用于CE法规射频测试的装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种用于CE法规射频测试的装置，包括至少四个被测设备接口、信号源接口、无线访问接入点AP接口、频谱仪接口、综测仪接口、通用串行总线USB接口以及分别用于测试不同CE法规射频测试项目的至少六条射频链路。该装置通过同轴开关在多个接口之间搭建多条射频链路，并通过各同轴开关上不同端子的连接状态控制多条射频链路之间的切换调用，从而实现不同测试项目下在不同的信号路径间的切换，使得上述用于CE法规射频测试的装置能够适用于不同测试环境，并且，该装置无需在进行不同测试项目时手动搭建不同的链路，从而避免手动搭建链路带来的测试误差，从而提高CE法规射频测试的准确度和测试效率。

【技术实现步骤摘要】
用于CE法规射频测试的装置
本专利技术涉及射频电路
，特别是涉及一种用于CE法规射频测试的装置。
技术介绍
终端射频自动测试系统是指采用计算机控制，自动完成建立通话、链路切换、信号测量、数据计算处理并输出测试结果的自动化测试系统，主要应用于无线终端射频指标测试及集成测试系统搭建(包括国内外相关测试标准的射频指标测试及自动测试系统塔建)。现有技术的射频切换单元主要由国外少数厂家生产，生产周期长，而且受限程度大，价格昂贵，很难灵活的应用于不同的测试环境。现阶段的蓝牙/WIFICE法规测试主要使用先进的测试仪表，但是在对射频终端设备进行测试过程中，针对不同的测试项目，需要搭载相应的射频链路以满足测试要求，同时在完成一项射频测试过程中需要多条射频链路搭载。如果进行手动搭载测试链路，则会引入测量误差，影响测试结果的准确性。此外，现阶段终端切换单元功能单一，无法完成CE法规中所有测试项目的测试指标。
技术实现思路
鉴于上述问题，提出了本专利技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的用于CE法规射频测试的装置。依据本专利技术的一个方面，提供了一种用于CE法规射频测试的装置，包括至少四个被测设备接口、信号源接口、无线访问接入点AP接口、频谱仪接口、综测仪接口、通用串行总线USB接口以及分别用于测试不同CE法规射频测试项目的至少六条射频链路；各被测设备接口分别连接一个第一同轴开关，其中：各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、第二同轴开关、第三同轴开关、第四同轴开关、第六同轴开关、第一功分器连接至所述综测仪接口，形成第一射频链路；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第六同轴开关、第七同轴开关连接至所述频谱仪接口，形成第二射频链路，所述第一功分器的一个输出端口与所述第七同轴开关的一个端子连接；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、与各第一同轴开关分别连接的功率探头、USB集线器连接至所述USB接口，形成第三射频链路；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、第二功分器、第五同轴开关、检波模块、采集模块、所述USB集线器连接至所述USB接口，形成第四射频链路；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、耦合器连接至所述信号源接口，形成第五射频链路；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述耦合器连接至所述AP接口，形成第六射频链路；其中，所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第六同轴开关和所述第七同轴开关为单刀多掷开关，所述第一同轴开关、所述第六同轴开关和所述第七同轴开关各包括至少三个端子，所述第二同轴开关包括至少五个端子，所述第三同轴开关和所述第四同轴开关各包括至少两个端子，所述第五同轴开关为双刀双掷开关，所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第五同轴开关所述第六同轴开关和/或所述第七同轴开关上各端子的连接状态控制其所在的各射频链路连通或断开。可选地，所述第一同轴开关上的至少三个端子分别与所述功率探头、所述第二同轴开关、所述第二功分器连接；所述第二同轴开关上的至少五个端子中，有至少四个端子分别与各第一同轴开关连接，另一个端子与所述第五同轴开关连接。可选地，所述第四同轴开关和所述第六同轴开关间还连接有第一固定衰减器。可选地，所述耦合器和所述AP接口间还连接有第一衰减部件。可选地，所述第一衰减部件包括至少一个第二固定衰减器、第八同轴开关和第九同轴开关；其中：所述第八同轴开关和所述第九同轴开关各包括至少两个端子，所述第二固定衰减器的两端分别连接在所述第八同轴开关和所述第九同轴开关的一个端子上，所述第八同轴开关上的另一个端子和所述第九同轴开关上的另一个端子连接，所述第八同轴开关和所述第九同轴开关上各端子的连接状态控制所述第一衰减部件中是否使用所述第二固定衰减器。可选地，当所述AP接口包括至少两个时，所述第一衰减部件和所述AP接口间还连接有第三功分器，所述第三功分器的各输出端分别连接各AP接口。可选地，所述第一衰减部件和所述第三功分器间还连接有可调衰减器。可选地，当所述信号源接口至少包括第一信号源接口和第二信号源接口时，所述耦合器和所述信号源接口间还连接有第四功分器，所述第四功分器的一个输出端通过第十同轴开关连接至所述第一信号源接口，所述第十同轴开关为双刀双掷开关，所述第十同轴开关上的一个端子通过第五功分器连接至所述第七同轴开关，所述第五功分器的一个输出端与所述第十同轴开关连接，另一个输出端与所述第六同轴开关连接，所述第十同轴开关上各端子的连接状态控制所述第一信号源接口所在射频链路的连通或断开，所述第四功分器的另一个输出端与所述第二信号源接口连接。可选地，所述第四功分器和所述第十同轴开关间还连接有第二衰减部件。可选地，所述第五同轴开关和所述检波模块间还连接有第三固定衰减器。可选地，所述被测设备接口和所述频谱仪接口为K型接口，所述综测仪接口、所述AP接口和所述信号源接口为SMA型接口。采用本专利技术实施例的装置，通过同轴开关在被测设备接口、信号源接口、无线访问接入点AP接口、频谱仪接口、综测仪接口和通用串行总线USB接口之间搭建多条射频链路，并通过各同轴开关上不同端子的连接状态控制多条射频链路之间的切换调用，从而实现不同测试项目下在不同的信号路径间的切换，使得上述用于CE法规射频测试的装置能够适用于不同测试环境，并且，该装置无需在进行不同测试项目时手动搭建不同的链路，从而避免手动搭建链路带来的测试误差，从而提高CE法规射频测试的准确度和测试效率。进一步地，本专利技术实施例中，通过在上述装置中连接衰减器，避免了过大的信号(例如过热射频功率、直流瞬时、静电放电等)所导致的仪表过载甚至烧坏仪表的情况，从而使该装置在实现适用于不同测试环境的前提下，能够保证测试过程中各仪表的安全性以及测试的稳定性。进一步地，本专利技术实施例中，通过在上述装置中连接多个衰减器，使得该装置能够根据不同的测试项目和测试环境灵活选择所需用的衰减器，从而更好地保护各仪表的安全性，且更大限度地提高测试的稳定性。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。根据下文结合附图对本专利技术具体实施例的详细描述，本领域技术人员将会更加明了本专利技术的上述以及其他目的、优点和特征。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1是根据本专利技术一个实施例的用于CE法规射频测试的装置的示意性框图；图2是根据本专利技术一个实施例的用于CE法规射频测试的装置中第一衰减部件的示意性框图；图3是根据本专利技术一个实施例的用于CE法规射频测试的装置的示意性框图；图4是根据本专利技术一个实施例的用于CE法规射频测试的装置的电路图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于CE法规射频测试的装置，包括至少四个被测设备接口、信号源接口、无线访问接入点AP接口、频谱仪接口、综测仪接口、通用串行总线USB接口以及分别用于测试不同CE法规射频测试项目的至少六条射频链路；各被测设备接口分别连接一个第一同轴开关，其中：各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、第二同轴开关、第三同轴开关、第四同轴开关、第六同轴开关、第一功分器连接至所述综测仪接口，形成第一射频链路；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第六同轴开关、第七同轴开关连接至所述频谱仪接口，形成第二射频链路，所述第一功分器的一个输出端口与所述第七同轴开关的一个端子连接；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、与各第一同轴开关分别连接的功率探头、USB集线器连接至所述USB接口，形成第三射频链路；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、第二功分器、第五同轴开关、检波模块、采集模块、所述USB集线器连接至所述USB接口，形成第四射频链路；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、耦合器连接至所述信号源接口，形成第五射频链路；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述耦合器连接至所述AP接口，形成第六射频链路；其中，所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第六同轴开关和所述第七同轴开关为单刀多掷开关，所述第一同轴开关、所述第六同轴开关和所述第七同轴开关各包括至少三个端子，所述第二同轴开关包括至少五个端子，所述第三同轴开关和所述第四同轴开关各包括至少两个端子，所述第五同轴开关为双刀双掷开关，所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第五同轴开关所述第六同轴开关和/或所述第七同轴开关上各端子的连接状态控制其所在的各射频链路连通或断开。...

