放射线检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种放射线检测装置。该放射线检测装置具备：闪烁体群，其包括多个闪烁体；光检测部，其按每个闪烁体设置，用于检测闪烁光；以及控制部，其根据放射线所具有的能量的值和基于所获取到的检测信号得到的直方图中包含的多个特征部分来校正检测信号。

【技术实现步骤摘要】
放射线检测装置
本专利技术涉及一种放射线检测装置，特别是涉及一种具备闪烁体的放射线检测装置。
技术介绍
以往，已知一种具备闪烁体的放射线检测装置。这种放射线检测装置例如在日本特开2012-189583号公报中被公开。在日本特开2012-189583号公报中公开了一种正电子发射计算机断层摄像装置(放射线检测装置)，该正电子发射计算机断层摄像装置具备：闪烁体阵列，其具有多个闪烁体；多个光检测部，其检测通过对闪烁体入射伽马射线而生成的闪烁光；以及光导件，其通过使闪烁光(荧光)扩散来使闪烁光入射到一个或多个光检测部。然而，在日本特开2012-189583号公报的正电子发射计算机断层摄像装置(放射线检测装置)中，由于由光导件引起的扩散，导致扩散后的闪烁光产生光程的偏差，因此到达光检测部所需的时间产生偏差。因此，存在以下缺陷：难以准确地获取伽马射线入射的时间。另外，关于用多个光检测部检测的信号值，仅知晓合计信号值，难以获取各个光检测部发生了何种程度的由饱和导致的漏检测的饱和程度。因此，存在以下缺陷：仅根据将各个信号相加得到的合计值难以高精度地校正由各个光检测部获取到的能量。另外，基于闪烁光的能量对多个光检测部的分配来估计伽马射线所入射的闪烁体(位置)。然而，闪烁光的能量对光检测部的分配还取决于闪烁体与光检测部之间的距离(位置关系)，但由于不考虑距离的效果就根据由各个光检测部获取到的能量的反比(重心位置)来估计入射位置，因此未必能够获取准确的位置。除此以外，存在以下缺陷：由于基于未能高精度地校正饱和程度的能量来推测入射位置，因此难以确定伽马射线所入射的闪烁体(位置)。另外，存在以下缺陷：由于伽马射线的入射位置的不确定性，也难以高精度地获取伽马射线入射的时间。这些缺陷的结果是存在以下问题：难以高精度地获取伽马射线入射的时间、位置以及由伽马射线产生的能量。
技术实现思路
本专利技术是为了解决上述那样的问题而完成的，本专利技术的一个目的在于提供一种能够高精度地获取伽马射线入射的时间、位置以及由伽马射线产生的能量的放射线检测装置。为了实现上述目的，本专利技术的一个方面的放射线检测装置具备：闪烁体群，其包括基于具有规定能量的放射线的接收来发射多束闪烁光的多个闪烁体；多个光检测部，其包括基于闪烁光的入射来输出检测信号的多个光电转换元件；以及控制部，其获取由光检测部输出的检测信号，其中，光检测部按每个闪烁体设置，使得检测从一个闪烁体产生的闪烁光，控制部构成为根据放射线所具有的能量的值和基于所获取到的检测信号得到的直方图中包含的多个特征部分来校正检测信号。在本专利技术的一个方面所涉及的放射线检测装置中，如上所述那样按每个闪烁体设置光检测部，使得检测从一个闪烁体产生的闪烁光。另外，将控制部构成为根据基于所获取到的检测信号得到的直方图中包含的多个特征部分来校正检测信号。由此，光检测部检测从一个闪烁体产生的闪烁光，因此能够准确地获取向哪个闪烁体入射了伽马射线。另外，通过使闪烁光入射到一个光检测部来抑制产生闪烁光的路径的偏差，因此能够高精度地获取伽马射线入射的时间。另外，通过根据放射线所具有的能量的值和基于所获取到的检测信号得到的直方图中包含的多个特征部分来校正检测信号，能够对由饱和导致的漏检测进行校正，因此能够高精度地校正检测信号的读取值(能量)。其结果是，能够高精度地获取伽马射线入射的时间、位置以及由伽马射线产生的能量。特别是在根据在正电子-电子对湮灭时产生的两条伽马射线的检测时间差来获取在两条伽马射线的路径上发生正电子-电子对湮灭的位置的TOF(TimeofFlight)正电子放射断层摄影装置中使用的情况下，能够高精度地获取伽马射线的入射时间和入射位置，因此能够高精度地获取正电子-电子对湮灭发生的位置。在上述一个方面所涉及的放射线检测装置中，优选的是，控制部构成为基于作为直方图中包含的特征部分的、光电吸收峰的读取值和康普顿边缘的读取值，来获取用于校正检测信号的光检测部的检测值与检测值的校正值之间的对应关系。如果像这样构成，则仅根据与具有规定能量的放射线对应的光电吸收峰的读取值和康普顿边缘的读取值就能够获取用于校正检测信号的光检测部的检测值与检测值的校正值之间的对应关系，因此能够简单地获取校正所需要的信息。