一种5G毫米波终端的无用发射指标的测试方法技术

本发明专利技术提供了一种5G毫米波终端的无用发射指标的测试方法，包括：选择待测试的5G毫米波终端的目标波束方向图的确定方式和相应的指定OTA暗室；根据所选择的确定方式确定5G毫米波终端的目标波束方向图，其中，目标波束方向图为与5G毫米波终端的最大带内总辐射功率或目标带内总辐射功率对应的波束方向图，目标带内总辐射功率不小于在方向性OTA暗室中通过最大波束扫描锁定的最大等效全向辐射功率对应的波束方向图下测得的5G毫米波终端的带内总辐射功率；以及在指定OTA暗室中于目标波束方向图下测试5G毫米波终端的无用发射指标。测试更严谨，测量结果更加准确，测试场地可以不只限于方向性OTA暗室，提高了测试灵活度。提高了测试灵活度。提高了测试灵活度。

【技术实现步骤摘要】
一种5G毫米波终端的无用发射指标的测试方法


[0001]本专利技术涉及无线电测试
，特别是一种5G毫米波终端的无用发射指标的测试方法。

技术介绍

[0002]对于5G毫米波终端，由于已经不存在传导测量的天线连接口，所有的测试项均需要在OTA(Over
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the
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Air，空中下载)的环境下进行。目前在3GPP38521
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2 5G毫米波终端OTA射频一致性杂散测试项的测量步骤中，规定了在波束锁定模式(Beam Lock Mode)下进行测试，测试指标为TRP(Total Radiated Power，总辐射功率)。3GPP规定的上述测试方法，具体过程是先通过在方向性OTA暗室，例如紧缩场、远场中，进行一次最大波束(Beam Peak)扫描，然后根据扫描结果，选中最大EIRP(Effective Isotropic Radiated Power，等效全向辐射功率)的波束所对准的方向进行波束锁定，再基于此锁定的波束方向图(Beam Pattern)进行带内TRP及带外杂散等的测量。
[0003]然而，目前3GPP中所规定的测试方法存在以下问题：第一，该测试方法并不严谨，无法满足杂散测试应具备的测试条件。第二，测试场地受限，只能选择方向性OTA暗室，如紧缩场、远场等，且必须可以精确地测量EIRP，这导致系统造价提高，测试灵活度受限。第三，测试时间长。

