指纹图谱相似度计算方法、装置和样品质量评价系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种指纹图谱相似度计算方法、装置和样品质量评价系统，其特征在于，所述方法包括：建立标准参考指纹图谱；获取待测样品指纹图谱；计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的相关系数R1；计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的差异相似系数R2；基于所述相关系数和差异相似系数计算综合相似度。本发明专利技术的计算方法能够从样品的化学组成及含量差异两个方面反映样品的相似程度，并且适用于不同类型复杂样品体系的需要。

【技术实现步骤摘要】
指纹图谱相似度计算方法、装置和样品质量评价系统
本专利技术属于化学物品质量评价领域，尤其涉及一种指纹图谱相似度计算方法、装置和样品质量评价系统。
技术介绍
指纹图谱是指某些复杂物质体系，如中药，某种生物体或组织或细胞的DNA，蛋白质经过适当处理后，采用一定的分析手段，得到的能够表征其化学物质特征的色谱图或光谱图。指纹图谱在中药质量控制及评价领域应用广泛，主要用于评价中药材及其中药制剂半成品质量的真实性、优良性和稳定性。指纹图谱主要针对多组分复杂物质分析体系，基于现代仪器分析技术和检测方法，测定得到的图谱能够提供样品丰富的特征信息，能够较全面反映样品的化学组成及含量，进而对样品的质量进行整体性描述和评价。测定指纹图谱的分析技术有很多，可以概分为色谱类和光谱类两大类方法。色谱类方法中高效液相色谱法(HPLC)是常用的首选方法，而光谱类方法中红外光谱法(IR)应用较多。在将指纹图谱用于样品的质量评价过程中，一个关键环节是计算待测样品和标准参考样品的相似度。相似度结果是指纹图谱用于样品质量评价的重要依据。不同的相似度计算方法从不同的角度评价样品指纹图谱的相似性，因此结果往往会不同。指纹图谱相本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：建立标准参考指纹图谱；步骤2：获取待测样品指纹图谱；步骤3：计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的相关系数R1；步骤4：计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的差异相似系数R2；步骤5：基于所述相关系数和差异相似系数计算综合相似度：

【技术特征摘要】
1.一种指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：建立标准参考指纹图谱；步骤2：获取待测样品指纹图谱；步骤3：计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的相关系数R1；步骤4：计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的差异相似系数R2；步骤5：基于所述相关系数和差异相似系数计算综合相似度：其中δ为权重因子，其值范围是0≤δ≤1；u和v分别为R1和R2的灵敏度因子，取值范围分别为0≤u≤+∞与0≤v≤+∞。2.如权利要求1所述的指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，所述相关系数计算公式如下：其中，xi和si分别表示待测样品和标准参考样品指纹图谱的第i个色谱峰的峰面积、峰高或图谱的强度；n表示色谱峰的个数或波长点数；和分别为待测样品和标准参考样品指纹图谱的平均峰面积、平均峰高或图谱的平均强度。3.如权利要求1所述的指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，所述差异相似系数计算公式如下：其中，xi和si分别表示待测样品和标准参考样品指纹图谱的第i个色谱峰的峰面积、峰高或图谱的强度；n表示色谱峰的个数或波长点数；和分别为待测样品和标准参考样品指纹图谱的平均峰面积、平均峰高或图谱的平均强度。4.如权利要求1所述的指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，δ，u和v的默认值为0.5,1和1。5.如权利要求1所述的指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，所述标准参考指纹图谱是选定标准参考样品的指纹图谱，或根据按照有关技术要求由测定的多个批次样品的指纹图谱生成。6.如权利要求1所述的指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，所述计算方法能够用于样品的质量检测和相同或不同类型样品之间的质量差异检测。7.如权利要求6所述的指纹图谱相似度计算方法，其特征在于，其中，通过调整参数δ，u和v，能够增加不同类型样品之间相似度的差异性。8.一种用于指纹图谱相似度计算的装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤，包括：步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜红，聂磊，姜文文，刘肖雁，苏美，田进国，
申请(专利权)人：山东大学，
类型：发明
国别省市：山东,37