此外，光电吸收峰是指所入射的伽马射线的总能量被转换为闪烁光并在一个闪烁体中被检测到的情况下的输出信号值的峰。另外，康普顿边缘是指在所入射的伽马射线与闪烁体内的电子碰撞而弹飞(反冲)的情况下与能够对电子施加的最大能量对应的输出信号值的边缘。在该情况下，优选的是，控制部基于使直方图中包含的光电吸收峰和康普顿边缘各自的读取值与对应于校正值的理论值相对应的二次函数，来获取对应关系。如果像这样构成，能够根据二次函数来决定用于进行读取值的校正的对应关系，因此能够通过简单的处理来获取对应关系。具体来说，能够根据以下三点来简单地决定作为对应关系的二次函数的形状：根据读取值和对应于校正值的理论值决定的原点(读取值为零，与此相对地，校正后的值为零)；表示光电吸收峰的点(光电吸收峰的读取值，与此相对地，作为校正后的值的、所入射的伽马射线的规定的总能量)；以及表示康普顿边缘的点(康普顿边缘的读取值，与此相对地，作为校正后的值的、所入射的伽马射线的规定的总能量的2/3)。在基于上述光电吸收峰的读取值和康普顿边缘的读取值来获取用于校正检测信号的对应关系的放射线检测装置中，优选的是，控制部构成为对基于所获取到的检测信号得到的闪烁光的直方图中包含的光电吸收峰的附近进行校正。如果像这样构成，则能够准确地校正光电吸收峰的形状，因此能够高精度地获取表示光电吸收峰的波动的半峰全宽。其结果是，能够准确地估计使用了测定出的入射伽马射线的时间、位置以及能量进行的计算的误差。特别是在TOF正电子放射断层摄影装置中使用的情况下，能够在对由测定数据构成的诊断图像进行图像校正的情况下抑制发生过校正、校正不足。在上述一个方面所涉及的放射线检测装置中，优选的是用于正电子放射断层摄影装置。如果像这样构成，则能够更高精度地检测通过电子-正电子对湮灭而发射的伽马射线入射的准确的时间。附图说明图1是用于说明本专利技术的一个实施方式的放射线检测装置的框图。图2是用于说明本专利技术的一个实施方式的放射线检测装置的闪烁体和光检测部的图。图3是表示对本专利技术的一个实施方式的放射线检测装置的闪烁体入射了伽马射线时的产生闪烁光的情形的图。图4是本专利技术的一个实施方式的放射线检测装置的一个闪烁体连接一个光检测部所得到的组中的511keV的伽马射线检测的直方图。图5是使511keV的伽马射线入射到连接于光电倍增管的闪烁体的情况下的伽马射线检测的直方图。图6是本专利技术的一个实施方式的用于校正检测信号的输出值的二次函数的曲线图。图7是本专利技术的一个实施方式的放射线检测装置的一个闪烁体连接一个光检测部所得到的组中的511keV的伽马射线检测的被校正后的直方图。图8是本专利技术的一个实施方式的放射线检测装置的一个闪烁体连接一个光检测部所得到的组集聚为4行4列的矩阵状的情况下的511keV的伽马射线检测的直方图。图9是本专利技术的一个实施方式的放射线检测装置的一个闪烁体连接一个光检测部所得到的组集聚为4行4列的矩阵状的情况下的511keV的伽马射线检测的被本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种放射线检测装置，具备：闪烁体群，其包括基于具有规定能量的放射线的接收来发射多束闪烁光的多个闪烁体；多个光检测部，其包括基于所述闪烁光的入射来输出检测信号的多个光电转换元件；以及控制部，其获取由所述光检测部输出的所述检测信号，其中，所述光检测部按每个所述闪烁体设置，使得检测从一个所述闪烁体产生的所述闪烁光，所述控制部构成为根据所述放射线所具有的能量的值和基于所获取到的所述检测信号得到的直方图中包含的多个特征部分来校正所述检测信号。

【技术特征摘要】
2016.12.02 JP 2016-2348251.一种放射线检测装置，具备：闪烁体群，其包括基于具有规定能量的放射线的接收来发射多束闪烁光的多个闪烁体；多个光检测部，其包括基于所述闪烁光的入射来输出检测信号的多个光电转换元件；以及控制部，其获取由所述光检测部输出的所述检测信号，其中，所述光检测部按每个所述闪烁体设置，使得检测从一个所述闪烁体产生的所述闪烁光，所述控制部构成为根据所述放射线所具有的能量的值和基于所获取到的所述检测信号得到的直方图中包含的多个特征部分来校正所述检测信号。2.根据权利要求1所述的放射线检测装置，其特征在于，所述控制部构成为，基于作为...

【专利技术属性】
技术研发人员：津田伦明，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本,JP