用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室制造技术

本发明专利技术提供了一种用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室，混响室包括屏蔽壳体、第一转台、一组或多组第一搅拌器、第一测量天线和第一挡板。屏蔽壳体限定出主屏蔽室。第一转台可转动地设置在主屏蔽室内，用于放置待测设备。一组或多组第一搅拌器设置在主屏蔽室内，用于改变主屏蔽室内的边界条件，每组第一搅拌器包括一个或多个第一搅拌器。第一测量天线设置在主屏蔽室内，用于检测第一频率范围的信号。第一挡板，设置在第一转台和第一测量天线之间，用于遮挡测量天线。本发明专利技术的混响室能够用于5G设备OTA通用杂散测量。OTA通用杂散测量。OTA通用杂散测量。

【技术实现步骤摘要】
用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室


[0001]本专利技术涉及通信测试
，特别是涉及一种用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室。

技术介绍

[0002]针对目前第三代合作伙伴计划(3rd Generation Partnership Project，简称3GPP)规定的1
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O和2
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O类型的5G基站和终端等设备的通用杂散测量，由于没有了传导接口，只能通过空中下载技术(Over The Air，简称OTA)测试的方法进行杂散测量。OTA通用杂散测量所需要测量的频段一般从30MHz开始，测量到几十GHz(后者一般取决于被测设备的主频率的5次谐波频率)。根据3GPP标准中的规定，对于5G设备的OTA通用杂散测试，应使用测量总辐射功率(Total Radiated Power，简称TRP)的测量方式。
[0003]通常用于进行TRP测量的传统方向性OTA暗室，如远场、紧缩场等，如果需要测量低至30MHz的测量频率，由于受到吸波材料性能、暗室空间、反射面大小和建设成本等因素限制，难以实际满足测量条件。即使是建造可以测量几百MHz的OTA方向性暗室，所需要的空间和成本也是很难承担的。所以，目前对于30MHz
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1GHz的OTA通用杂散测量，通常使用的并非TRP的测量方法，而是借用了3米法暗室的辐射杂散测试(Radiated Spurious Emission，简称RSE)方法，测量等效全向辐射功率(Effective Isotropic Radiated Power，简称EIRP)峰值来进行替代。替代的原则是如果EIRP峰值可以满足指标要求，则认为TRP也一定可以满足指标要求。这种替代的方法显然并不准确，无法反映设备的真实OTA杂散指标，并且限制了可允许的OTA杂散功率发射。因此，如何将测量的成本和空间限制在可接受的范围内，从而在应用层面直接测量5G设备的OTA通用杂散，是需要解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的一个目的是要提供一种混响室，并用于5G设备的OTA通用杂散测量。
[0005]本专利技术一个进一步的目的是要提供一种能够同时实现低频率至高频率的TRP测量的用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室。
[0006]特别地，本专利技术提供了一种用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室。混响室包括屏蔽壳体、第一转台、一组或多组第一搅拌器、第一测量天线和第一挡板。屏蔽壳体限定出主屏蔽室。第一转台可转动地设置在主屏蔽室内，用于放置待测设备。一组或多组第一搅拌器设置在主屏蔽室内，用于改变主屏蔽室内的边界条件，每组第一搅拌器包括一个或多个第一搅拌器。第一测量天线设置在主屏蔽室内，用于检测第一频率范围的信号。第一挡板，设置在第一转台和第一测量天线之间，用于遮挡第一测量天线。
[0007]可选地，用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室还包括内屏蔽墙、第二转台、多个第二搅拌器、第二测量天线和第二挡板。内屏蔽墙可移动地设置在主屏蔽室内，并限定出子屏蔽室。第二转台可转动地设置在子屏蔽室内，用于放置待测物。多个第二搅拌器可拆卸地设置在子屏蔽室内。第二测量天线可拆卸地设置在子屏蔽室内，用于检测第二频率范围的
信号。第二挡板设置在第二转台和第二测量天线之间，用于遮挡第二测量天线。
[0008]可选地，内屏蔽墙与部分屏蔽壳体限定出可开闭的子屏蔽室，使子屏蔽室限定于主屏蔽室的边角位置。
[0009]可选地，屏蔽壳体包括多个侧壁。第一搅拌器包括多组，并且多组第一搅拌器设置为靠近多个侧壁。
