基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法技术

本发明专利技术公开了一种基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法，包括以下步骤：步骤1：利用主量元素进行岩性定名；步骤2：通过微量元素确定元素标志层；步骤3：对标志层上、下的泥岩进行数据分析；步骤4：通过图版进行判别；该方法主要用于塔里木盆地库车坳陷古近系库姆格列木群的膏盐岩底部界面的卡取，降低膏盐岩层钻进的风险，保证钻井安全钻开油气层，实现地质目的具有举足轻重的作用，属于石油勘探的地质研究领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种录井技术的卡层方法，具体涉及一种基于X射线荧光元素录井技 术的盐底卡取方法。
技术介绍
目前，在塔里木盆地库车坳陷的大北-克深区块发育着巨厚的膏盐岩地层，该套 膏盐岩地层属于封闭性特别强的区域盖层，具有厚度大、分布广、岩性致密、突破压力高、地 层压力高的特点，将下部超高压气藏牢牢地封住。它与下覆地层（目的层）存在着相差巨 大的压力系统，这给钻井工程带来的非常大的施工风险。目前，针对库车坳陷山前井膏盐岩 地层钻井，主要采用饱和盐水钻井液或是油基钻井液钻进，并用技术套管封住膏盐岩层。如 果未钻穿盐层，提前下入套管，造成目的层小井眼钻进，难以达到钻探目的；而在钻穿膏盐 岩层后，又极易发生井漏和卡钻事故，因此卡准盐底界面成为确保钻井正常施工的关键。 在膏盐岩地层底部没有统一的标志层，随钻地层对比非常难，常规的方法是利用 综合录井技术获取的各项工程参数，如钻时、扭矩、钻压等资料，结合区域地层分析、邻井对 比、地层岩肩来进行膏盐岩地层界面卡取。但随着钻井工艺的发展，如PDC钻头的应用，钻 时快慢的差异变得不明显；由井底返出的岩肩也十分细碎，使得岩肩录井对岩性难以识别； 也不利于地层对比，因此卡取盐底界面仍然很困难 有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种基于X射线荧光 元素录井技术的盐底卡取方法，使其更具有产业上的利用价值。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术的目的是提供一种现场操作性较强，能够提高盐底 卡层成功率，保障膏盐岩地层安全快速钻进的基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方 法。 本专利技术提出的一种基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法，其特征在于： 包括以下步骤： 步骤1 :通过X射线荧光元素录井技术对泥岩中的化学元素进行分析，得到泥岩中 元素的含量，利用主量元素进行岩性定名； 步骤2 :通过微量元素确定元素标志层； 步骤3 :对标志层上、下的泥岩进行数据分析，将标志层上部的泥岩定义为盐间泥 岩，利用数据统计盐间泥岩各元素的平均含量，当标志层下部出现泥岩，且Mg含量升高，达 到盐间泥岩Mg的含量1. 5-2倍时，同时确定Cl元素的含量是否低于2%以下，如果符合，则 判断是符合盐底泥岩的特征； 步骤4 :通过图版进行判别，将元素数据落入三角图版和交汇图版中，通过落点的 区域来判断是否为盐底泥岩。 作为本专利技术的进一步改进，步骤1中所述化学元素分析为利用X射线元素录井技 术分析泥岩中 Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Ba、Ti、Mn、Fe、V、Ni、Sr、Zr 这 17 种元素的含 量。 作为本专利技术的进一步改进，步骤1中所述岩性定名是利用Si元素在砂岩中富集； AUFe等元素在泥岩中富集；Ca元素在灰岩中富集;Mg、Ca在白云岩中富集；Ca、S元素在石 膏岩中富集；Na、Cl元素在盐岩中富集这一规律进行区分定义的。 作为本专利技术的进一步改进，通过化学元素分析和岩性区分的结果建立岩性剖面 图。 作为本专利技术的进一步改进，步骤2中所述微量元素为Sr，所述元素标志层为Sr含 量大于5000ppm的泥岩层。 