基于Chroma3360P的指纹芯片测试系统技术方案

技术编号:18401474 阅读:74 留言:0更新日期:2018-07-08 20:50
本实用新型专利技术公开了基于Chroma3360P的指纹芯片测试系统,包括测试装置,所述测试装置的顶部设置有显示电脑,所述测试装置的内部设置有测试箱,所述测试箱的外侧设置有透明罩,所述测试装置的底部设置有测试装置底箱,所述测试装置底箱的底部设置有防滑支柱,所述防滑支柱的内侧设置有万向轮,所述测试装置的表面设置有启动开关,所述启动开关的顶部设置有连接按钮,所述防护围罩的内部设置有指示灯,从而使每个芯片的各项参数正常并且每项参数的一致性调整到最优,同时显示电脑可以通过弹簧栓牢牢固定在测试装置顶部的凹槽中,机械夹内部的防滑橡胶层可以在防止芯片滑落的同时起到保护芯片的作用。

Fingerprint chip testing system based on Chroma3360P

The utility model discloses a fingerprint chip testing system based on Chroma3360P, including a test device. The top of the test device is provided with a display computer. A test box is arranged inside the test device. A transparent cover is arranged on the outside of the test box, and the bottom of the test device is provided with a test device bottom box, and the test device bottom is provided with a test device bottom box. The bottom of the test device is provided with a anti skid support. The inside of the anti skid pillar is provided with a universal wheel. The surface of the test device is provided with a start switch. The top of the start switch is provided with a connection button, and the interior of the protective enclosure is provided with an indicator lamp so that the parameters of each chip are normal and all the parameters of the chip are normal, The consistency of each parameter is adjusted to the best, and the computer can be firmly fixed in the groove at the top of the test device by the spring bolt, and the anti slip rubber layer inside the mechanical clamp can protect the chip while preventing the slide of the chip.

