陶瓷闪烁器阵列和其制造方法、放射线检测器及放射线检查装置制造方法及图纸

实施方式的陶瓷闪烁器阵列(1)具备由稀土类氧硫化物荧光体的烧结体形成的多个闪烁器节(2)和介于相邻的闪烁器节间的反射层(3)。反射层(3)含有透明树脂和分散于透明树脂内的反射粒子。反射粒子包含氧化钛和选自由氧化铝、氧化锆及二氧化硅组成的组中的至少1种无机物质。透明树脂的玻璃化转变温度为50℃以上，且比玻璃化转变温度高的温度下的透明树脂的热膨胀系数为3.5×10

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】陶瓷闪烁器阵列和其制造方法、放射线检测器及放射线检查装置
本专利技术的实施方式涉及陶瓷闪烁器阵列和其制造方法、放射线检测器及放射线检查装置。
技术介绍
在医疗诊断、工业用非破坏检查等领域中，使用X射线断层照相摄影装置(以下记为X射线CT装置)那样的放射线检查装置进行检查。X射线CT装置将照射扇状的扇形波束X射线的X射线管(X射线源)和具备许多的X射线检测元件的X射线检测器以被检查体的断层面为中央相向配置地构成。在X射线CT装置中，一边相对于被检查体旋转一边从X射线管照射扇形波束X射线，以X射线检测器收集透过被检查体后的X射线吸收数据。之后，通过用计算机解析X射线吸收数据，由此再生断层图像。在X射线CT装置的放射线检测器中，广泛使用采用了固体闪烁器的检测元件。在具备使用了固体闪烁器的检测元件的放射线检测器中，由于容易将检测元件小型化而增加通道数，所以能够更进一步提高X射线CT装置等的析像度。X射线CT装置等放射线检查装置被用于医疗用、工业用等各种领域。作为X射线CT装置，例如已知有将光电二极管等检测元件纵横二维地排列，且在其上搭载有闪烁器阵列的多切面型的装置。通过制成多切面型，能够将切本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种陶瓷闪烁器阵列，其具备：由稀土类氧硫化物荧光体的烧结体形成的多个闪烁器节；和按照将所述多个闪烁器节进行一体化的方式介于相邻的所述闪烁器节间的反射层，所述反射层含有透明树脂和分散于所述透明树脂内的反射粒子，其中，所述反射粒子包含氧化钛和选自由氧化铝、氧化锆及二氧化硅组成的组中的至少1种无机物质，所述透明树脂的玻璃化转变温度为50℃以上，且比所述玻璃化转变温度高的温度下的所述透明树脂的热膨胀系数为3.5×10

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.11.12 JP 2015-2223021.一种陶瓷闪烁器阵列，其具备：由稀土类氧硫化物荧光体的烧结体形成的多个闪烁器节；和按照将所述多个闪烁器节进行一体化的方式介于相邻的所述闪烁器节间的反射层，所述反射层含有透明树脂和分散于所述透明树脂内的反射粒子，其中，所述反射粒子包含氧化钛和选自由氧化铝、氧化锆及二氧化硅组成的组中的至少1种无机物质，所述透明树脂的玻璃化转变温度为50℃以上，且比所述玻璃化转变温度高的温度下的所述透明树脂的热膨胀系数为3.5×10-5/℃以下。2.根据权利要求1所述的陶瓷闪烁器阵列，其中，将所述陶瓷闪烁器阵列在温度为50℃、湿度为80％RH的气氛中以捆包状态保管1个月后的间距、翘曲及外形尺寸的变化量均为0.02mm以下。3.根据权利要求1所述的陶瓷闪烁器阵列，其中，由相当于10年量的X射线曝射量引起的所述陶瓷闪烁器阵列的光输出功率的降低为25％以内。4.根据权利要求1至权利要求3中任1项所述的陶瓷闪烁器阵列，其中，所述透明树脂的分子结构具有不包含双重结构的环结构。5.根据权利要求1至权利要求4中任1项所述的陶瓷闪烁器阵列，其中，所述透明树脂具备具有脂肪族骨架的环氧树脂。6.根据权利要求5所述的陶瓷闪烁器阵列，其中，所述透明树脂为双组分型环氧树脂。7.根据权利要求1至权利要求6中任1项所述的陶瓷闪烁器阵列，其中，所述反射层含有以质量比计为15％以上且60％以下的所述透明树脂、和以质量比计为40％以上且85％以下的所述反射粒子。8.根据权利要求1至权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：森本一光，福田幸洋，齐藤昭久，近藤弘康，
申请(专利权)人：株式会社东芝，东芝高新材料公司，
类型：发明
国别省市：日本,JP