一种高速比较器电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种高速比较器电路，应用于激光测距装置，其中，包括高速比较器，所述高速比较器包括正向输入端、反向输入端及输出端，所述正向输入端用以连接放大后的激光测距反馈信号，所述反向输入端通过一第一电容接地；所述反向输入端还通过相互串联的一第一电阻及一二极管连接所述输出端，所述二极管正极连接所述输出端，负极连接所述第一电阻；所述反向输入端还连接一可调基准电压；所述高速比较器的输出端形成所述高速比较器电路的输出端。本实用新型专利技术获得了以下有益效果：由高速比较器代替高精度快速度的模数转换装置，降低激光测距装置的成本及零件采购难度。

【技术实现步骤摘要】
一种高速比较器电路
本技术涉及电子电路
，尤其涉及一种应用于激光测距装置的高速比较器电路。
技术介绍
在脉冲激光测距装置中，由发射管发出的激光经过目标物反射后进入接收物镜，最终打到光电二极管上，APD管(AvalanchePhotoDiode，雪崩光电二极管)将光信号转为微弱的电流，经过两级放大电路最终得到可以处理的模拟信号。现有技术中，通常的处理方式是将经两级放大电路放大后的模拟信号经过高速模数转换装置(ADC)采样后读取到CPLD(ComplexProgrammableLogicDevice，复杂可编程逻辑器件)或FPGA(Field－ProgrammableGateArray，现场可编程门阵列)进行处理。采用ADC进行信号处理的方式其特点是外围器件较少，结构简单。但是由于APD管灵敏度较高，响应速度也十分的快速，在激光测距装置中主要的作用是将光信号转为电信号，因此即使产生的电流信号经过两级放大电路处理，输出的模拟信号仍然存在着脉宽窄、数量多、噪声较多的缺陷。并且，采用ADC处理方式的脉冲激光测距装置，需要采用采样精度高，处理速度快的ADC器件，而此类ADC器件的价格一般是非常昂贵的，并且由于各方面的政策原因在实际产品生产采购中还存在各种限制，造成最终产品无法按照设计要求以及生产目标完成生产。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种用以代替激光测距装置中高精度快速模数转换装置的高速比较器电路。为实现上述目的，本技术采用了如下的技术方案：一种高速比较器电路，应用于激光测距装置，其中，包括高速比较器，所述高速比较器包括正向输入端、反向输入端及输出端，所述正向输入端用以连接放大后的激光测距反馈信号，所述反向输入端通过一第一电容接地；所述反向输入端还通过相互串联的一第一电阻及一二极管连接所述输出端，所述二极管正极连接所述输出端，负极连接所述第一电阻；所述反向输入端还连接一可调基准电压；所述高速比较器的输出端形成所述高速比较器电路的输出端。本技术的另一方面，所述激光测距反馈信号由一雪崩光电二极管形成。本技术的另一方面，所述雪崩光电二极管形成的所述激光测距反馈信号经过二级放大后连接至所述正向输入端。本技术的另一方面，所述高速比较器为LT1719型高速比较器芯片。本技术的另一方面，所述第一电容为0.1uF。本技术的另一方面，所述第一电阻为62KΩ。本技术的另一方面，所述放大后的激光测距反馈信号通过一第二电容连接所述反向输入端。本技术的另一方面，所述正向输入端通过一第二电阻接地。本技术的另一方面，所述正向输入端通过一第三电阻连接所述可调基准电压。本技术的另一方面，所述可调基准电压通过串联的第四电阻及第五电阻连接所述反向输入端。本技术获得了以下有益效果：由高速比较器代替高精度快速度的模数转换装置，降低激光测距装置的成本及零件采购难度。附图说明图1为本技术一种高速比较器电路的逻辑框图；图2为本技术使用LT1719IS6芯片作为高速比较器的实施例的原理图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明，但不作为本技术的限定。