件的导线可以很有顺序地排列在导线夹内,在测试装置出现故障后,可以有条理地对各导线连接的元件进行排查,也避免了在排查过程中碰断其他导线,在测试装置测试完成后,可以由防护罩进行保护,防止硬物对测试装置的撞击,同时防止灰尘降落,有效地保护测试装置。附图说明图1为本技术的芯片测试装置俯视结构示意图;图2为本技术的导线夹俯视结构示意图;图3为本技术的导线夹正面结构示意图;图4为本技术的防护罩侧面结构示意图;图中:1-防护罩滑槽、2-handler侧板、3-测试板、4-分料梭、5-良品管、6-handler、7-不良品管、8-导线固定夹、9-连接按钮、10-开始按钮、11-显示屏、12-测试机、13-下料轨道、14-滑动板、15-滑动槽、16-固定槽、17-固定栓、18-防护罩、19-固定凸起。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。请参阅图1、图2、图3和图4,本技术提供一种技术方案:对讲机芯片测试系统,包括handler6和固定凸起19,handler6的两侧设置有handler侧板2,handler侧板2的内部设置有防护罩滑槽1,handler6的表面设置有测试板3,测试板3的一端设置有分料梭4,分料梭4的一端设置有良品管5,分料梭4的侧面设置有不良品管7,测试板3的侧面设置有导线固定夹8,导线固定夹8的侧面设置有测试机12,测试机12的内部设置有显示屏11,显示屏11的一侧设置有连接按钮9,连接按钮9的一侧设置有开始按钮10,测试机12的一侧设置有下料轨道13,导线固定夹8的上表面设置有滑动板14,导线固定夹8的内部设置有滑动槽15,滑动板14的内部设置有固定槽16,固定槽16的侧面设置有固定栓17,防护罩18的底部设置有固定凸起19。为了使防护罩18方便在handler侧板2上拆卸与安装,本实施例中,优选的,防护罩18和handler侧板2通过固定凸起19和防护罩滑槽1卡合固定连接。为了使导线固定夹8和handler6固定的更牢固,本实施例中,优选的,导线固定夹8和handler6通过螺栓固定连接。为了使滑动板14能根据导线的数量进行滑动固定,本实施例中,优选的,滑动板14和导线固定夹8通过滑动卡合的方式固定连接。为了能更好地保护测试装置,本实施例中,优选的,防护罩18为一种围面结构。本技术中的handler是直接接触IC的设备,其测试区域通过金手指(夹持结构)和待测芯片的引脚连接,再通过连线连接到测试板3实现待测芯片和测试机12资源信号之间的电气连接。它可以实现IC在轨道上的下料和分料,先通过分料梭4下1颗待测IC到金手指区域,金手指夹持后,测试机12完成测试,它可以和测试机12之间通讯,接收到测试机12的测试结果后,通过分料梭4将测试完的这颗IC分到对应的料管。本技术的工作原理及使用流程:该技术安装好以后,把用于连接各元件的导线依次放入导线固定夹8内,然后滑动滑动板14将导线夹紧,待夹紧以后,向下滑动固定栓17使其插入导线固定夹8底部的孔中固定住,连接测试机12和测试板3和handler6,打开测试机软件,测试机12进入CTA8200测试系统,调取对应的测试软件,进入测试界面。在测试界面操作连接按钮9,连接测试机12和handler6的通讯,按的开始按钮10,芯片开始进行连续测试,待测芯片从下料轨道13进入测试板3进行测试,测试程序初始化,测试机12对待测芯片的引脚进行openshort测试,测试对应引脚的二极管压降,测试机给芯片电源脚上电,连接对应的测试电路,对应输入脚加1KHZ,有效值幅度为32mV的正弦波,芯片进入RX开启测试模式,测试RX模式输出正弦波的有效值,同时测试芯片20和25脚之间的直流电压差值,接上一步,改变对应外界信号的电压,芯片关闭RX模式,测试本文档来自技高网...
对讲机芯片测试系统

【技术保护点】
1.对讲机芯片测试系统,包括handler(6)和固定凸起(19),其特征在于:所述handler(6)的两侧设置有handler侧板(2),所述handler侧板(2)的内部设置有防护罩滑槽(1),所述handler(6)的表面设置有测试板(3),所述测试板(3)的一端设置有分料梭(4),所述分料梭(4)的一端设置有良品管(5),所述分料梭(4)的侧面设置有不良品管(7),所述测试板(3)的侧面设置有导线固定夹(8),所述导线固定夹(8)的侧面设置有测试机(12),所述测试机(12)的内部设置有显示屏(11),所述显示屏(11)的一侧设置有连接按钮(9),所述连接按钮(9)的一侧设置有开始按钮(10),所述测试机(12)的一侧设置有下料轨道(13),所述导线固定夹(8)的上表面设置有滑动板(14),所述导线固定夹(8)的内部设置有滑动槽(15),所述滑动板(14)的内部设置有固定槽(16),所述固定槽(16)的侧面设置有固定栓(17),所述防护罩(18)的底部设置有固定凸起(19)。

【技术特征摘要】
1.对讲机芯片测试系统,包括handler(6)和固定凸起(19),其特征在于:所述handler(6)的两侧设置有handler侧板(2),所述handler侧板(2)的内部设置有防护罩滑槽(1),所述handler(6)的表面设置有测试板(3),所述测试板(3)的一端设置有分料梭(4),所述分料梭(4)的一端设置有良品管(5),所述分料梭(4)的侧面设置有不良品管(7),所述测试板(3)的侧面设置有导线固定夹(8),所述导线固定夹(8)的侧面设置有测试机(12),所述测试机(12)的内部设置有显示屏(11),所述显示屏(11)的一侧设置有连接按钮(9),所述连接按钮(9)的一侧设置有开始按钮(10),所述测试机(12)的一侧设置有下料轨道(13),所述导线固定夹(8)的上表面...

【专利技术属性】
技术研发人员:李英才禹乾勋
申请(专利权)人:安徽华宇创芯科技有限公司深圳分公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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