一种OTA测试暗室制造技术

本发明专利技术提供了一种OTA测试暗室，包括：屏蔽壳体，屏蔽壳体限定暗室的内部空间；吸波材料，设置在屏蔽壳体的内墙面上；反射面，设置在暗室的内部空间的长度方向的第一端；平面波发生器，设置在内部空间的与第一端相对的第二端；转台，设置在内部空间内且位于反射面与平面波发生器之间，配置为安装待测对象；以及馈源，设置在内部空间内且位于反射面与转台之间。通过设置反射面和馈源形成紧缩场系统，设置平面波发生器形成平面波系统，并且可通过利用平面波发生器的单探头或替换的其他探头形成近场系统，平面波系统和紧缩场系统共用转台，从而实现了近场、紧缩场和平面波系统的三合一，在支持宽频和较大静区的前提下降低了暗室的成本和占用面积。

【技术实现步骤摘要】
一种OTA测试暗室
本专利技术涉及OTA测试
，特别是一种OTA测试暗室。
技术介绍
目前已知的OTA(Over-the-Air，空口)暗室测试场地，例如，用于5G基站的OTA测试的场地，主要有远场、近场、紧缩场、平面波合成器系统以及混响室等等，然而这些场地各自都有自己的优缺点。对于近场和混响室，它们只能用于进行TRP(TotalRadiatedPower，总辐射功率)类测试项的测试，无法准确测量EIRP(EffectiveIsotropicRadiatedPower，等效全向辐射功率)等方向性测试项。平面波合成器系统目前只能测试1.7-6GHz以内频率范围的设备，而且无法测量指标要求较高的杂散TRP类测试项。对于远场，则一般需要较大的测试场地，导致成本非常之高。例如对于频率2GHz、天线尺寸约1.2米的设备，需要长约20米以上的场地空间。并且，由于较大的空间路损，容易导致测量时信噪比较低，得到较差的测量结果。对于紧缩场，如果需要支持较低频率、以及大尺寸的测量设备，则需要更大的反射面，也同样存在场地大、成本高的问题。例如对于频率2GHz、天线尺寸约1.2米的设备，需要较大尺寸和重量的反射面(投影面积约2米×2米以上，重量约2吨)以及长约10米的测试场地，这也会导致相当高的建设成本，以及相当高的场地承重要求。因此，亟需一种可兼顾不同场地要求、成本较低、占用面积较小的OTA测试暗室。
技术实现思路
鉴于上述问题，提出了一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的OTA测试暗室。<br>本专利技术的一个目的在于提供一种集成了近场、紧缩场和平面波系统的OTA测试暗室，其在支持宽频和较大静区的前提下实现了低成本，且占用面积小。本专利技术的一个进一步的目的在于通过设置可移动吸波屏风，避免平面波系统和紧缩场系统在各自测量过程中相互干扰。特别地，根据本专利技术实施例的一方面，提供了一种OTA测试暗室，包括：屏蔽壳体，所述屏蔽壳体限定暗室的内部空间；吸波材料，设置在所述屏蔽壳体的内墙面上；反射面，设置在所述暗室的所述内部空间的长度方向的第一端；平面波发生器，设置在所述内部空间的与所述第一端相对的第二端；转台，设置在所述内部空间内且位于所述反射面与所述平面波发生器之间，配置为安装待测对象；以及馈源，设置在所述内部空间内且位于所述反射面与所述转台之间。可选地，所述OTA测试暗室还包括：可移动吸波屏风，配置为可在驱动元件的驱动下移动至所述反射面与所述馈源之间遮挡所述反射面，或移动至所述转台与所述平面波发生器之间遮挡所述平面波发生器。可选地，所述吸波屏风包括基板和固定在所述基板上的吸波材料。可选地，所述OTA测试暗室还包括：导轨，所述导轨设置在所述内部空间的顶部和/或底部，配置为允许所述吸波屏风沿所述导轨移动。可选地，所述OTA测试暗室还包括：连接件，由非金属材料制成，用于连接所述吸波屏风与所述导轨。可选地，所述转台包括：转台底座、设置在所述转台底座上具有朝上的开口的U形臂、以及设置在所述U形臂的所述开口处的滚转轴；所述转台底座配置为可带动所述U形臂沿Y轴和/或X轴平移，和/或带动所述U形臂绕所述转台底座的中心轴线转动；所述滚转轴配置为安装所述待测对象，且配置为可带动所述待测对象沿所述U形臂上下移动和/或绕所述滚转轴的中心轴线转动。可选地，所述平面波发生器包括天线探头阵列，所述天线探头阵列的尺寸为2m×2m×0.7m。可选地，所述暗室为长方体状，所述暗室的所述内部空间的净空间的尺寸至少为7.2m×3m×2.7m。可选地，所述转台的中心与所述平面波发生器之间的距离占所述净空间的长度的0.32-0.38；所述转台的中心与所述反射面的中心之间的距离占所述净空间的长度的0.39-0.45。可选地，所述屏蔽壳体的外尺寸至少为8m×4m×4m；并且所述暗室的所述内部空间的主反射墙上的吸波材料的高度不高于70cm，且除所述主反射墙外的其他墙面上的吸波材料的高度不高于50cm。本专利技术实施例提出的OTA测试暗室，通过设置反射面和馈源形成紧缩场系统，设置平面波发生器形成平面波系统，并且可通过利用平面波发生器的单探头或替换的其他探头形成近场系统，平面波系统和紧缩场系统共用转台，从而实现了近场、紧缩场和平面波系统的三合一。通过三合一的设计，在支持宽频和较大静区的前提下降低了暗室的成本和占用面积。进一步地，通过在OTA测试暗室内设置可移动吸波屏风，通过吸波屏风在使用平面波发生器进行测试时遮挡反射面，并在使用反射面进行测试时遮挡平面波发生器，避免了平面波系统和和紧缩场系统在各自测量过程中相互之间产生干扰，提高了测量结果的准确性。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。根据下文结合附图对本专利技术具体实施例的详细描述，本领域技术人员将会更加明了本专利技术的上述以及其他目的、优点和特征。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1示出了根据本专利技术一实施例的OTA测试暗室的示意性俯视图；图2为图1的OTA测试暗室的示意性侧视剖面图；图3示出了根据本专利技术一实施例的OTA测试暗室中的转台的立体结构示意图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供了一种OTA测试暗室。本专利技术的OTA测试暗室可用于5G基站设备的OTA测试。图1示出了根据本专利技术一实施例的OTA测试暗室100的示意性俯视图，图2为图1的OTA测试暗室100的示意性侧视剖面图。参见图1和图2所示，OTA测试暗室100至少可以包括：屏蔽壳体1，屏蔽壳体1限定暗室100的内部空间；吸波材料2，设置在屏蔽壳体1的内墙面上；反射面3，设置在暗室100的内部空间的长度方向的第一端；平面波发生器8，设置在内部空间的与第一端相对的第二端；转台6，设置在内部空间内且位于反射面3与平面波发生器8之间，配置为安装待测对象64；以及馈源5，设置在内部空间内且位于反射面3与转台6之间。转台6的中心与反射面3和平面波发生器8之间的距离可根据测试要求进行设置。馈源5配置为相对于反射面3可移动，例如，可在暗室100的底部设置导轨(不妨称为第一导轨，图中未示本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种OTA测试暗室，包括：/n屏蔽壳体，所述屏蔽壳体限定暗室的内部空间；/n吸波材料，设置在所述屏蔽壳体的内墙面上；/n反射面，设置在所述暗室的所述内部空间的长度方向的第一端；/n平面波发生器，设置在所述内部空间的与所述第一端相对的第二端；/n转台，设置在所述内部空间内且位于所述反射面与所述平面波发生器之间，配置为安装待测对象；以及/n馈源，设置在所述内部空间内且位于所述反射面与所述转台之间。/n

