【技术实现步骤摘要】
一种非接触式全自动激光测厚装置
本技术属于测厚装置
,具体涉及一种非接触式全自动激光测厚装置。
技术介绍
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的,上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量,相对接触式测厚仪更精准,不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。然而现有的激光测厚装置测量精度有待提高,而且对于温度没有相应的控制装置,较高的温度会影响测量的结果,现有的激光测厚装置对所测量物体的固定较为简单,容易影响测量的精确性,因此我们需要一款新型的非接触式全自动激光测厚装置,来满足人们的需求。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种非接触式全自动激光测厚装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种非接触式全自动激光测厚装置,包括激光测厚装置主体,所述激光测厚装置主体左端的顶部设有箱体,所述箱体的表面设有控制面板,所述箱体的内部设有激光测厚仪,所述激光测厚仪包括进线管、测量结果处理器、成像物镜和光电位敏接收器,所述进线管设置在激光测厚仪的表面,所述测量结果处理器、成像物镜和光电位敏接收器设置在激光测厚仪的内部,所述成像物镜设置在光电位敏接收器的上方,所述测量结果处理器光电位敏接收器的下方,所述控制面板的右侧设有显示屏,所述显示屏的下方设有存储条;所述激光测厚装置主体的右端设有支撑架,所述支撑架的内部设有温度传感器,所述支撑架的中部设有固定装置,所述固定装置包括气缸、滑块、滑槽和伸缩柱,所述伸 ...
【技术保护点】
一种非接触式全自动激光测厚装置,包括激光测厚装置主体(1),其特征在于:所述激光测厚装置主体(1)左端的顶部设有箱体(2),所述箱体(2)的表面设有控制面板(4),所述箱体(2)的内部设有激光测厚仪(3),所述激光测厚仪(3)包括进线管(31)、测量结果处理器(32)、成像物镜(33)和光电位敏接收器(34),所述进线管(31)设置在激光测厚仪(3)的表面,所述测量结果处理器(32)、成像物镜(33)和光电位敏接收器(34)设置在激光测厚仪(3)的内部,所述成像物镜(33)设置在光电位敏接收器(34)的上方,所述测量结果处理器(32)光电位敏接收器(34)的下方,所述控制面板(4)的右侧设有显示屏(5),所述显示屏(5)的下方设有存储条(7);所述激光测厚装置主体(1)的右端设有支撑架(8),所述支撑架(8)的内部设有温度传感器(6),所述支撑架(8)的中部设有固定装置(9),所述固定装置(9)包括气缸(91)、滑块(92)、滑槽(93)和伸缩柱(94),所述伸缩柱(94)连接在气缸(91)的表面,所述滑块(92)固定连接在气缸(91)的内侧,所述滑槽(93)设置在滑块(92)的下方, ...
【技术特征摘要】
1.一种非接触式全自动激光测厚装置,包括激光测厚装置主体(1),其特征在于:所述激光测厚装置主体(1)左端的顶部设有箱体(2),所述箱体(2)的表面设有控制面板(4),所述箱体(2)的内部设有激光测厚仪(3),所述激光测厚仪(3)包括进线管(31)、测量结果处理器(32)、成像物镜(33)和光电位敏接收器(34),所述进线管(31)设置在激光测厚仪(3)的表面,所述测量结果处理器(32)、成像物镜(33)和光电位敏接收器(34)设置在激光测厚仪(3)的内部,所述成像物镜(33)设置在光电位敏接收器(34)的上方,所述测量结果处理器(32)光电位敏接收器(34)的下方,所述控制面板(4)的右侧设有显示屏(5),所述显示屏(5)的下方设有存储条(7);所述激光测厚装置主体(1)的右端设有支撑架(8),所述支撑架(8)的内部设有温度传感器(6),所述支撑架(8)的中部设有固定装置(9),所述固定装置(9)包括气缸(91)、滑块(92)、滑槽(93)和伸缩柱(94),所述伸缩柱(94)连接在气缸(91)的表面,所述滑块(92)...
【专利技术属性】
技术研发人员:张元胜,
申请(专利权)人:深圳市悦目光学器件有限公司,
类型:新型
国别省市:广东,44
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