【技术实现步骤摘要】
基于Chroma3360P的指纹芯片测试系统
本技术属于指纹芯片测试系统
,具体涉及基于Chroma3360P的指纹芯片测试系统。
技术介绍
指纹芯片测试系统主要是为指纹芯片提供测试服务,测试机和测试电路通过DUT连接到待测芯片,可实现对多颗芯片的测试,在测试机连接机械手后,可对指纹芯片进行自动化量产测试,并将测试机测试电性参数后的测试结果保存下来,同时将芯片中的不良品筛选出来,在机械手这端把不良品记录下,并在MAP图上进行显示。Chroma3360P测试系统能够提供高精度电压,电流,并提供测量功能,也能提供高频率的数字信号激励。现有的指纹芯片测试装置无法使每个芯片的各项参数正常并且每项参数的一致性调整到最优,显示电脑放置在测试装置的顶部,固定不牢固,很可能滑落损坏,同时指示灯由于由连接杆固定,受到碰撞很可能折断或者滑落损坏,机械夹内部由于是金属构造,可能在夹取芯片时造成芯片的破损,同时也无防滑措施固定芯片,芯片可能会从机械夹的内部滑落的问题,为此我们提出基于Chroma3360P的指纹芯片测试系统。
技术实现思路
本技术的目的在于提供基于Chroma3360P的指纹芯片测试系统,以解决上述
技术介绍
中提出的现有的指纹芯片测试装置无法使每个芯片的各项参数正常并且每项参数的一致性调整到最优,显示电脑放置在测试装置的顶部,固定不牢固,很可能滑落损坏,同时指示灯由于由连接杆固定,受到碰撞很可能折断或者滑落损坏,机械夹内部由于是金属构造,可能在夹取芯片时造成芯片的破损,同时也无防滑措施固定芯片,芯片可能会从机械夹的内部滑落的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:基于Chroma3360P的指纹芯片测试系统,包括测试装置,所述测试装置的顶部设置有显示电脑,所述测试装置的内部设置有测试箱,所述测试箱的外侧设置有透明罩,所述测试装置的底部设置有测试装置底箱,所述测试装置底箱的底部设置有防滑支柱,所述防滑支柱的内侧设置有万向轮,所述测试装置的表面设置有启动开关,所述启动开关的顶部设置有连接按钮,所述显示电脑的一侧设置有防护围罩,所述防护围罩的内部设置有指示灯,所述测试箱的内部设置有良品放置板,所述良品放置板的一侧设置有不良品放置板,所述不良品放置板的一侧设置有机械手,所述机械手的一端设置有机械夹,所述机械手的一侧设置有测试DUT,所述测试DUT的一侧设置有测试机,所述测试装置的上表面设置有电脑放置槽,所述电脑放置槽的外侧设置有弹簧栓,所述机械夹的外侧设置有防滑橡胶层。优选的,所述机械夹与防滑橡胶层通过嵌合的方式固定连接。优选的,所述显示电脑与测试装置通过电脑放置槽与弹簧栓卡合固定连接。优选的,所述测试装置与防护围罩通过焊塑的方式固定连接。优选的,所述防护围罩为一种圆形围面结构。与现有技术相比,本技术的有益效果是:模拟芯片的实际工作环境,对芯片的直流参数和交流参数进行测试,从而使每个芯片的各项参数正常并且每项参数的一致性调整到最优,同时显示电脑可以通过弹簧栓牢牢固定在测试装置顶部的凹槽中,避免了电脑的滑落,而指示灯的外侧有围面保护,防止连接杆折断或者滑落,机械夹内部的防滑橡胶层可以在防止芯片滑落的同时起到保护芯片的作用。附图说明图1为本技术的测试装置正面结构示意图;图2为本技术的测试箱内部俯视结构示意图;图3为本技术的测试装置俯视结构示意图;图4为本技术的机械夹分层结构示意图;图中:1-显示电脑、2-透明罩、3-测试箱、4-测试装置、5-测试装置底箱、6-防滑支柱、7-万向轮、8-启动开关、9-连接按钮、10-防护围罩、11-指示灯、12-机械夹、13-良品放置板、14-不良品放置板、15-机械手、16-测试机、17-测试DUT、18-电脑放置槽、19-弹簧栓、20-防滑橡胶层。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。请参阅图1、图2、图3和图4,本技术提供一种技术方案:基于Chroma3360P的指纹芯片测试系统,包括测试装置4,测试装置4的顶部设置有显示电脑1,测试装置4的内部设置有测试箱3,测试箱3的外侧设置有透明罩2,测试装置4的底部设置有测试装置底箱5,测试装置底箱5的底部设置有防滑支柱6,防滑支柱6的内侧设置有万向轮7,测试装置4的表面设置有启动开关8,启动开关8的顶部设置有连接按钮9,显示电脑1的一侧设置有防护围罩10,防护围罩10的内部设置有指示灯11,测试箱3的内部设置有良品放置板13,良品放置板13的一侧设置有不良品放置板14,不良品放置板14的一侧设置有机械手15,机械手15的一端设置有机械夹12,机械手15的一侧设置有测试DUT17,测试DUT17的一侧设置有测试机16,测试装置4的上表面设置有电脑放置槽18,电脑放置槽18的外侧设置有弹簧栓19,机械夹12的外侧设置有防滑橡胶层20。