本技术提供一种高速比较器电路，应用于激光测距装置，如图1所示，其中，包括高速比较器100，所述高速比较器100包括正向输入端3、反向输入端1及输出端5，所述正向输入端3用以连接放大后的激光测距反馈信号RX_SIG，所述反向输入端1通过一第一电容C43接地；所述反向输入端1还通过相互串联的一第一电阻R28及一二极管D13连接所述输出端5，所述二极管D13正极连接所述输出端5，负极连接所述第一电阻R28；所述反向输入端1还连接一可调基准电压VCC_OP；所述高速比较器100的输出端5形成所述高速比较器电路的输出端RX_OUT。上述技术方案中，可调基准电压VCC_OP为放大后的激光测距反馈信号RX_SIG对应的标准值，用以与放大后的激光测距反馈信号RX_SIG进行比较。二极管D13配合第一电阻R28及第一电容C43组成的负反馈电路，滤除放大后的激光测距反馈信号RX_SIG中的噪声。本技术的另一方面，所述激光测距反馈信号由一雪崩光电二极管形成。由于APD管形成激光测距反馈信号为本领域惯用的技术手段，因此不再展开描述。本技术的另一方面，所述雪崩光电二极管形成的所述激光测距反馈信号经过二级放大后连接至所述正向输入端3。本技术的另一方面，所述高速比较器可以采用LT1719型高速比较器芯片。如图2所示的实施例中采用了LT1719IS6型高速比较器芯片。在此实施例中，所述第一电容为0.1uF，所述第一电阻为62KΩ；并且，所述放大后的激光测距反馈信号通过一第二电容C42连接所述反向输入端1，该第二电容C41为0.1uF；并且，正向输入端3还通过一第二电阻R27接地，该第二电阻R27为3.3KΩ；并且，所述正向输入端3通过一第三电阻R29连接所述可调基准电压VCC_OP，第三电阻R29为10KΩ；并且，所述可调基准电压VCC_OP通过串联的第四电阻R25及第五电阻R26连接所述反向输入端1。需要指出的是，上述技术方案只是本技术的一个具体实施例，上述电路中器件的参数选择亦是出于配合LT1719IS6型高速比较器芯片的目的，本领域技术人员可以预见，当采用其他型号的高速比较器芯片时，上述器件的参数可以适应性的改变，因此不应以上述器件的具体参数限制本技术的保护范围。此外，由于上述技术方案产生的输出信号RX_OUT为串行信号，代替输出并行信号的ADC时需要增加串行信号转换并行信号的转换装置，当然也可以直接将串行信号输出至CPLD或者FPGA的串行信号接口，减少额外转换装置带来的成本增加。以上所述仅为本技术较佳的实施例，并非因此限制本技术的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本技术说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高速比较器电路，应用于激光测距装置，其特征在于，包括高速比较器，所述高速比较器包括正向输入端、反向输入端及输出端，所述正向输入端用以连接放大后的激光测距反馈信号，所述反向输入端通过一第一电容接地；所述反向输入端还通过相互串联的一第一电阻及一二极管连接所述输出端，所述二极管正极连接所述输出端，负极连接所述电阻；所述反向输入端还连接一可调基准电压；所述高速比较器的输出端形成所述高速比较器电路的输出端。

【技术特征摘要】
1.一种高速比较器电路，应用于激光测距装置，其特征在于，包括高速比较器，所述高速比较器包括正向输入端、反向输入端及输出端，所述正向输入端用以连接放大后的激光测距反馈信号，所述反向输入端通过一第一电容接地；所述反向输入端还通过相互串联的一第一电阻及一二极管连接所述输出端，所述二极管正极连接所述输出端，负极连接所述电阻；所述反向输入端还连接一可调基准电压；所述高速比较器的输出端形成所述高速比较器电路的输出端。2.如权利要求1所述高速比较器电路，其特征在于，所述激光测距反馈信号由一雪崩光电二极管形成。3.如权利要求2所述高速比较器电路，其特征在于，所述雪崩光电二极管形成的所述激光测距反馈信号经过二级放大后连接至所述正向输入端。4.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈明书，
申请(专利权)人：上海龙达胜宝利光电有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31