[0010]可选地，第一转台设置于主屏蔽室的中央位置。主屏蔽室的尺寸配置为：第一转台与至少一侧壁的距离大于或等于第一频率范围的最小值对应的波长的一半。
[0011]可选地，第一频率范围为大于或等于30MHz且小于或等于1GHz。
[0012]可选地，用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室配置成测试总辐射功率TRP，检测项目包括以下任意一项或多项：最大输出功率、频谱辐射模板、杂散发射。
[0013]可选地，第一搅拌器部分或全部可拆卸地设置在主屏蔽室内。
[0014]可选地，主屏蔽室的尺寸设置为：长度大于或等于11米，并且宽度大于或等于8米，并且高度大于或等于10米。
[0015]可选地，5G设备包括5G终端设备及5G基站设备。
[0016]本专利技术的用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室，包括屏蔽壳体、第一转台、一组或多组第一搅拌器、第一测量天线和第一挡板，并能够用于5G设备OTA通用杂散测量。
[0017]进一步地，本专利技术通过在混响室内设置尺寸小于主屏蔽室的子屏蔽室，同时实现了低频率至高频率的TRP测量。
[0018]根据下文结合附图对本专利技术具体实施例的详细描述，本领域技术人员将会更加明了本专利技术的上述以及其他目的、优点和特征。
附图说明
[0019]后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本专利技术的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的部件或部分。本领域技术人员应该理解，这些附图未必是按比例绘制的。附图中：
[0020]图1是根据本专利技术一个实施例的用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室的平面布置示意图；
[0021]图2是根据本专利技术一个实施例的用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室的第一搅拌器的示意性侧视图；
[0022]图3是一个现有的频谱仪的底噪水平示意图。
具体实施方式
[0023]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0024]首先，本领域技术人员应当理解的是，这些实施方式仅仅用于解释本申请的技术原理，并非旨在限制本申请的保护范围。本领域技术人员可以根据需要对其做出调整，以便适应具体的应用场合。
[0025]其次，需要说明的是，在本申请的描述中，术语“内”、“外”、“上”、“下”等指示的方
向或位置关系的术语是基于附图所示的方向或位置关系，这仅仅是为了便于描述，而不是指示或暗示装置或构件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
[0026]在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请公开的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
[0027]图1是根据本专利技术一个实施例的用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室1的平面布置示意图。
[0028]参考图1所示的实施例，本专利技术提供了一种用于5G设备OTA本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室，包括：屏蔽壳体，其限定出主屏蔽室；第一转台，可转动地设置在所述主屏蔽室内，用于放置待测设备；一组或多组第一搅拌器，设置在所述主屏蔽室内，用于改变所述主屏蔽室内的边界条件；每组所述第一搅拌器包括一个或多个所述第一搅拌器；第一测量天线，设置在所述主屏蔽室内，用于检测第一频率范围的信号；第一挡板，设置在所述第一转台和所述第一测量天线之间，用于遮挡所述第一测量天线。2.根据权利要求1所述的用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室，还包括：内屏蔽墙，可移动地设置在所述主屏蔽室内，并限定出子屏蔽室；第二转台，可转动地设置在所述子屏蔽室内，用于放置待测设备；多个第二搅拌器，可拆卸地设置在所述子屏蔽室内；第二测量天线，可拆卸地设置在所述子屏蔽室内，用于检测第二频率范围的信号；第二挡板，设置在所述第二转台和所述第二测量天线之间，用于遮挡所述第二测量天线。3.根据权利要求2所述的用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室，其中，所述内屏蔽墙与部分所述屏蔽壳体共同限定出可开闭的子屏蔽室，使所述子屏蔽室限定于所述主屏蔽室的边角位置。4.根据权利要求1所述的用于5G设备OTA通用杂散测量的混响室，其中，所述屏蔽壳体包括多个侧壁；所...

【专利技术属性】
技术研发人员：宫剑，张明远，许巧春，刘晓勇，陶洪波，
申请(专利权)人：国家无线电监测中心检测中心，
类型：发明
国别省市：