为了使机械夹12与防滑橡胶层20结合的紧密牢固,本实施例中,优选的,机械夹12与防滑橡胶层20通过嵌合的方式固定连接。为了使显示电脑1与测试装置4固定的更牢固,本实施例中,优选的,显示电脑1与测试装置4通过电脑放置槽18与弹簧栓19卡合固定连接。为了使测试装置4与防护围罩10固定的更紧密牢固,本实施例中,优选的,测试装置4与防护围罩10通过焊塑的方式固定连接。为了能很好地保护指示灯11,本实施例中,优选的,防护围罩10为一种圆形围面结构。本技术的工作原理及使用流程:向外侧滑动弹簧栓19,再把显示电脑1的底座放入电脑放置槽18,松开手后弹簧栓19在弹簧的弹力下插入底座的侧槽中从而固定显示电脑1,保护围罩10保护指示灯11不会因碰撞被折断和滑动,连接测试机16、测试17DUT和机械手15,打开测试机软件,测试机16进入Chroma3360P测试系统,调取对应的测试软件,进入测试界面,在测试界面操作连接按钮9,连接测试机和机械手15的通讯,按启动开关8,机械手15开始旋转用机械夹12夹取芯片,在机械夹12内部表面的防滑橡胶层20防止芯片意外滑落和保护芯片,夹取芯片后,放在测试DUT17处,由测试机16进行测试,测试机灌+/-100uA的电流测试芯片的管脚对电源和对地的保护二极管特性,通过读取二极管导通电压来判断芯片的管脚的开短路是否正常,读取指纹芯片的内部图像,用于检测芯片的内部ADC功能是否正常,采集图像,并进行校正,计算图像均值,平整度,亮点,坏点,穿透力等各种指纹采集性能,测试芯片的中断性能,测试机16通过芯片的MISO,MOSI,CSN,SCLK等接口测试芯片的SPI传输性能,测试芯片AVDD_CP电压,测试芯片VDDIO电压,测试芯片ADVREF电压,测试机16通过芯片的MISO,MOSI,CSN,SCLK等接口发送工作命令,测试芯片的电流,测试机16通过芯片的MISO,MOSI,CSN,SCLK等接口发送检测命令,测试芯片的检测电流,测试机16通过芯片的MISO,MOSI,CSN,SCLK等接口发本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.基于Chroma3360P的指纹芯片测试系统,包括测试装置(4),其特征在于:所述测试装置(4)的顶部设置有显示电脑(1),所述测试装置(4)的内部设置有测试箱(3),所述测试箱(3)的外侧设置有透明罩(2),所述测试装置(4)的底部设置有测试装置底箱(5),所述测试装置底箱(5)的底部设置有防滑支柱(6),所述防滑支柱(6)的内侧设置有万向轮(7),所述测试装置(4)的表面设置有启动开关(8),所述启动开关(8)的顶部设置有连接按钮(9),所述显示电脑(1)的一侧设置有防护围罩(10),所述防护围罩(10)的内部设置有指示灯(11),所述测试箱(3)的内部设置有良品放置板(13),所述良品放置板(13)的一侧设置有不良品放置板(14),所述不良品放置板(14)的一侧设置有机械手(15),所述机械手(15)的一端设置有机械夹(12),所述机械手(15)的一侧设置有测试DUT(17),所述测试DUT(17)的一侧设置有测试机(16),所述测试装置(4)的上表面设置有电脑放置槽(18),所述电脑放置槽(18)的外侧设置有弹簧栓(19),所述机械夹(12)的外侧设置有防滑橡胶层(20)。

【技术特征摘要】
1.基于Chroma3360P的指纹芯片测试系统,包括测试装置(4),其特征在于:所述测试装置(4)的顶部设置有显示电脑(1),所述测试装置(4)的内部设置有测试箱(3),所述测试箱(3)的外侧设置有透明罩(2),所述测试装置(4)的底部设置有测试装置底箱(5),所述测试装置底箱(5)的底部设置有防滑支柱(6),所述防滑支柱(6)的内侧设置有万向轮(7),所述测试装置(4)的表面设置有启动开关(8),所述启动开关(8)的顶部设置有连接按钮(9),所述显示电脑(1)的一侧设置有防护围罩(10),所述防护围罩(10)的内部设置有指示灯(11),所述测试箱(3)的内部设置有良品放置板(13),所述良品放置板(13)的一侧设置有不良品放置板(14),所述不良品放置板(14)的一侧设置有机械手(15),所述机械手(15)的一端设置有机械夹(12),所述机械手(15)的一侧设置有测试DUT...

【专利技术属性】
技术研发人员:廖钰
申请(专利权)人:安徽华宇创芯科技有限公司深圳分公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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