下载一种IC测试探针的技术资料

文档序号:17740090

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本实用新型公开了一种IC测试探针,包括连接套筒、滑动伸缩装置和探测主体,所述滑动伸缩装置固定卡接在连接套筒的内部,所述滑动伸缩装置的底端固定安装有固定槽板,所述固定槽板的上端滑动卡接有移动滑块,所述连接套筒的一端固定连接有第二保护弹簧,所述...
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