一种无源UHF RFID芯片协议性能的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种无源UHF RFID芯片协议性能的测试方法，包括使所述RFID标签读写器向一待测试芯片发送指令；使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；分析采集到的所述射频信号，并调整所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试芯片可正确应答的临界值；记录所述临界值；选取下一测试用例，并重复上述步骤，直至所有所述测试用例测试完毕。本发明专利技术获得了以下有益效果：可对无源UHF RFID芯片的协议性能进行一系列有效的测试。

A test method for protocol performance of passive UHF RFID chip

The invention discloses a test method for the performance of a passive UHF RFID chip protocol, which includes sending the RFID tag reader to a test chip to send instructions; the radio frequency signal analysis device collects the radio frequency signal in the communication process of the RFID tag reader and the tested chip, and analyzes the collected radio frequency signal. Number, and adjust the transmission power of the RFID tag reader to the critical value of the correct response of the chip to be tested; record the critical value; select the next test case, and repeat the above steps until all of the test cases are tested. The invention has the following beneficial effects: it can carry out a series of effective tests on the protocol performance of the passive UHF RFID chip.

【技术实现步骤摘要】
一种无源UHFRFID芯片协议性能的测试方法
本专利技术涉及射频标签
，尤其涉及一种无源UHFRFID芯片协议性能的测试方法。
技术介绍
射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。现有的射频标签技术中，无源UHFRFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，然而，由于目前缺少对无源UHFRFID的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的无源UHFRFID被混合使用，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。由于UHFRFID标签的芯片是其主要工作部件，因此如何对UHFRFID芯片提供一系列有效的测试方法，成为业界的课题。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种无源UHFRFID芯片协议性能的测试方法。为实现上述目的，本专利技术采用了如下的技术方案：一种无源UHFRFID芯片协议性能的测试方法，其中，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器向一待测试芯片发送指令；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；步骤6，分析采集到的所述射频信号，并调整所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试芯片可正确应答的临界值；步骤7，记录所述临界值；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。本专利技术的另一方面，所述射频信号分析装置为频谱分析仪。本专利技术的另一方面，所述RFID标签读写器的工作频率为920MHz～925MHz。本专利技术的另一方面，所述待测试芯片为COB封装芯片，所述COB封装芯片包括匹配网络和巴伦，0欧姆电阻及功能芯片。本专利技术的另一方面，还包括一环形器，所述射频信号分析装置通过馈线连接所述第环形器的第一端口，所述RFID标签读写器通过馈线连接所述环形器的第二端口，所述待测试芯片通过馈线连接所述环形器的第三端口。本专利技术的另一方面，所述步骤6中，调整所述RFID标签读写器发射功率的方法为，如以所述RFID标签读写器的初始发射功率发送指令，无法接收到所述待测试芯片的完整应答，则以一预定步长增加所述RFID标签读写器的发射功率直至可接收到所述待测试芯片完整应答的临界值，如可接受到所述待测试芯片的完整应答，则以所述预定步长降低所述待测试RFID标签读写器的发射功率，直至可接收到所述待测试芯片完整应答的临界值。本专利技术的另一方面，所述预定步长为0.2dBm。本专利技术的另一方面，述测试项目包括芯片识别灵敏度测试、芯片读灵敏度测试、芯片写灵敏度测试、芯片最大发射功率测试。本专利技术获得了以下有益效果：可对无源UHFRFID芯片的协议性能进行一系列有效的测试。附图说明图1为本专利技术无源UHFRFID芯片协议性能的测试方法的测试设备连接结构示意图；图2为本专利技术无源UHFRFID芯片协议性能的方法的流程框图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，但不作为本专利技术的限定。一种无源UHFRFID芯片协议性能的测试方法，如图1、图2所示，其中，提供一RFID标签读写器2以及一射频信号分析装置1，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器2参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置1参数，使所述射频信号分析装置1工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器2向一待测试芯片5发送指令；步骤5，使所述射频信号分析装置1采集所述RFID标签读写器2与所述待测试芯片5通信过程中的射频信号；步骤6，分析采集到的所述射频信号，并调整所述RFID标签读写器2的发射功率至所述待测试芯片5可正确应答的临界值；步骤7，记录所述临界值；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。本专利技术的另一方面，所述射频信号分析装置1为频谱分析仪。本专利技术的另一方面，所述RFID标签读写器2的工作频率为920MHz～925MHz。本专利技术的另一方面，所述待测试芯片5为COB封装芯片，所述COB封装芯片包括匹配网络和巴伦，0欧姆电阻及功能芯片。本专利技术的另一方面，还包括一环形器3，所述射频信号分析装置1通过馈线连接所述第环形器3的第一端口，所述RFID标签读写器2通过馈线连接所述环形器3的第二端口，所述待测试芯片5通过馈线连接所述环形器3的第三端口。本专利技术的另一方面，所述步骤6中，调整所述RFID标签读写器发射功率的方法为，如以所述RFID标签读写器的初始发射功率发送指令，无法接收到所述待测试芯片的完整应答，则以一预定步长增加所述RFID标签读写器的发射功率直至可接收到所述待测试芯片完整应答的临界值，如可接受到所述待测试芯片的完整应答，则以所述预定步长降低所述待测试RFID标签读写器的发射功率，直至可接收到所述待测试芯片完整应答的临界值。本专利技术的另一方面，所述预定步长为0.2dBm。本专利技术的另一方面，述测试项目包括芯片识别灵敏度测试、芯片读灵敏度测试、芯片写灵敏度测试、芯片最大发射功率测试。以下以具体实施例说明本专利技术的可行性。实施例一当测试项目为芯片识别灵敏度测试时，步骤2中，将RFID标签读写器的初始发射功率设置为-15dBm加线路的插入损耗值，并且启动查询命令前向链路基准时间设置为6.25μs，反向链路频率设置为320Khz，编码方式设置为FM0，带前导码。步骤4中，指令为启动查询命令。上述插入损耗值由插损功率计通过测量待测试芯片的引脚获得。测试用例为频点920.125MHz、924.875MHz。在每个测试用例中，获取临界值后可重复发送相应的指令10次，10次发送指令后若有50％以上的指令获得完整应答，即可认为该临界值有效。待测试芯片识别灵敏度为对应的临界值减去线路插入损耗值。当待测试芯片的识别灵敏度小于等于-14dBm时，测试通过，否则测试失败。实施例二当测试项目为芯片读灵敏度测试时，可先将待测试芯片的用户区的前4个字节区应该用同样数量的1和0统一填充(即，由5Ahex、3Chex、0Fhex、F0hex填充存储区的四字节存储块)。步骤2中，将RFID标签读写器的初始发射功率设置为-14dBm加线路的插入损耗值，并且启动查询命令前向链路基准时间设置为6.25μs，反向链路频率设置为320Khz，编码方式设置为FM0，带前导码。上述插入损耗值由插损功率计通过测量待测试芯片的引脚获得。步骤4中，指令包括：发送满足T2要求本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种无源UHF RFID芯片协议性能的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器向一待测试芯片发送指令；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；步骤6，分析采集到的所述射频信号，并调整所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试芯片可正确应答的临界值；步骤7，记录所述临界值；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。

【技术特征摘要】
1.一种无源UHFRFID芯片协议性能的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器向一待测试芯片发送指令；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；步骤6，分析采集到的所述射频信号，并调整所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试芯片可正确应答的临界值；步骤7，记录所述临界值；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述射频信号分析装置为频谱分析仪。3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述RFID标签读写器的工作频率为920MHz～925MHz。4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：冀京秋，陈伯俊，邱落，
申请(专利权)人：中京复电上海电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31