一种IC测试探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种IC测试探针，包括连接套筒、滑动伸缩装置和探测主体,所述滑动伸缩装置固定卡接在连接套筒的内部，所述滑动伸缩装置的底端固定安装有固定槽板，所述固定槽板的上端滑动卡接有移动滑块，所述连接套筒的一端固定连接有第二保护弹簧，所述连接套筒的另一端固定连接有第一保护弹簧，所述第二保护弹簧背离连接套筒的一侧固定连接有第一连接套环，所述第一保护弹簧背离连接套筒的一侧固定有第二连接套环，所述第一连接套环和第二连接套环背离连接套筒的端头均卡接有探测主体，所述探测主体的一端安装有螺纹连接柱。本实用新型专利技术便于固定在测试插座上，并且在测试过程中可以根据需要调整探针的长度，大大方便了对IC的检测。

A IC test probe

The utility model discloses a IC test probe, including the connecting sleeve and the sliding telescopic device and detection main body, the sliding telescopic device is fixedly clamped in the internal connecting sleeve, the sliding telescopic device fixed on the bottom end is provided with a fixed slot plate, the upper end of the sliding plate is connected with a mobile card the slider, the connecting sleeve is connected fixedly with second protection spring, the other end of the connecting sleeve is fixedly connected with a first protective spring, the spring second protection deviating side connecting sleeve is fixedly connected with the first connecting ring, wherein the first protection spring deviating side connection sleeve is fixed with second connecting rings, the the first connection ring and second connection end of the connecting sleeve ring from are connected with a probe body, wherein one end of the main installation connecting thread detection column. The utility model is convenient to be fixed on the test socket, and the length of the probe can be adjusted according to the need in the test process, and the detection of IC is greatly convenient.

【技术实现步骤摘要】
一种IC测试探针
本技术涉及IC测试设备
，具体为一种IC测试探针。
技术介绍
IC，即集成电路，是采用半导体制作工艺，在一块较小的单晶硅片上制作上许多晶体管及电阻器、电容器等元器件，并按照多层布线或遂道布线的方法将元器件组合成完整的电子电路，在集成电路的生产加工过程中经常需要使用探针进行检测，目前使用的探针使用过程中不便于安装在测试插座上，并且在检测过程中探针的长度不能根据使用需要快速的调节长度，以及不便更换不同的探针型号，对检测造成了很大的不便。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种IC测试探针，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种IC测试探针，包括连接套筒、滑动伸缩装置和探测主体,所述滑动伸缩装置固定卡接在连接套筒的内部，所述滑动伸缩装置的底端固定安装有固定槽板，所述固定槽板的上端滑动卡接有移动滑块，所述移动滑块上端面固定连接有橡胶块，所述连接套筒上螺纹转动有旋拧固定钮，所述连接套筒的一端固定连接有第二保护弹簧，所述连接套筒的另一端固定连接有第一保护弹簧，所述第二保护弹簧背离连接套筒的一侧固定连接有第一连接套环，所述第一保护弹簧背离连接套本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种IC测试探针，包括连接套筒(3)、滑动伸缩装置(4)和探测主体(6),其特征在于：所述滑动伸缩装置(4)固定卡接在连接套筒(3)的内部，所述滑动伸缩装置(4)的底端固定安装有固定槽板(10)，所述固定槽板(10)的上端滑动卡接有移动滑块(11)，所述移动滑块(11)上端面固定连接有橡胶块(9)，所述连接套筒(3)上螺纹转动有旋拧固定钮(2)，所述连接套筒(3)的一端固定连接有第二保护弹簧(8)，所述连接套筒(3)的另一端固定连接有第一保护弹簧(7)，所述第二保护弹簧(8)背离连接套筒(3)的一侧固定连接有第一连接套环(1)，所述第一保护弹簧(7)背离连接套筒(3)的一侧固定有第二连接套环(...

【技术特征摘要】
1.一种IC测试探针，包括连接套筒(3)、滑动伸缩装置(4)和探测主体(6),其特征在于：所述滑动伸缩装置(4)固定卡接在连接套筒(3)的内部，所述滑动伸缩装置(4)的底端固定安装有固定槽板(10)，所述固定槽板(10)的上端滑动卡接有移动滑块(11)，所述移动滑块(11)上端面固定连接有橡胶块(9)，所述连接套筒(3)上螺纹转动有旋拧固定钮(2)，所述连接套筒(3)的一端固定连接有第二保护弹簧(8)，所述连接套筒(3)的另一端固定连接有第一保护弹簧(7)，所述第二保护弹簧(8)背离连接套筒(3)的一侧固定连接有第一连接套环(1)，所述第一保护弹簧(7)背离连接套筒(3)的一侧固定有第二连接套环(5)，所述第一连接套环(1)和第二连接套环(5)背离连接套筒(3)的端头均卡接有探测主体(6)，所述探测主体(6)的一端安装有螺纹连接柱(12)，所述螺纹连接柱(12)背离连...

【专利技术属性】
技术研发人员：傅马腾，
申请(专利权)人：东莞市台易电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44