作为本专利技术的进一步改进，步骤3中所述三角图版为选取Mg、K、Ti三个元素的数 据通过归一化处理获取的数据再落入到图版中；所述交汇图版为选取K、Cl、Mg、Al四个元 素的数据，通过计算K/C1和Mg/Al的比值，并落入到交汇图版中。 借由上述方案，本专利技术至少具有以下优点：本专利技术利用X射线元素录井技术分析 出泥岩中各元素含量，进行岩性识别和盐底卡层，使现场操作性更强，同时提高了盐底卡层 的成功率，保障本区域的膏盐岩地层安全快速钻进。本专利技术主要用于塔里木盆地库车坳陷 古近系库姆格列木群的膏盐岩底部界面的卡取，降低膏盐岩层钻进的风险，保证钻井安全 钻开油气层，实现地质目的具有举足轻重的作用，属于石油勘探的地质研究领域。 上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段， 并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。【附图说明】 图1为本专利技术中的三角图版； 图2为本专利技术中的交汇图版； 图3为本专利技术实施例中克深XX井的岩性剖面图； 图4为本专利技术实施例中克深XX井标志层上、下的泥岩落入三角图版的示意图； 图5为本专利技术实施例中克深XX井标志层上、下的泥岩落入交汇图版的示意图；【具体实施方式】 下面结合附图和实施例，对本专利技术的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施 例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。 实施例：一种基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法，包括以下步骤： 步骤1 :通过X射线荧光元素录井技术对泥岩中的化学元素进行分析，利用X射线 元素录井技术分析泥岩中 Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Ba、Ti、Mn、Fe、V、Ni、Sr、Zr 这 17 种元素的含量，从而得到泥岩中各元素的含量，利用主量元素进行岩性定名；X射线荧光元 素录井技术是通过元素地球化学成分分析进行岩性识别。砂岩的主要成分是Si02,因此Si 元素在砂岩中富集;AU Fe等元素的含量在富含粘土矿物的泥岩中很高。纯石灰岩的化学 成分为CaC03, Ca元素在灰岩中富集；纯白云岩（白云石）的化学成分为MgCa (C03) 2, Mg、 Ca在白云岩中富集；石膏岩的主要化学成分为CaS04,石膏岩中富集Ca、S元素；盐岩的主 要化学成分为NaCl，盐岩中富集Na、Cl元素。利用这种富集规律，通过数据计算，可以准确 的区分岩性并建立岩性剖面图。 步骤2 :通过微量元素确定元素标志层；对克深区块多口井分析发现Sr含量会出 现一个异常高值段（Sr含量大于5000ppm)，而这段异常高值的出现预示着此段为最后一套 膏盐岩层，即接近盐底。Sr含量的异常高值是海侵的一个重要特征。库车盆地古近纪早期 发生过一次较明显的海侵，气候持续的干燥炎热，Sr通过生物化学作用沉淀下来。Sr对沉 积环境具有重要的指示意义，我们利用Sr含量的异常高值段作为标志层，在地层对比中也 起着至关重要的作用。 步骤3 :对标志层上当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1：通过X射线荧光元素录井技术对泥岩中的化学元素进行分析，得到泥岩中元素的含量，利用主量元素进行岩性定名；步骤2：通过微量元素确定元素标志层；步骤3：对标志层上、下的泥岩进行数据分析，将标志层上部的泥岩定义为盐间泥岩，利用数据统计盐间泥岩各元素的平均含量，当标志层下部出现泥岩，且Mg含量升高，达到盐间泥岩Mg的含量1.5‑2倍时，同时确定Cl元素的含量是否低于2％以下，如果符合，则判断是符合盐底泥岩的特征；步骤4：通过图版进行判别，将元素数据落入三角图版和交汇图版中，通过落点的区域来判断是否为盐底泥岩。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：冯国民，何华，姬月凤，魏超峰，李小龙，
申请(专利权)人：北京奥意尔工程技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11