【技术特征摘要】
1.一种OTA测试暗室，包括：
屏蔽壳体，所述屏蔽壳体限定暗室的内部空间；
吸波材料，设置在所述屏蔽壳体的内墙面上；
反射面，设置在所述暗室的所述内部空间的长度方向的第一端；
平面波发生器，设置在所述内部空间的与所述第一端相对的第二端；
转台，设置在所述内部空间内且位于所述反射面与所述平面波发生器之间，配置为安装待测对象；以及
馈源，设置在所述内部空间内且位于所述反射面与所述转台之间。


2.根据权利要求1所述的OTA测试暗室，还包括：
可移动吸波屏风，配置为可在驱动元件的驱动下移动至所述反射面与所述馈源之间遮挡所述反射面，或移动至所述转台与所述平面波发生器之间遮挡所述平面波发生器。


3.根据权利要求2所述的OTA测试暗室，其中，所述吸波屏风包括基板和固定在所述基板上的吸波材料。


4.根据权利要求2所述的OTA测试暗室，还包括：
导轨，所述导轨设置在所述内部空间的顶部和/或底部，配置为允许所述吸波屏风沿所述导轨移动。


5.根据权利要求4所述的OTA测试暗室，还包括：
连接件，由非金属材料制成，用于连接所述吸波屏风与所述导轨。


6.根据权利要求1所述的OTA测试暗室，其中，所述转...

【专利技术属性】
技术研发人员：宫剑，张明远，黄宇，付靖，许巧春，刘晓勇，
申请(专利权)人：国家无线电监测中心检测中心，
类型：发明
国别省市：北京;11