【技术特征摘要】
1.一种用于CE法规射频测试的装置，包括至少四个被测设备接口、信号源接口、无线访问接入点AP接口、频谱仪接口、综测仪接口、通用串行总线USB接口以及分别用于测试不同CE法规射频测试项目的至少六条射频链路；各被测设备接口分别连接一个第一同轴开关，其中：各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、第二同轴开关、第三同轴开关、第四同轴开关、第六同轴开关、第一功分器连接至所述综测仪接口，形成第一射频链路；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第六同轴开关、第七同轴开关连接至所述频谱仪接口，形成第二射频链路，所述第一功分器的一个输出端口与所述第七同轴开关的一个端子连接；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、与各第一同轴开关分别连接的功率探头、USB集线器连接至所述USB接口，形成第三射频链路；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、第二功分器、第五同轴开关、检波模块、采集模块、所述USB集线器连接至所述USB接口，形成第四射频链路；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、耦合器连接至所述信号源接口，形成第五射频链路；各被测设备接口依次通过所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述耦合器连接至所述AP接口，形成第六射频链路；其中，所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第六同轴开关和所述第七同轴开关为单刀多掷开关，所述第一同轴开关、所述第六同轴开关和所述第七同轴开关各包括至少三个端子，所述第二同轴开关包括至少五个端子，所述第三同轴开关和所述第四同轴开关各包括至少两个端子，所述第五同轴开关为双刀双掷开关，所述第一同轴开关、所述第二同轴开关、所述第三同轴开关、所述第四同轴开关、所述第五同轴开关所述第六同轴开关和/或所述第七同轴开关上各端子的连接状态控制其所在的各射频链路连通或断开。2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一同轴开关上的至少三个端子分别与所述功率探头、所述第二同轴开关、所述第二功分器连接；所述第二同轴开关上的至少五个端...

【专利技术属性】
技术研发人员：张子建，杨松，常山，姚红超，李宇强，
申请(专利权)人：国家无线电监测中心检测中心，天维讯达无线电设备检测北京有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京,11