新型双探针小测试点测试机构制造技术

本实用新型专利技术公开并提供了一种结构简单、设计合理、提高测试稳定性和增强探针寿命的新型双探针小测试点测试机构。本实用新型专利技术包括针板模块和两根探针，两根所述探针适配设置在所述针板模块中，所述针板模块沿所述探针的长度方向的两侧分别设置有针顶孔组和针尾孔组，所述针顶孔组为两个相分离且供两根所述探针的针头分别穿过的针顶孔，所述针尾孔组为两个相分离针尾孔，两根所述探针的针尾分别穿过两个所述针尾孔，两个所述针顶孔的中心距小于两个所述针尾孔的中心距，两根所述探针呈八字型设置。本实用新型专利技术可用于电子元件的测试的技术领域。

A new type of double probe small test point testing mechanism

The utility model discloses and provides a new type of double probe small test point testing mechanism, which is simple in structure, reasonable in design, improving test stability and enhancing the service life of probes. The utility model comprises a needle plate module and two probes, the two probe adapter is arranged on the needle plate module, on both sides of the length direction of the needle plate module along the probe are respectively arranged on the needle top hole group and the needle tail hole group, the needle top hole set is two phase separation and for two pieces of the probe needles respectively through the needle top hole of the needle tail hole group two separate needle tail hole, the two probe needle tail respectively through the two end of the needle hole two of the needle top hole center distance is less than two of the needle the tail hole center distance of the two probes were eight type set. The utility model can be used in the technical field of the testing of electronic components.

【技术实现步骤摘要】
新型双探针小测试点测试机构
本技术涉及新型双探针小测试点测试机构。
技术介绍
现在电子元件越来越小，测试电子元件时面临着在有限空间内测试点小且多的问题。很多时候需要对电子元件进行高密度下针测试高敏感信号，为避免信号干扰，一个测试点通常需下两根探针，由于距离太近，为避免两根探针相互接触短路，会在探针的侧壁加绝缘层，绝缘层使用一段时间后容易脱落，大大缩减探针的寿命；由于距离太近，探针焊接在PCB测试板上非常困难，进而导致探针与PCB测试板无法保证充分接触，导致它们之间的接触阻抗一致性很差。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种结构简单、设计合理、提高测试稳定性和增强探针寿命的新型双探针小测试点测试机构。本技术所采用的技术方案是：本技术包括针板模块和两根探针，两根所述探针适配设置在所述针板模块中，所述针板模块沿所述探针的长度方向的两侧分别设置有针顶孔组和针尾孔组，所述针顶孔组为两个相分离且供两根所述探针的针头分别穿过的针顶孔，所述针尾孔组为两个相分离针尾孔，两根所述探针的针尾分别穿过两个所述针尾孔，两个所述针顶孔的中心距小于两个所述针尾孔的中心距，两根所述探针呈八字型设置。进一步地，所述针板模块的中部设置有两组柱形槽，两根所述探针分别适配设置在所述柱形槽中，所述针顶孔设置在所述柱形槽的上端的内侧，所述针尾孔设置在所述柱形槽的下端的外侧。进一步地，所述针板模块的下端设置有PCB测试板，所述PCB测试板上设置有供两根所述探针穿过的通孔，两根所述探针的针尾焊接设置在所述PCB测试板上。本技术的有益效果为：在进行高密度下针测试高敏感信号时下琴线针，两根探针在针板模块中走八字变形通道，两根探针的针尾部分自然分隔开，并留有足够的距离供后期焊接针尾，故而可以提高本技术的测试稳定性；探针侧壁不加绝缘层，两根探针分别在相应的针顶孔和针尾孔形成的密闭八字变形通道的引导下彼此不接触，不用担心两根探针之间接触短路问题，故而可以增强探针的寿命。附图说明图1是本技术的结构示意图。具体实施方式如图1所示，本技术的具体实施方式是：本技术包括针板模块1和两根探针2，所述针板模块1的下端为PCB测试板6；所述针板模块1为又若干针板组合而成，所述针板模块1的中部沿垂直方向设置有两组柱形槽5，两组所述柱形槽5平行设置；所述针板模块1的上下两侧分别设置有针顶孔组和针尾孔组，所述针顶孔组为两个相分离且供两根所述探针2的针头分别穿过的针顶孔3，所述针尾孔组为两个相分离针尾孔4，两根所述探针2的针尾分别穿过两个所述针尾孔4，两个所述针顶孔3的中心距小于两个所述针尾孔4的中心距；所述针顶孔3设置在所述柱形槽5的上端的内侧，所述针尾孔4设置在所述柱形槽5的下端的外侧。所述针板模块1中的所述柱形槽5配合所述针顶孔3和所述针尾孔4共同组成了八字变形通道，两根所述探针2分别顺势安装在所述八字变形通道中；所述PCB测试板6的中部设置有供两根所述探针2的针尾穿过的通孔，两根所述探针2的针尾焊接设置在所述PCB测试板6上。在进行高密度下针测试高敏感信号时下琴线针，琴线针更容易适配所述八字变形通道，使得两根所述探针2在所述针板模块1中呈八字型设置，两根所述探针2的针尾部分自然分隔开，使得针尾部分的间距远大于针头部分的测试点间距，故而可以留有足够的距离供针尾部分焊接所述PCB测试板6上，进而解决所述探针2与所述PCB测试板6无法保证充分接触，导致它们之间的接触阻抗一致性很差的问题，从而提高本技术的测试稳定性；另一方面，所述柱形槽5内设有足够的空间供所述探针2微量弯曲变形，同时，两根所述探针2分别在相应的所述针顶孔3和所述针尾孔4形成的密闭八字变形通道的引导下彼此不接触，不用担心两根探针之间接触短路问题，故而所述探针2的侧壁可以不加绝缘层，从而简化设计降低成本，同时可以增强所述探针2的寿命。本技术可用于电子元件的测试的
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【技术保护点】
一种新型双探针小测试点测试机构，它包括针板模块（1）和两根探针（2），两根所述探针（2）适配设置在所述针板模块（1）中，其特征在于：所述针板模块（1）沿所述探针（2）的长度方向的两侧分别设置有针顶孔组和针尾孔组，所述针顶孔组为两个相分离且供两根所述探针（2）的针头分别穿过的针顶孔（3），所述针尾孔组为两个相分离针尾孔（4），两根所述探针（2）的针尾分别穿过两个所述针尾孔（4），两个所述针顶孔（3）的中心距小于两个所述针尾孔（4）的中心距，两根所述探针（2）呈八字型设置。

【技术特征摘要】
1.一种新型双探针小测试点测试机构，它包括针板模块（1）和两根探针（2），两根所述探针（2）适配设置在所述针板模块（1）中，其特征在于：所述针板模块（1）沿所述探针（2）的长度方向的两侧分别设置有针顶孔组和针尾孔组，所述针顶孔组为两个相分离且供两根所述探针（2）的针头分别穿过的针顶孔（3），所述针尾孔组为两个相分离针尾孔（4），两根所述探针（2）的针尾分别穿过两个所述针尾孔（4），两个所述针顶孔（3）的中心距小于两个所述针尾孔（4）的中心距，两根所述探针（2）呈八字型设置。2.据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：王平美，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44