一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备及方法技术

本发明专利技术公开了一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备，包括探测器和X射线高压发生器，所述X射线高压发生器通过X射线管将样品产生的X射线通过窗口进入探测器中，探测器的输出端与冷却单元的输入端电性连接，冷却单元的输出端与前置放大器的输入端电性连接；所述前置放大器的输出端与脉冲处理器的输入端电性连接；所述脉冲处理器的输出端与主放大器的输入端电性连接，本发明专利技术X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备及方法；首先能量色散X射线荧光光谱法的检测时间非常短，从几秒到几十秒，若有准确结果，一般设定在30‑60秒即可；可做到全部饰品的检测，随检随走，无需等待，对饰品没有任何损伤。

【技术实现步骤摘要】
一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备及方法
本专利技术涉及锑元素含量检测
，具体为一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备及方法。
技术介绍
国家标准《GBT28480-2012饰品有害元素限量的规定》中规定锑元素的最大含量或溶出量不得超过60mg/Kg，而在国家标准《GBT28021-2011饰品有害元素的测定光谱法》中规定检测锑元素的方法是ICP(电感耦合等离子体发射光谱法)、AAS(原子吸收光谱法)。这2种方法均费时费力，做一个检测结果需要6个小时以上的时间。而质检机构每天检测的首饰数量至少上百件，用ICP或AAS检测，显然是不可能的。且ICP和AAS均为有损检测，检测时需要破坏取样，这对于佩戴的饰品来说，也是不可接受的。目前的广泛接受的办法是抽样检测，但是仍有弊端，原因有三：一，抽样检测覆盖面小，仍是概率事件，无法保证全部饰品的质量。二，检测时间长，无法做到随检随走，如果量大，有些检测结果需要等待几天才能拿到。三，有损检测，质检机构和商家需要承担这部分损失。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备及方法，已解决
技术介绍
中所提本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备，其特征在于：包括探测器和X射线高压发生器，所述X射线高压发生器通过X射线管将样品产生的X射线通过窗口进入探测器中，探测器的输出端与冷却单元的输入端电性连接，冷却单元的输出端与前置放大器的输入端电性连接；所述前置放大器的输出端与脉冲处理器的输入端电性连接；所述脉冲处理器的输出端与主放大器的输入端电性连接，且主放大器的输出端与多道分析器的输入端电性连接；所述多道分析器的输出端与智能缓冲器的输入端电性连接，且智能缓冲器的输出端与计算机的输入端电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备，其特征在于：包括探测器和X射线高压发生器，所述X射线高压发生器通过X射线管将样品产生的X射线通过窗口进入探测器中，探测器的输出端与冷却单元的输入端电性连接，冷却单元的输出端与前置放大器的输入端电性连接；所述前置放大器的输出端与脉冲处理器的输入端电性连接；所述脉冲处理器的输出端与主放大器的输入端电性连接，且主放大器的输出端与多道分析器的输入端电性连接；所述多道分析器的输出端与智能缓冲器的输入端电性连接，且智能缓冲器的输出端与计算机的输入端电性连接。2.一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的方法，其特征在于：具体包括如下步骤：首先需要制作银锑标准物质，计划制作纯银、银含锑Sb0.5％、银含锑Sb1％、银含锑Sb2％的4种标准物质；取99.99％的标准银锭，进行切割称重，使用千分之一天平分别称出9.950克、9.900克、9.800克(精度误差0.001克)；对应取纯度为99.99％的锑粉0.050克、0.100克、0.200克(...

【专利技术属性】
技术研发人员：张磊，
申请(专利权)人：天津市博智伟业科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：天津,12