技术实现思路

[0004]鉴于上述问题，提出了本专利技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的5G毫米波终端的无用发射指标的测试方法。
[0005]本专利技术的一个目的在于提供一种更严谨、更准确、测试灵活度高的5G毫米波终端的无用发射指标的测试方法。
[0006]本专利技术的一个进一步的目的在于基于最大带内TRP对应的波束方向图进行无用发射指标测试，可将测试场地扩展至除紧缩场、远场之外的近场、混响室等非方向性OTA暗室，从而提高了测试灵活度，降低了测试成本。
[0007]本专利技术的另一个进一步的目的在于利用方向性OTA暗室做前期波束扫描来确定目标波束方向图，并利用非方向性OTA暗室直接进行目标波束方向图锁定下无用发射指标的测量，可以大大节省测试时间和测试成本。
[0008]特别地，根据本专利技术实施例的一方面，提供了一种5G毫米波终端的无用发射指标的测试方法，包括：
[0009]选择待测试的5G毫米波终端的目标波束方向图的确定方式和相应的指定OTA暗室；
[0010]根据所选择的确定方式确定所述5G毫米波终端的目标波束方向图，其中，所述目标波束方向图为与所述5G毫米波终端的最大带内总辐射功率或目标带内总辐射功率对应的波束方向图，所述目标带内总辐射功率不小于在所述方向性OTA暗室中通过最大波束扫
描锁定的最大等效全向辐射功率对应的波束方向图下测得的所述5G毫米波终端的带内总辐射功率；以及
[0011]在所述指定OTA暗室中于所述目标波束方向图下测试所述5G毫米波终端的无用发射指标。
[0012]可选地，所述无用发射指标包括带外杂散总辐射功率、频谱发射模板和邻道泄漏功率比中的至少之一。
[0013]可选地，所选择的确定方式为根据预声明的所述5G毫米波终端的各天线模组的最大带内总辐射功率对应的第一波束方向图确定所述目标波束方向图；
[0014]所选择的所述指定OTA暗室为方向性OTA暗室或非方向性OTA暗室之任一；并且
[0015]所述目标波束方向图为与所述5G毫米波终端的最大带内总辐射功率对应的波束方向图。
[0016]可选地，所述根据所选择的确定方式确定所述5G毫米波终端的目标波束方向图的步骤包括：
[0017]获取预声明的所述5G毫米波终端的各天线模组的最大带内总辐射功率对应的第一波束方向图；
[0018]测量在锁定各所述第一波束方向图的条件下所述5G毫米波终端的带内总辐射功率；以及
[0019]选取所测得的所述5G毫米波终端的带内总辐射功率中的最大值所对应的波束方向图作为所述目标波束方向图。
[0020]可选地，所述预声明的所述5G毫米波终端的各天线模组的最大带内总辐射功率对应的第一波束方向图是通过遍历所述5G毫米波终端的各所述天线模组的不同波束方向图得到的。
[0021]可选地，所述在所述指定OTA暗室中于所述目标波束方向图下测试所述5G毫米波终端的无用发射指标的步骤包括：
[0022]以非信令模式控制所述5G毫米波终端在所述指定OTA暗室中发射所述目标波束方向图；以及
[0023]在所述目标波束方向图下测试所述5G毫米波终端的无用发射指标。
[0024]可选地，所选择的确定方式为基于在方向性OTA暗室中通过最大波束扫描锁定的最大等效全向辐射功率对应的波束方向图确定所述目标波束方向图；
[0025]所选择的所述指定OTA暗室为非方向性OTA暗室之任一；并且
[0026]所述目标波束方向图为与所述目标带内总辐射功率对应的波束方向图。
[0027]可选地，所述根据所选择的确定方式确定所述5G毫米波终端的目标波束方向图的步骤包括：
[0028]在方向性OTA暗室中通过最大波束扫描锁定最大等效全向辐射功率对应的波束方向图；
[0029]在所述方向性OTA暗室中锁定的所述波束方向图下测量所述5G毫米波终端的带内总辐射功率；
[0030]控制所述5G毫米波终端在所述指定OTA暗室中发射不小于所测得的5G毫米波终端的带内总辐射功率的带内总辐射功率作为所述目标带内总辐射功率；以及
[0031]以所述目标带内总辐射功率对应的波束方向图作为所述目标波束方向图。
[0032]可选地，所述方向性OTA暗室包括紧缩场或远场；且
[0033]所述非方向性OTA暗室包括混响室或近场。
[0034]可选地，所述指定OTA暗室为混响室。
[0035]本专利技术提出的5G毫米波终端的无用发射指标的测试方法中，克服了本领域的技术偏见，采用与5G毫米波终端的最大带内总辐射功率、或与不小于在方向性OTA暗室中通过最大波束扫描锁定的最大等效全向辐射功率对应的波束方向图下测得的5G毫米波终端的带内总辐射功率的目标带内总辐射功率对应的波束方向图作为目标波束方向图，并在目标波束方向图下测试5G毫米波终端的无用发射指标。由此，进行测试所用的目标波束方向图对应的带内总辐射功率可以保证为最大值或更接近最大值，使得测试更严谨，测量结果更加准确。同时，由于在指定OTA暗室中测试无用发射指标时无需扫描最大EIPR，因此，测试场地可以不只限于方向性OTA暗室，提高了测试灵活度。
[0036]进一步地，本专利技术提出的5G毫米波终端的无用发射指标的测试方法中，根据预声明的5G毫米波终端的各天线模组的最大带内总辐射功率对应的第一波束方向图确定目标波束方向图，并采用与5G毫米波终端的最大带内总辐射功率对应的目标波束方向图进行无用发射指标测量。由于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种5G毫米波终端的无用发射指标的测试方法，其特征在于，包括：选择待测试的5G毫米波终端的目标波束方向图的确定方式和相应的指定OTA暗室；根据所选择的确定方式确定所述5G毫米波终端的目标波束方向图，其中，所述目标波束方向图为与所述5G毫米波终端的最大带内总辐射功率或目标带内总辐射功率对应的波束方向图，所述目标带内总辐射功率不小于在所述方向性OTA暗室中通过最大波束扫描锁定的最大等效全向辐射功率对应的波束方向图下测得的所述5G毫米波终端的带内总辐射功率；以及在所述指定OTA暗室中于所述目标波束方向图下测试所述5G毫米波终端的无用发射指标。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述无用发射指标包括带外杂散总辐射功率、频谱发射模板和邻道泄漏功率比中的至少之一。3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所选择的确定方式为根据预声明的所述5G毫米波终端的各天线模组的最大带内总辐射功率对应的第一波束方向图确定所述目标波束方向图；所选择的所述指定OTA暗室为方向性OTA暗室或非方向性OTA暗室之任一；并且所述目标波束方向图为与所述5G毫米波终端的最大带内总辐射功率对应的波束方向图。4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述根据所选择的确定方式确定所述5G毫米波终端的目标波束方向图的步骤包括：获取预声明的所述5G毫米波终端的各天线模组的最大带内总辐射功率对应的第一波束方向图；测量在锁定各所述第一波束方向图的条件下所述5G毫米波终端的带内总辐射功率；以及选取所测得的所述5G毫米波终端的带内总辐射功率中的最大值所对应的波束方向图作为所述目标波束方向图。5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述预声明的所述5G毫米波终端...

【专利技术属性】
技术研发人员：宫剑，赵万峰，尹玉昂，许巧春，耿常健，
申请(专利权)人：国家无线电监测中心检测中心，
类型：发明
国别省市：