一种半导体激光器老化测试装置制造方法及图纸

一种半导体激光器老化测试装置，包括：底座、N个凹槽、支撑板、电路板以及压合机构。由于电路板通过支撑板上的压合机构与COS芯片接触，因此减少了电路中的电阻值，确保电流稳定，使激光器更好的电接触。克服了传统弹簧针作为电流传导又作为按压激光器其产生较大的电阻，对电路造成分压，且由于接触不实可能造成电路不稳，损伤芯片的弊端。本半导体激光器老化测试装置操作简单、方便、老化效率高同时避免使用弹簧针。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体激光器老化测试装置
本技术涉及光电子
，具体涉及一种半导体激光器老化测试装置。
技术介绍
半导体激光器发展速度之快，应用范围之广，发展潜力之大是目前其他激光器无法比拟的，近年来，固定波长半导体激光器的使用数量居所有激光器之首，某些重要的应用领域过去常用的其他激光器，已逐渐为半导体激光器所取代。这是因为它有许多突出的优点：体积小、重量轻、供电功率小和转换效率高、能通过注入电流进行直接调制、可靠性高、工作寿命长、发射波长从可见到红外，覆盖范围广、价格日益降低。但是半导体激光器的老化，是生产厂家产品出厂之前必须经过的一道生产检验流程，经过老化筛选后的激光器才能确保其质量及使用寿命。传统的激光器老化筛选的方法很多；中国专利文件CN201010201586.X公开了提供一种适用于半导体激光器的老化夹具，其中包括：一主体，该主体为一印刷电路板，在该主体的中间开有一凹槽，该主体中间的凹槽是方形、条形或T字形，该主体上面的凹槽的两侧开有螺孔，该螺孔与盖板上的圆孔对应；一带有激光器的热沉，该热沉位于该凹槽内；其中还包括一盖板，该盖板用于封盖住该热沉，该盖板上面的两侧开有圆孔，用于通过螺丝将盖板固定在主体上。该专利只能单次装一只激光器，一个夹具老化一只激光器，老化效率低。中国专利文件CN200410085345.8公开了一种多路半导体激光器老化方法，将半导体激光二极管LD逐只装在多路LD测试及老化夹具上，该夹具与配备有电源及与中央分析、控制计算机联接的多路恒功率控制电路联接；计算机首先测试与夹具上某只LD匹配的恒功率电阻，再将多路恒功率控制电路中与该只LD匹配的功率控制电路单元与其联通，使该只LD在与实际工况相同或相近似的环境下进行老化，然后再对余下的待测LD逐个完成前述步骤。本专利技术利用的设备多为对现有设备的改造，使设备的电路更加简单、可靠性增加且操作方便，只需接上电源即可以进行老化，老化效率高，老化结果更准确、更实用，免调试且又恒功率工作，使得LD不会受到损害。该专利是多只激光器同时老化，但是是采用接调节的电流来适应激光器的工作，电路中会产生较大的电阻，需要配备多个系统来保证老化的稳定，设备比较麻烦，电路中钢的电阻比较大。
技术实现思路
本技术为了克服以上技术的不足，提供了一种减少电路中的电阻值，确保电流稳定的提高半导体激光器老化效果的半导体激光器老化测试装置。本技术克服其技术问题所采用的技术方案是：一种半导体激光器老化测试装置，包括：底座，其呈长条形结构；N个凹槽，其沿底座长度方向间隔设置于底座上端，所述凹槽与COS芯片的外形尺寸相配，凹槽的深度小于COS芯片的厚度，N为大于等于2的自然数；支撑板，通过连接机构水平固定于底座上端；电路板，其沿长度方向设置有N组与凹槽相配的电极组，每组电极组由两个电极组成；以及压合机构，其设置于支撑板上，所述压合机构将电路板压紧于凹槽中的各个COS芯片的上表面，使电路板上的每组电极组的两个电极分别与COS芯片的两极面接触。上述连接机构包括沿长度方向设置于底座上的若干螺孔以及沿长度方向设置于支撑板上的若干通孔，所述电路板上设置有若干与通孔位置相对应的安装孔，所述支撑板与电路板之间设置有橡胶垫Ⅰ，螺钉依次穿过通孔、橡胶垫Ⅰ及安装孔后旋合于对应的螺孔中。上述压合机构包括N个竖直旋合于支撑板上且与凹槽位置相对应的紧定螺钉以及橡胶垫Ⅱ，所述橡胶垫Ⅱ的下端面与电路板上端面面接触，所述紧定螺钉的下端与橡胶垫Ⅱ的上端相接触。为了提高电路板定位的准确性，还包括若干沿底座长度方向间隔设置于底座上的导杆，所述电路板上设置有若干与导杆相对应的导向孔，所述电路板通过各个导向孔滑动插装于对应的导杆上。为了防止短路，上述电路板的每组电极组的两个电极之间设置有缺口。进一步的，上述凹槽为矩形结构。本技术的有益效果是：由于电路板通过支撑板上的压合机构与COS芯片接触，因此减少了电路中的电阻值，确保电流稳定，使激光器更好的电接触。克服了传统弹簧针作为电流传导又作为按压激光器其产生较大的电阻，对电路造成分压，且由于接触不实可能造成电路不稳，损伤芯片的弊端。本半导体激光器老化测试装置操作简单、方便、老化效率高同时避免使用弹簧针。附图说明图1为本技术的底座结构示意图；图2为本技术的电路板结构示意图；图3为本技术的剖面结构示意图；图中，1.底座2.凹槽3.螺孔4.导杆5.电路板6.导向孔7.安装孔8.缺口9.电极10.COS芯片11.螺钉12.支撑板13.橡胶垫Ⅰ14.紧定螺钉15.橡胶垫Ⅱ。具体实施方式下面结合附图1、附图2、附图3对本技术做进一步说明。一种半导体激光器老化测试装置，包括：底座1，其呈长条形结构；N个凹槽2，其沿底座1长度方向间隔设置于底座1上端，凹槽2与COS芯片10的外形尺寸相配，凹槽2的深度小于COS芯片10的厚度，N为大于等于2的自然数；支撑板12，通过连接机构水平固定于底座1上端；电路板5，其沿长度方向设置有N组与凹槽2相配的电极组，每组电极组由两个电极9组成；以及压合机构，其设置于支撑板12上，压合机构将电路板5压紧于凹槽2中的各个COS芯片10的上表面，使电路板5上的每组电极组的两个电极9分别与COS芯片10的两极面接触。由于电路板5通过支撑板12上的压合机构与COS芯片10面接触，因此减少了电路中的电阻值，确保电流稳定，使激光器更好的电接触。克服了传统弹簧针作为电流传导又作为按压激光器其产生较大的电阻，对电路造成分压，且由于接触不实可能造成电路不稳，损伤芯片的弊端。本半导体激光器老化测试装置操作简单、方便、老化效率高同时避免使用弹簧针。实施例1：连接机构可以为如下结构，其包括沿长度方向设置于底座1上的若干螺孔3以及沿长度方向设置于支撑板12上的若干通孔，电路板5上设置有若干与通孔位置相对应的安装孔7，支撑板12与电路板5之间设置有橡胶垫Ⅰ13，螺钉11依次穿过通孔、橡胶垫Ⅰ13及安装孔7后旋合于对应的螺孔3中。橡胶垫Ⅰ13起到了缓冲作用，当螺钉11旋紧后，橡胶垫Ⅰ13发生弹性变形可以更好的将压力均匀传递至电路板5，防止电路板5压损。实施例2：压合机构包括N个竖直旋合于支撑板12上且与凹槽2位置相对应的紧定螺钉14以及橡胶垫Ⅱ15，橡胶垫Ⅱ15的下端面与电路板5上端面面接触，紧定螺钉14的下端与橡胶垫Ⅱ15的上端相接触。通过旋转紧定螺钉14可以调整对电路板15的下压力，由于橡胶垫Ⅱ15位于紧定螺钉14与电路板5之间，因此其起到缓冲作用，同时其弹性变形后与电路板5为面接触，因此有效增大了接触面积，确保电路板5上的各个电极9与COS芯片的电极紧密面接触。实施例3：还包括若干沿底座1长度方向间隔设置于底座1上的导杆4，电路板5上设置有若干与导杆4相对应的导向孔6，电路板5通过各个导向孔6滑动插装于对应的导杆4上。电路板5通过导杆4的导向作用可以提高电路板5上的各组电极组与对应的COS芯片之间的定位准确性，提高了使用的可靠性。实施例4：进一步的，电路板5的每组电极组的两个电极9之间设置有缺口8。缺口8可以防止邻近的两个电极9之间发生短路的情况。实施例5：优选的，凹槽2为矩形结构，其形状更好的匹配COS芯片。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体激光器老化测试装置，其特征在于，包括：底座（1），其呈长条形结构；N个凹槽（2），其沿底座（1）长度方向间隔设置于底座（1）上端，所述凹槽（2）与COS芯片（10）的外形尺寸相配，凹槽（2）的深度小于COS芯片（10）的厚度，N为大于等于2的自然数；支撑板（12），通过连接机构水平固定于底座（1）上端；电路板（5），其沿长度方向设置有N组与凹槽（2）相配的电极组，每组电极组由两个电极（9）组成；以及压合机构，其设置于支撑板（12）上，所述压合机构将电路板（5）压紧于凹槽（2）中的各个COS芯片（10）的上表面，使电路板（5）上的每组电极组的两个电极（9）分别与COS芯片（10）的两极面接触。

