X射线荧光元素分布分析用分析盒制造技术

本实用新型专利技术公开了一种X射线荧光元素分布分析用分析盒，属于X射线分析领域，包括：外壳，其用于盛放圆形分析片和待测样品；圆形分析片，所述的圆形分析片的厚度大于圆形分析片对待测元素最短特征X射线吸收99.9％的厚度，数量为N；所述的圆形分析片上设置有一个通光孔，所述通光孔的直径为d；第i个圆形分析片上通光孔的圆心与距离圆形分析片圆心的距离Li与样品二维分布分析要求的最小点直径d0之间符合如下关系：Li＝(i‑1)d0。本实用新型专利技术的X射线荧光元素分布分析用分析盒可以分析样品表面化学成分的二维分布。

【技术实现步骤摘要】
X射线荧光元素分布分析用分析盒
本技术涉及X射线分析领域，具体涉及一种X射线荧光元素分布分析用分析盒。
技术介绍
XRF定量分析结果是样品分析面各化学成分含量的平均值，现代成分分析经常需要对不均匀的样品表面化学成分的二维分布进行测定，目前的XRF分析设备多数不具备元素分布分析功能。
技术实现思路
本技术提供一种X射线荧光元素分布分析用分析盒，可以使常规XRF分析设备可以分析样品表面化学成分的二维分布。本技术实施例提供一种X射线荧光元素分布分析用分析盒，包括：外壳，其用于盛放圆形分析片及待测定样品，外形及底部面罩与仪器自带的样品盒相同；其包括圆形筒和固定在其底部的面罩，所述的面罩为圆环，其用于遮挡待测样品上不允许X射线照射到的部分；圆形分析片，所述的圆形分析片的厚度大于圆形分析片对待测元素最短特征X射线吸收99.9％的厚度，数量为N；所述的圆形分析片上设置有一个通光孔，所述通光孔的直径为d，其中，d与样品二维分布分析要求的最小点直径d0、圆形分析片的厚度t、激发射线的入射角和荧光射线的出射角符合如下关系：第i个圆形分析片上通光孔的圆心与圆形分析片圆心的距离Li与样品二维分布分析要求的最小点直径本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X射线荧光元素分布分析用分析盒，其特征在于，包括：外壳，其用于盛放圆形分析片和待测定样品，外形及底部面罩与仪器自带的样品盒相同；其包括圆形筒和固定在其底部的面罩，所述的面罩为圆环，其用于遮挡待测样品上不允许X射线照射到的部分；圆形分析片，所述的圆形分析片的厚度大于圆形分析片对待测元素最短特征X射线吸收99.9％的厚度，数量为N；所述的圆形分析片上设置有一个通光孔，所述通光孔的直径为d，其中，d与样品二维分布分析要求的最小点直径d0、圆形分析片的厚度t、激发射线的入射角

【技术特征摘要】
1.一种X射线荧光元素分布分析用分析盒，其特征在于，包括：外壳，其用于盛放圆形分析片和待测定样品，外形及底部面罩与仪器自带的样品盒相同；其包括圆形筒和固定在其底部的面罩，所述的面罩为圆环，其用于遮挡待测样品上不允许X射线照射到的部分；圆形分析片，所述的圆形分析片的厚度大于圆形分析片对待测元素最短特征X射线吸收99.9％的厚度，数量为N；所述的圆形分析片上设置有一个通光孔，所述通光孔的直径为d，其中，d与样品二维分布分析要求的最小点直径d0、圆形分析片的厚度t、激发射线的入射角和荧光射线的出射角符合如下关系：第i个圆形分析片上通光孔的圆心与圆形分析片圆心的距离Li与样品二维分布分析要求的最小点直径d0之间符合如下关系：Li＝(i-...

【专利技术属性】
技术研发人员：马振珠，刘玉兵，韩蔚，邓赛文，卢娟娟，戴平，
申请(专利权)人：中国建材检验认证集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11