一种氮化物半导体发光二极管制造技术

技术编号:17564163 阅读:260 留言:0更新日期:2018-03-28 14:03
本发明专利技术公开了一种氮化物半导体发光二极管,包括:N型氮化物半导体,多量子阱,P型氮化物半导体;所述多量子阱具有V‑pits;所述V‑pits的侧壁具有V‑pits侧壁阻挡层,所述V‑pits侧壁阻挡层包括V‑pits侧壁电子阻挡层和V‑pits侧壁空穴阻挡层的组合,所述V‑pits侧壁电子阻挡层的势垒高度大于多量子阱无V‑pits区域上方的第一氮化物半导体的势垒高度,所述V‑pits侧壁空穴阻挡层的势垒高度大于多量子阱无V‑pits区域上方的第二氮化物半导体的势垒高度,所述V‑pits侧壁的电子阻挡层和空穴阻挡层形成高势垒,阻挡电子和空穴往V‑pits中心输运,防止被V‑pits底部的穿透位错吸收产生非辐射复合,提升电子和空穴在无V‑pits区域的沿c轴的纵向输运,提升电子和空穴的注入和复合效率。

A nitride semiconductor light emitting diode

The invention discloses a nitride semiconductor light emitting diode, including: N type nitride semiconductor, quantum well, P type nitride semiconductor; the multiple quantum wells with V pits; the side wall of the V pits V pits has side wall barrier layer, the V pits side wall barrier layer including V pits side wall electron blocking layer and V pits side wall hole blocking layer combination, the barrier height of the first nitride semiconductor V pits sidewall electron blocking layer is larger than the barrier height of MQW V pits region, the V pits sidewall hole blocking layer of the barrier height more than pits multiple quantum well V area at the top of the second nitride semiconductor barrier height, the side wall of the V pits electron blocking layer and hole blocking layer to form high barrier, blocking the electron and hole transport center pits to V, prevent V pits bottom The threading dislocation absorption of non radiative recombination, enhance the electron and hole in the vertical transport along the c axis of V pits regional transport, enhance the electron and hole injection and recombination efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种氮化物半导体发光二极管
本专利技术涉及半导体光电器件领域,特别是一种具有侧壁阻挡层的氮化物半导体发光二极管。
技术介绍
现今,氮化物半导体发光二极管(LED),因其较高的发光效率、波长连续可调、节能环保等优点,目前已广泛应用于室内白光照明、手机背光照明、电视背光照明、显示照明、路灯、景观灯等领域。采用量子结构的氮化物发光二极管通过局域量子限制作用,可提升有源区的电子和空穴波函数的交叠几率和复合效率,使量子效率再提升至一个新的台阶。由于III族氮化物一般在蓝宝石或SiC等异质衬底上进行异质外延,不同材料之间的晶格失配和热失配会产生位错或缺陷,且这些位错线会随着外延层的生长而向上延伸。特别是在生长InGaN/GaN量子阱过程,由于生长温度较低,层层之间的生长被破坏而在量子阱区域形成V-pits。由于V-pits的中心连接着位错线,若电子和空穴在注入量子阱时被V-pits俘获,则电子和空穴会在V-pits中心的位错线进行非辐射复合,降低复合效率。申请号为201710050629.0的中国专利公开了一种氮化镓基发光二极管,其有源层表面上具有V型缺陷和连接所述V型缺陷的平面区,所述能带扭曲本文档来自技高网...
一种氮化物半导体发光二极管

【技术保护点】
一种氮化物半导体发光二极管,包括:N型氮化物半导体,多量子阱,P型氮化物半导体;所述多量子阱具有V‑pits;所述V‑pits的侧壁具有V‑pits侧壁阻挡层。

【技术特征摘要】
1.一种氮化物半导体发光二极管,包括:N型氮化物半导体,多量子阱,P型氮化物半导体;所述多量子阱具有V-pits;所述V-pits的侧壁具有V-pits侧壁阻挡层。2.根据权利要求1所述的一种氮化物半导体发光二极管,其特征在于:所述V-pits侧壁阻挡层包括V-pits侧壁电子阻挡层和V-pits侧壁空穴阻挡层的组合。3.根据权利要求1或2所述的一种氮化物半导体发光二极管,其特征在于:所述多量子阱无V-pits区域的上方具有第一氮化物半导体和第二氮化物半导体。4.根据权利要求3所述的一种氮化物半导体发光二极管,其特征在于:所述V-pits侧壁电子阻挡层的势垒高度大于多量子阱无V-pits区域上方的第一氮化物半导体的势垒高度,所述V-pits侧壁空穴阻挡层的势垒高度大于多量子阱无V-pits区域上方的第二氮化物半导体的势垒高度。5.根据权利要求4所述的一种氮化物半导体发光二极管,其特征在于:所述V-pits侧壁电子阻挡层的势垒高度较多量子阱无V-pits区域上方的第一氮化物半导体的势垒高度至少高500meV,所述V-pits侧壁空穴阻挡层的势垒高度较量子阱无V-pits区域上方的第二氮化物半导体的势垒高度至少高500meV。6.根据权利要求2所述的一种氮化物半导体发光二极管,其特征在于:所述V-pits侧壁电子阻挡层的材料为AlxGa1-x或AlxGa1-x/GaN超晶格。7.根据权利要求2所述的一种氮化物半导体发光二极管,其特征在于:所述V-pits侧壁空穴阻挡层的材料为AlmGa1-m或AlmGa1-m/GaN超晶格。...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑锦坚周启伦钟志白陈松岩康俊勇杜伟华李志明邓和清臧雅姝伍明跃徐宸科林峰李水清
申请(专利权)人:厦门三安光电有限公司
类型:发明
国别省市:福建,35

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