【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器老化测试装置，其特征在于，包括：底座（1），其呈长条形结构；N个凹槽（2），其沿底座（1）长度方向间隔设置于底座（1）上端，所述凹槽（2）与COS芯片（10）的外形尺寸相配，凹槽（2）的深度小于COS芯片（10）的厚度，N为大于等于2的自然数；支撑板（12），通过连接机构水平固定于底座（1）上端；电路板（5），其沿长度方向设置有N组与凹槽（2）相配的电极组，每组电极组由两个电极（9）组成；以及压合机构，其设置于支撑板（12）上，所述压合机构将电路板（5）压紧于凹槽（2）中的各个COS芯片（10）的上表面，使电路板（5）上的每组电极组的两个电极（9）分别与COS芯片（10）的两极面接触。2.根据权利要求1所述的半导体激光器老化测试装置，其特征在于：所述连接机构包括沿长度方向设置于底座（1）上的若干螺孔（3）以及沿长度方向设置于支撑板（12）上的若干通孔，所述电路板（5）上设置有若干与通孔位置相对应的安装孔（7），所述支撑板（12）与电路板（5）之间...

【专利技术属性】
技术研发人员：于果蕾，马崇彩，邵慧慧，刘成成，孙素娟，姚爽，郑兆河，肖成峰，
申请(专利权)人：山东华光光电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：山东,37